本技术涉及晶圆加工,具体为一种防脱落的晶圆储存装置。
背景技术:
1、晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种形成圆柱形的单晶硅,硅晶棒经过切片后形成晶圆片,对晶圆片检测前,需要将晶圆片放置在晶圆储存仓中,晶圆储存仓的正面设置有出仓口,晶圆储存仓的侧壁上自上而下设置有多个固定槽,多个晶圆片分别设置在各固定槽中,晶圆储存仓通过基座固定在晶圆检测设备上,通过机械手从晶圆储存仓中拿取晶圆片进行检测,由于晶圆片在加工过程中经过了打磨抛光处理,其表面非常光滑,因此当晶圆储存仓受到外力导致水平状态失衡,则非常容易自晶圆储存仓的出仓口脱落造成晶圆片损坏。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的问题,本实用新型提供一种防脱落的晶圆储存装置,通过阻挡装置对晶圆储存仓的出仓口进行封闭或打开,解决了晶圆片脱落的问题。
2、本实用新型是通过以下技术方案来实现:
3、一种防脱落的晶圆储存装置,包括晶圆储存组件以及与晶圆储存组件连接的阻挡装置;
4、所述晶圆储存组件包括基座以及设置在其上的晶圆储存仓,晶圆储存仓中自下而上设置有多个晶圆片,所述晶圆储存仓的出仓口设置有光电传感器;阻挡装置包括驱动装置以及与其连接的挡板,当光电传感器的光路被晶圆片阻挡,驱动装置用于驱动挡板转动对晶圆储存仓的出仓口关闭。
5、优选的,所述基座的顶面设置有固定孔,并位于晶圆储存仓的出仓口,所述光电传感器嵌置在固定孔中,光电传感器的光束垂直向上发射。
6、优选的,所述光电传感器为反射式光电传感器。
7、优选的,所述挡板的长度大于晶圆储存仓的垂直高度。
8、优选的,所述驱动装置上设置有定位检测装置,用于对晶圆储存仓的出仓口处于打开状态下的挡板位置进行检测。
9、优选的,所述检测装置包括u型光电感应开关和开关板,开关板套设在驱动装置的输出轴上并与挡板固定连接,开关板的边缘设置有信号槽,u型光电感应开关固定在基座上,并且开关板的边缘位于u型光电感应开关的u型槽中。
10、优选的,所述开关板上还设置有调节槽,用于调节信号槽与u型光电感应开关的u型槽位置。
11、优选的,所述调节槽为弧形槽。
12、优选的,所述基座包括基板以及设置在其底部的多个支撑柱。
13、优选的,所述基板和晶圆储存仓之间设置有定位机构。
14、与现有技术相比,本实用新型具有以下有益的技术效果:
15、本实用新型提供的一种防脱落的晶圆储存装置,包括设置在基座上的光线传感器,并位于晶圆储存仓的出仓口,以及设置在基座上的驱动装置,驱动装置连接有挡板,光线传感器对晶圆储存仓的出仓口发射检测光束,当出现晶圆片意外滑出出仓口,对光线传感器的光束形成阻挡,光线传感器输出信号,控制器启动驱动装置,使挡板对晶圆储存仓的出仓口封闭,避免晶圆片完全自晶圆储存仓滑落,因此能够有效降低晶圆的生产成本。
1.一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,包括晶圆储存组件以及与晶圆储存组件连接的阻挡装置(30);
2.根据权利要求1所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述基座的顶面设置有固定孔(13),并位于晶圆储存仓(1)的出仓口,所述光电传感器嵌置在固定孔中,光电传感器的光束垂直向上发射。
3.根据权利要求1所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述光电传感器为反射式光电传感器。
4.根据权利要求1所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述挡板的长度大于晶圆储存仓(1)的垂直高度。
5.根据权利要求1所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述驱动装置上设置有定位检测装置,用于对晶圆储存仓的出仓口处于打开状态下的挡板位置进行检测。
6.根据权利要求5所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述检测装置包括u型光电感应开关(37)和开关板(34),开关板(34)套设在驱动装置的输出轴上并与挡板固定连接,开关板(34)的边缘设置有信号槽(36),u型光电感应开关(37)固定在基座上,并且开关板(34)的边缘位于u型光电感应开关(37)的u型槽中。
7.根据权利要求6所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述开关板(34)上还设置有调节槽,用于调节信号槽与u型光电感应开关(37)的u型槽位置。
8.根据权利要求7所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述调节槽为弧形槽。
9.根据权利要求1所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述基座包括基板(3)以及设置在其底部的多个支撑柱(4)。
10.根据权利要求9所述的一种防脱落的晶圆储存装置,其特征在于,所述基板和晶圆储存仓之间设置有定位机构。