一种发光二极管外延片及制备方法与流程

文档序号:37360536发布日期:2024-03-22 10:14阅读:9来源:国知局
一种发光二极管外延片及制备方法与流程

本发明涉及光电,具体涉及一种发光二极管外延片及制备方法。


背景技术:

1、led是冷光源,光效高,工作电压低,耗电量小,体积小,可平面封装;光源本身不含汞、铅等有害物质,无红外和紫外污染,不会在生产和使用中产生对外界的污染。因此,led具有节能、环保、寿命长等特点。

2、量子阱层作为led等发光器件的核心结构,具有较宽的光谱范围和较高的发光效率,led多采用在n型gan上生长多个个周期的ingan/algan有源层,以此提高量子局域效应,提高电子和空穴波函数交叠程度,从而提高 led 器件发光效率。

3、然而,由于ingan层与algan存在较大的晶格失配产生极化效应,极化效应会在量子阱层中产生电场,电场使得电子和空穴空间分离,减少了电子波函数与空穴波函数的重叠,降低辐射复合效率。另外,电子有效质量小于空穴,电子在半导体中的移动速度远高于空穴,因此电子与空穴在量子阱发生复合通常在后面几个量子阱,前几个量子阱不参与发光,造成电子泄露,与p层的空穴发生非辐射复合,导致发光二极管发光效率下降。


技术实现思路

1、基于此,本发明的目的是提供一种发光二极管外延片及制备方法,以解决现有技术中存在的问题。

2、本发明第一方面提供一种发光二极管外延片,包括衬底,以及依次沉积在所述衬底上的缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、有源层、电子阻挡层和p型gan层;

3、其中,所述有源层包括m个周期结构,所述周期结构包括交替沉积在所述n型gan层上的量子阱层和量子垒层,所述量子阱层包括依次沉积的第一子层bmga1-mn层、第二子层bxinyga1-x-yn层、第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层、第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层,m个所述周期结构中第二子层bxinyga1-x-yn层中in组分的含量沿外延层的生长方向逐渐增大。

4、本发明的有益效果是:本发明提供一种发光二极管外延片,有源层包括m个周期结构,生长多周期结构的有源层,可以有效的提高量子限制效应,电子和空穴被局域在多量子阱中,从而提高电子和空穴波函数的交叠,进而提升辐射复合速率;进一步的,周期结构包括交替沉积在n型gan层上的量子阱层和量子垒层,量子阱层包括依次沉积的第一子层bmga1-mn层、第二子层bxinyga1-x-yn层、第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层、第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层,m个周期结构中第二子层bxinyga1-x-yn层中in组分的含量沿外延层的生长方向逐渐增大;第一子层bmga1-mn层作为沉积第二子层bxinyga1-x-yn层的准备层,提高了第二子层bxinyga1-x-yn层的沉积质量,减少缺陷的非辐射复合。不同周期结构量子阱层中的第二子层bxinyga1-x-yn层的in组分梯度变化,最终使得不同周期结构中量子阱层的禁带宽度梯度变化,减少量子阱层的极化效应;第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层中的in组分逐渐降低,可以减少第二子层bxinyga1-x-yn层与第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层的晶格失配,降低量子阱层的极化效应,而掺杂的mg则可以改善载流子在量子阱中发生辐射复合空穴不足的问题。第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层既可以减少量子阱层中的in扩散至量子垒层造成发光效率下降,又可以实现晶格匹配并消除量子阱层中的压电极化效应。本发明提供的发光二极管外延片,降低了量子阱层的极化效应,提高了量子阱层的晶体质量和载流子在量子阱辐射复合效率,进而提高发光效率,适合大范围推广。

5、优选地,所述有源层中m的取值范围为2-20。

6、优选地,所述第一子层bmga1-mn层的厚度为0.5 nm ~5 nm,m的取值为0.05~0.1,沿外延层的生长方向m的取值逐渐减小。

7、优选地,所述第二子层bxinyga1-x-yn层的厚度为1 nm ~10 nm,y的取值0.01~0.5,x的取值为0.01~0.05。

8、优选地,所述第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层的厚度为0.5 nm~5 nm,z的取值为0.01~0.5,沿外延层的生长方向z的取值逐渐减小。

9、优选地,所述第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层的厚度为0.5 nm ~5 nm,k的取值为0.01~0.1,j的取值为0.01~0.2。

10、本发明另一方面还提供一种制备上述发光二极管外延片的制备方法,包括以下步骤:

11、提供一衬底;

12、在所述衬底上依次沉积缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、有源层、电子阻挡层和p型gan层;

13、其中,所述有源层包括m个周期结构,所述周期结构包括交替沉积在所述n型gan层上的量子阱层和量子垒层,所述量子阱层包括依次沉积的第一子层bmga1-mn层、第二子层bxinyga1-x-yn层、第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层、第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层,m个所述周期结构中第二子层bxinyga1-x-yn层中in组分的含量沿外延层的生长方向逐渐增大。

14、优选地,沿所述外延层的生长方向,生长后一个所述周期结构与生长前一个所述周期结构的tmin流量之比为1.01-1.1。

15、优选地,所述有源层的沉积步骤包括:

16、在所述n型gan层上沉积所述第一子层bmga1-mn层,沉积温度由t1逐渐下降至t2;

17、在所述第一子层bmga1-mn层上沉积所述第二子层bxinyga1-x-yn层,沉积温度为t2;

18、在所述第二子层bxinyga1-x-yn层上沉积所述第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层,沉积温度为t2逐渐上升至t3;

19、在所述第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层上沉积所述第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层,沉积温度为t3;

20、在所述第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层沉积量子垒层,得到第一周期结构;

21、在所述第一周期结构上重复执行若干次所述沉积操作,以的所述n型gan层上沉积m个周期结构,得到所述有源层。

22、优选地,所述量子阱层的生长气氛为n2/nh3的混合气,压力为50 torr ~300 torr。

23、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。



技术特征:

1.一种发光二极管外延片,其特征在于,包括衬底,以及依次沉积在所述衬底上的缓冲层、非掺杂gan层、n型gan层、有源层、电子阻挡层和p型gan层;

2.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述有源层中m的取值范围为2-20。

3.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述第一子层bmga1-mn层的厚度为0.5 nm ~5 nm,m的取值为0.05~0.1,沿外延层的生长方向m的取值逐渐减小。

4. 根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述第二子层bxinyga1-x-yn层的厚度为1 nm ~10 nm,y的取值0.01~0.5,x的取值为0.01~0.05。

5. 根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述第三子层mg掺in渐变inzga1-zn层的厚度为0.5 nm~5 nm,z的取值为0.01~0.5,沿外延层的生长方向z的取值逐渐减小。

6. 根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述第四子层aljinkga1-j-kn盖帽层的厚度为0.5 nm ~5 nm,k的取值为0.01~0.1,j的取值为0.01~0.2。

7.一种如权利要求1~6任意一项所述的发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:

8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,沿所述外延层的生长方向,生长后一个所述周期结构与生长前一个所述周期结构的tmin流量之比为1.01-1.1。

9.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述有源层的沉积步骤包括:

10.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述量子阱层的生长气氛为n2/nh3的混合气,压力为50 torr ~300 torr。


技术总结
本发明提供了一种发光二极管外延片及制备方法,发光二极管外延片包括衬底,以及依次沉积在衬底上的缓冲层、非掺杂GaN层、n型GaN层、有源层、电子阻挡层和P型GaN层;其中,有源层包括M个周期结构,周期结构包括交替沉积在n型GaN层上的量子阱层和量子垒层,量子阱层包括依次沉积的第一子层B<subgt;m</subgt;Ga<subgt;1‑m</subgt;N层、第二子层B<subgt;x</subgt;In<subgt;y</subgt;Ga<subgt;1‑x‑y</subgt;N层、第三子层Mg掺In渐变In<subgt;z</subgt;Ga<subgt;1‑z</subgt;N层、第四子层Al<subgt;j</subgt;In<subgt;k</subgt;Ga<subgt;1‑j‑k</subgt;N盖帽层,M个周期结构中第二子层B<subgt;x</subgt;In<subgt;y</subgt;Ga<subgt;1‑x‑y</subgt;N层中In组分的含量沿外延层的生长方向逐渐增大。本发明提供的发光二极管外延片,降低了量子阱层的极化效应,提高了量子阱层的晶体质量和载流子在量子阱辐射复合效率,进而提高发光效率。

技术研发人员:程龙,郑文杰,高虹,刘春杨,胡加辉,金从龙
受保护的技术使用者:江西兆驰半导体有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/3/21
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