一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置

本发明涉及半导体电子器件，尤其涉及一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置。

背景技术：

1、在半导体电子器件生产加工中，需要对加工好半导体电子器件进行测试，但传统的测试装置在检测时，电子器件不易固定，导致测试结果不准。

2、在现有技术中，可通过旋转转杆，带动丝杆旋转，当丝杆旋转时可带动螺纹套旋转，因为两组螺纹套内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板与第二夹持板相互靠近，使装置对电子器件进行夹持，方便工作人员进行检测。

3、但在前述的现有技术中，需要工作人员手动旋转转杆进行固定，无法自动进行固定测试，测试效率低，增加了工作人员劳动强度。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，解决了现有技术中需要工作人员手动旋转转杆进行固定，无法自动进行固定测试，测试效率低，增加了工作人员劳动强度的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供了一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括底座和测试组件；

3、所述测试组件包括多个夹持单元、第一气缸、升降筒、检测单元和两个皮带输送机，多个所述夹持单元依次设置于所述底座的上方，所述第一气缸与所述底座固定连接，并位于所述底座的内部，所述第一气缸的输出端与所述升降筒固定连接，所述检测单元设置于所述底座的一侧，两个所述皮带输送机对称设置于所述底座的两端；

4、所述夹持单元包括固定块、弹簧、夹持块、伸缩杆、连接杆和拨动杆，所述固定块与所述底座固定连接，并位于所述底座的上方，所述弹簧的两端分别与所述固定块和所述夹持块活动连接，所述伸缩杆的两端分别与所述固定块和所述夹持块固定连接，所述弹簧套设在所述伸缩杆的外部，所述底座具有凹槽，所述连接杆的一端与所述夹持块固定连接，并位于所述夹持块的下方，所述连接杆的另一端贯穿所述凹槽，并与所述拨动杆固定连接，所述拨动杆远离所述连接杆的一端位于所述升降筒的内部。

5、其中，所述测试组件还包括控制屏，所述控制屏设置于所述检测单元上。

6、其中，所述夹持单元还包括压力传感器和夹持垫，所述压力传感器与所述夹持板固定连接，并位于所述夹持板远离所述伸缩杆的一侧，所述夹持垫与所述压力传感器固定连接，并位于所述压力传感器远离所述夹持块的一侧。

7、其中，所述检测单元包括支架、第二气缸和检测器，所述支架与所述底座固定连接，并位于所述底座的一侧，所述第二气缸与所述支架固定连接，并位于所述支架的上方，所述第二气缸的输出端贯穿所述支架，并与所述检测器固定连接，所述控制屏与所述支架固定连接，并位于所述支架的一侧。

8、其中，所述具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置还包括安放取料组件，所述安放取料组件设置于所述底座远离所述支架的一侧。

9、其中，所述安放取料组件包括l形板、横向滑动单元、第三气缸、支撑块、第四气缸、固定板、u形块、真空抽气机和吸盘，所述l形板与所述底座固定连接，并位于所述底座远离所述支架的一侧，所述横向滑动单元设置于所述l形板上，所述第三气缸设置于所述横向滑动单元上，所述支撑块与所述第三气缸的输出端固定连接，所述第四气缸与所述支撑块固定连接，并位于所述支撑块的上方，所述第四气缸的输出端贯穿所述支撑块，并与所述固定板固定连接，所述u形块与所述固定板固定连接，并位于所述固定板的下方，所述真空抽气机与所述u形块固定连接，并位于所述u形块的上方，所述真空抽气机的输出端贯穿所述u形块，并与所述吸盘连通。

10、其中，所述横向滑动单元包括电子滑轨和第一滑块，所述电子滑轨与所述l形板固定连接，并位于所述l形板的一侧，所述第一滑块与所述电子滑轨滑动连接，所述第三气缸与所述第一滑块固定连接，并位于所述第一滑块的一侧。

11、本发明的一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，两个所述皮带输送机负责输送和输出半导体光电子器件，将输送过来的半导体光电子器件安放在所述底座上方，然后所述第一气缸启动，带动所述升降筒上移，所述升降筒与多个所述拨动杆接触，将多个所述拨动杆相对移动，通过所述连接杆带动对应的所述夹持块移动，将所述底座上方的半导体光电子器件夹持固定，然后所述检测单元进行半导体光电子器件测试，结束后所述第一气缸带动所述升降筒下移，所述拨动杆脱离所述升降筒，同时所述弹簧回弹，所述伸缩杆跟随伸缩，提高稳定性，带动所述夹持块复位，解除半导体光电子器件的固定，将其取走，通过上述结构设置，无需人工手动操作来固定半导体光电子器件，可进行自动固定及测试，有效提高测试效率，减轻工作人员压力。

技术特征：

1.一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括底座，其特征在于，

2.如权利要求1所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

4.如权利要求3所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

5.如权利要求4所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

6.如权利要求5所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

7.如权利要求6所述的具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，其特征在于，

技术总结
本发明涉及半导体电子器件技术领域，具体涉及一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括底座和测试组件，测试组件包括多个夹持单元、第一气缸、升降筒、检测单元和两个皮带输送机，夹持单元包括固定块、弹簧、夹持块、伸缩杆、连接杆和拨动杆，底座具有凹槽，半导体光电子器件安放在底座上方，第一气缸带动升降筒上移，将多个拨动杆相对移动，通过连接杆带动对应的夹持块移动，将半导体光电子器件固定，检测单元进行半导体光电子器件测试，第一气缸带动升降筒下移，同时弹簧回弹，伸缩杆跟随伸缩，提高稳定性，带动夹持块复位，由此无需人工手动操作来固定半导体光电子器件，可进行自动固定及测试，有效提高测试效率。

技术研发人员：赵宏伟,王佳宇,苗笑瑀,张亮,张昱,段懿桐
受保护的技术使用者：武汉工程大学
技术研发日：
技术公布日：2024/6/11