电动机控制装置的制作方法

本发明涉及一种电动机控制装置。

背景技术：

1、作为推定电动机的磁体温度的技术，提出了例如专利文献1和专利文献2中记载的技术。

2、专利文献1公开了一种永磁体同步电动机的驱动装置，其基于电压指令值推定不同时刻之间的磁体磁通的变动量，并输出相当于磁体磁通变动量的磁体温度变动量推定值。

3、此外，专利文献2公开了一种电动机磁体温度的推定方法，其改变目标电流值，基于d轴磁通交链数来计算磁体磁通，并根据计算出的磁体磁通推定磁体温度。

4、现有技术文献

5、专利文献

6、专利文献1：日本专利特开2021-2949号公报

7、专利文献2：日本专利特开2021-16226号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的技术问题

2、专利文献1中记载的技术的目的是消除由电动机的制造差异等引起的个体之间的常数误差的影响，高精度地推定磁体磁通或磁体温度。而且，专利文献1公开了一种永磁体同步电动机的驱动装置，该驱动装置具有根据q轴电压指令值与基于控制中使用的常数计算出的基准q轴电压之间的差分来计算d轴磁通误差的方法，计算基准温度下的d轴磁通误差计算当磁体温度从基准温度变化时的d轴磁通误差根据和之差来计算磁体磁通的变动量，并输出相当于磁体磁通变动量的磁体温度变动量推定值。

3、在专利文献1中，在达到某个d轴电流、q轴电流时，将根据和之差计算出的d轴磁通的变动量直接作为磁体磁通变动量由于磁体温度变化引起的d轴磁通和磁体磁通的变动量存在根据d轴电流和q轴电流而不同的电流依赖性，因此，在d轴电流和q轴电流不为零时的推定中，磁体磁通的变动量推定值会产生误差，磁体温度推定值也会产生误差，因此存在改善的余地。

4、专利文献2公开了一种电动机的磁体温度的推定方法，其中在改变目标电流的前后求出d轴磁通，基于各个d轴磁通计算磁体磁通，并根据计算出的磁体磁通推定磁体温度。在专利文献2中，当根据磁体磁通推定磁体温度时，使用示出磁体磁通、d轴电流、q轴电流的参数与磁体温度之间的对应关系的表格，并且还考虑由于温度变化而引起的磁通变动量的电流依赖性来推定磁体温度，但是由于使用具有三个参数输入的表格，因此在表格数据数量变大，用于创建表格的测量作业时间和表格参照的处理负荷较大等方面存在改善的余地。

5、本发明的目的是提供一种电动机控制装置，其通过在推定磁体温度时校正由于温度变化引起的磁通变动量的电流依赖性，从而提高磁体温度推定精度。

6、用于解决技术问题的技术手段

7、为了实现上述目的，本发明的电动机控制装置包括对具有永磁体的电动机进行控制的控制部，其特征在于，所述控制部包括磁体温度推定部，该磁体温度推定部输入：基于所述电动机的转速指令值和所述电动机的转矩指令值中的任何一个运算出的、或者基于所述电动机的电压检测值运算出的q轴电压值；基于所述电动机的电气角运算出的电气角速度；以及基于所述电动机的电压检测值或所述电动机的电流检测值运算出的、或者基于指令值的d轴电流值和q轴电流值，并推定所述永磁体的温度，所述磁体温度推定部包括：d轴磁通变动量运算部，该d轴磁通变动量运算部输入所述q轴电压值、所述电气角速度、所述d轴电流值和所述q轴电流值，并运算d轴磁通与d轴磁通基准值之间的差分即d轴磁通变动量；d轴磁通变动量校正部，该d轴磁通变动量校正部基于所述d轴电流值和所述q轴电流值对校正了所述d轴磁通变动量的校正后d轴磁通变动量进行运算；磁体磁通基准值运算部，该磁体磁通基准值运算部基于所述q轴电流值，运算磁体磁通基准值；以及磁体温度运算部，该磁体温度运算部基于所述校正后d轴磁通变动量和所述磁体磁通基准值计算所述永磁体的磁体温度推定值。

8、发明效果

9、根据本发明，当推定磁体温度时，通过对由于温度变化引起的磁通变动量的电流依赖性进行校正，从而能提高磁体温度推定精度。

10、上述以外的问题、结构以及效果通过以下实施方式的说明变得更为明确。

技术特征：

1.一种电动机控制装置，包括对具有永磁体的电动机进行控制的控制部，其特征在于，

2.根据权利要求1所述的电动机控制装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的电动机控制装置，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的电动机控制装置，其特征在于，

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电动机控制装置，其特征在于，

6.根据权利要求1至4中任一项所述的电动机控制装置，其特征在于，

技术总结
本发明的目的在于通过在推定磁体温度时校正由于温度变化引起的磁通变动量的电流依赖性来提高磁体温度推定精度。本发明的电动机的控制部(10)包括磁体温度推定部(40)，其输入基于电动机的转速指令值、转矩指令值中的任意一个运算出的q轴电压指令值、电气角速度、基于电流检测值运算出的d轴电流检测值和q轴电流检测值，并推定永磁体的温度。磁体温度推定部(40)包括：d轴磁通变动量运算部(41)，其输入q轴电压指令值、电气角速度、d轴电流检测值和q轴电流检测值，并运算d轴磁通变动量；d轴磁通变动量校正部(42)，其对校正了d轴磁通变动量的校正后d轴磁通变动量进行运算；磁体磁通基准值运算部(43)，其对磁体磁通基准值进行运算；以及磁体温度运算部(44)，其基于校正后d轴磁通变动量和磁体磁通基准值计算永磁体的磁体温度推定值。

技术研发人员：小原峻介,铃木尚礼,谷口峻,三井利贞,松井大和
受保护的技术使用者：日立安斯泰莫株式会社
技术研发日：
技术公布日：2025/3/3