专利名称：一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及时钟精度温度补偿技术领域，特别涉及一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置。
背景技术：
目前，除了要求特别高的标准源以外，工业及日常生活中使用的高精度时钟频率主要来自石英晶体振荡器。目前，国内外时钟使用的石英晶体振荡器的频率为32768Hz。参见附图1，该图为32768Hz石英晶体振荡器的频率温度特性曲线图。32768Hz石英晶体振荡器在-30至+60°C范围内的频率偏差比AF/F约为(+40)ppm至(-150)ppm(ppm 表示百万分之一)，这样每天产生的时钟误差可达15秒以上。因此，如果要达到更高的时钟精度，需要对石英晶体振荡器的频率偏差进行温度补偿，目前的温度补偿包括硬补和软补两种。硬补主要是从硬件上进行温度补偿，硬补的成本较高，并且整体的体积较大，不适合用于时钟体积小和成本低的场合。软补的方法主要是在有MCU芯片同时出现于同一产品的场合，利用石英晶体振荡器的频率温度特性曲线一致性较好的32768Hz石英晶体作为MCU芯片内挂的独立实时时钟 (RTC, Real-Time Clock)电路的外晶体，利用MCU内/外部温度测量传感器检测温度值，通过查找频率温度特性曲线表得出该温度值对应的频率温度偏差值，MCU通过修改秒脉冲分频值(32768士N，N为实时修正值)来实现补偿修正。目前这种软补方法成本较低，但由于其是开环补偿，频率温度特性曲线一致性、温度传感器的一致性、A/D采集的参考电压的一致性、MCU内部A/D采集电路制造的一致性等任何一项出现问题，均无法保证最终的补偿结果。如果有任何一项或多项出现问题，则将导致补偿结果不准确。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置， 成本低，体积小，补偿结果准确。本发明提供一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法，包括以下步骤获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt = (a*T+b)；其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Ptl ；在温度T时，由Pt= (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2 ；比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2 ；
当读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2，则调节石英32768Hz晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。优选地，所述温度T由温度传感器获得，温度传感器获得的AD采集值Nad与温度T 成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。优选地，所述获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为Pl ；在第二温度Τ2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Ρ2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt =(a*T+b)；其中，a= (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) / [M(T1_T2)]。优选地，所述调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄或变宽，具体为通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数来调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。优选地，所述预设高频频率信号的频率大于或等于1MHz。本发明还提供一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置，包括以下单元预设高频频率信号的表达式获取单元，用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt= (a*T+b)；其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；高频脉冲个数读取单元，用于在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Pti ；计算单元，用于在温度T时，由Pt = (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2 ；比较单元，用于比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2 ；秒脉冲调节单元，当比较单元的比较结果为读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2时，用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之用于调节 32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到调节到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。优选地，还包括温度采集单元，温度采集单元的AD采集值Nad与温度T成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。优选地，所述预设高频频率信号的表达式获取单元，用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为Pl ；在第二温度Τ2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Ρ2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt =(a*T+b)；其中，a= (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) / [M(T1_T2)]。优选地，所述秒脉冲调节单元用于通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。
优选地，所述预设高频频率信号的频率大于或等于1MHz。与现有技术相比，本发明具有以下优点本发明实施例提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置，通过精准的高频石英晶体来不断校正32768Hz石英晶体的秒脉冲，直到在32768Hz石英晶体产生的时间闸门内读取的高频脉冲信号的高频脉冲个数和理论上精准的高频脉冲个数相同，由于可以在任意温度下均对32768Hz石英晶体进行校准，因此补偿了 32768Hz石英晶体由于温度不同而产生的频率偏差。由于本发明实施例采用的闭环温度补偿方式，因此与时钟晶体的频率温度特性曲线形状无关，更不要求一致性。因此，本实施例提供的温度软补方法可以实现精确的温度补偿。并且软补方法本身的成本较低，对应的系统体积较小。
图1是32768Hz石英晶体振荡器的频率温度特性曲线图；图2是本发明提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法实施例一流程图；图3是本发明提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置实施例一结构图；图4是本发明提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置实施例二结构图。
具体实施例方式为了使本领域技术人员更好地理解和实施本发明的技术方案，下面介绍几个与本发明相关的技术术语。石英晶体振荡器是利用石英晶体(二氧化硅的结晶体)的压电效应制成的一种谐振器件，它的基本构成大致是从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片， 它可以是正方形、矩形或圆形等)，在它的两个对应面上涂敷银层作为电极，在每个电极上各焊一根引线接到管脚上，再加上封装外壳就构成了石英晶体谐振器，简称为石英晶体或晶振。32768Hz石英晶体常作为时钟晶体。为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式
做详细的说明。参见图2，该图为本发明提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法实施例一流程图。本发明实施例提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法，包括以下步骤S201 获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数 Pt的表达式为Pt = (a*T+b) (1)其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；本实施例选择的预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，每段折线是直线，这样T与Pt为线性关系。本实施例中的预设高频频率信号可以由任何高频石英晶体振荡器产生，优选频率为IMHz以上的石英晶体振荡器，本发明选用的是16MHz的石英晶体振荡器。
S202 在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Pti ；例如，预定时间闸门为N秒，则在32768Hz石英晶体产生的N秒内读取预设高频频率信号的高频脉冲个数Ptl ；需要说明的是，Ptl是在32768Hz石英晶体产生的N秒内读取的，这个N秒是不精确的。S203 在温度T时，由Pt = (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2 ；需要说明的是，预定时间闸门是N秒，则对应的标准时间闸门也是N秒，只是Pt2 是由公式⑴获得的，公式⑴是在标准时间下获得，因此对应的时间闸门也是标准的。由于由S201已经获得单位时间内任何温度对应的高频脉冲个数，因此，由公式 (1)可以计算得到任何温度、任何时间段内理论的高频脉冲个数。由于该高频频率信号随温度变化时频率偏移很小，因此，对应的秒脉冲很准。需要说明的是，S202和S203没有时间先后顺序。S204 比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2 ；由于高频频率信号的秒脉冲很准，因此用该高频频率信号作为基准来校正 32768Hz石英晶体。如果32768Hz石英晶体也很准，那么读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2应该相等。S205 当读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2，则调节石英 32768Hz晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。本发明实施例提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法，通过精准的高频石英晶体来不断校正32768Hz石英晶体的秒脉冲，直到在32768Hz石英晶体产生的时间闸门内读取的高频脉冲信号的高频脉冲个数和理论上精准的高频脉冲个数相同，由于可以在任意温度下均对32768Hz石英晶体进行校准，因此补偿了 32768Hz石英晶体由于温度不同而产生的频率偏差。由于本发明实施例采用的闭环温度补偿方式，因此与时钟晶体的频率温度特性曲线形状无关，更不要求一致性。因此，本实施例提供的温度软补方法可以实现精确的温度补偿。并且软补方法本身的成本较低，对应的系统体积较小。下面介绍如何获得该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt 的表达式。由于预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，每段折线为直线，因此可以通过两点式的直线表达式获得该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为Pl ；在第二温度T2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 P2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt =(a*T+b)；其中，a= (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) / [M(T1_T2)]。需要说明的是，由于每段折线对应的直线的斜率不同，因此，可以由温度T查找对应的折线，然后获得对应的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式。可以理解的是，由M个标准秒脉冲内的高频脉冲个数可以得到单位时间内的高频脉冲个数。当M数值越大时，获得的单位时间内的高频脉冲个数越准确。本发明实施例中的温度T可以由温度传感器获得，温度传感器获得的温度AD采集值与温度τ成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。本实施例中采用的是AD采集值^，因此与温度绝对值和AD采集的参考电压、AD 采集电路本身的制造无关，因而不需要温度传感器的一致性、A/D采集的参考电压的一致性以及MCU内部A/D采集电路制造的一致性。所述调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄或变宽，具体为可以通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数来调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。当分频系数越大时，秒脉冲的宽度越宽，反之越窄。需要说明的是，本发明实施例提供的闭环温度补偿方法将调整后的秒脉冲输出， 同时作为新的预定时间闸门的基准。例如，预定时间闸门的M值是5秒，则将调整后的5个秒脉冲作为计数高频脉冲的时间闸门。本发明提供的闭环温度补偿方法结构简单，控制方便，无需特别工艺要求，适合大批量使用的场合，成本低。基于上述时钟晶体振荡器闭环温度补偿的方法，本发明还提供了时钟晶体振荡器闭环温度补偿的装置，下面结合具体实施例来详细说明其组成部分。参见图3，该图为本发明提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置实施例一结构图。本发明实施例提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置，包括以下单元预设高频频率信号的表达式获取单元401，用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt= (a*T+b)；其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；高频脉冲个数读取单元402，用于在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Pti ；计算单元403，用于在温度T时，由Pt = (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2 ；比较单元404，用于比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数 Pt2 ；秒脉冲调节单元405，当比较单元404的比较结果为读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2时，用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到调节到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。本发明实施例提供的时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置，通过精准的高频石英晶体来不断校正32768Hz石英晶体的秒脉冲，直到在32768Hz石英晶体产生的时间闸门内读取的高频脉冲信号的高频脉冲个数和理论上精准的高频脉冲个数相同，由于可以在任意温度下均对32768Hz石英晶体进行校准，因此补偿了 32768Hz石英晶体由于温度不同而产生的频率偏差。由于本发明实施例采用的是闭环温度补偿方式，因此与时钟晶体的频率温度特性曲线形状无关，更不要求一致性。因此，本实施例提供的闭环温度软补方法可以实现精确的温度补偿。并且软补方法本身的成本较低，对应的系统体积较小。下面介绍预设高频频率信号的表达式获取单元401如何获得该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式。由于预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，每段折线为直线，因此可以通过两点式的直线表达式获得每段折线内该预设高频频率信号单位时间内的温度T 与高频脉冲个数Pt的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为Pl ；在第二温度T2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 P2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt =(a*T+b)；其中，a= (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) / [M(T1_T2)]。需要说明的是，由于每段折线对应的直线的斜率不同，因此，可以由温度T查找对应的折线，然后获得对应的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式。可以理解的是，由M个标准秒脉冲内的高频脉冲个数可以得到单位时间内的高频脉冲个数。当M数值越大时，获得的单位时间内的高频脉冲个数越准确。本发明实施例中的温度T可以由温度传感器获得，温度传感器获得的温度AD采集值与温度τ成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。本实施例中采用的是AD采集值^，因此与温度绝对值和AD采集的参考电压、AD 采集电路本身的制造无关，因而不需要温度传感器的一致性、A/D采集的参考电压的一致性以及MCU内部A/D采集电路制造的一致性。秒脉冲调节单元405调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄或变宽，具体为可以通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数来调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。需要说明的是，本发明实施例提供的闭环温度补偿方法将调整后的秒脉冲输出， 同时作为新的预定时间闸门的基准。例如，预定时间闸门的M值是5秒，则将调整后的5个秒脉冲作为计数高频脉冲的时间闸门。参见图4，该图为本发明提供的装置实施例二结构图。需要说明的是，本发明实施例提供的闭环温度补偿装置可以由MCU来实现，假设 MCU提前获得了预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt =(a*T+b)。温度传感器501测量环境温度，将测量的温度信号传递给AD采用单元502 ；AD采用单元502获得温度的AD采集Nad，从而由AD采集值与温度T的线性关系， 得到温度T ；计算单元503，计算预定时间闸门内的当前温度T时的高频脉冲个数Pt2 ；MCU的外挂高频晶体509用来产生预设高频频率信号；32768Hz石英晶体510产生的时钟信号由分频器507来产生秒脉冲；预定时间闸门506由分频器507产生的秒脉冲来获得预定时间闸门；高频脉冲个数读取单元505可以有MCU内部的计数器来实现，用于在预定时间闸门内读取高频晶体产生的高频脉冲的个数Pti。
比较单元504用于比较Ptl和Pt2，将比较结果发送给秒脉冲调节单元508 ；秒脉冲调节单元508，用于调节分频器507的分频系数，进而来调整32768Hz产生的秒脉冲宽度；直到Ptl和Pt2相等。需要说明的是，分频器507产生的秒脉冲同时作为补偿后的秒脉冲用于输出。本发明提供的闭环温度补偿方法可以利用MCU自身的资源完成温度补偿，不需要另外添加硬件，因此结构简单，控制方便，无需特别工艺要求，适合大批量使用的场合，成本低。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
权利要求
1.一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法，其特征在于，包括以下步骤获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt = (a*T+b)；其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Ptl ；在温度T时，由Pt = (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2;比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2 ；当读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2，则调节石英32768Hz晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述温度T由温度传感器获得，温度传感器获得的AD采集值Nad与温度T成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Pl ；在第二温度Τ2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Ρ2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt = (a*T+b)；其中，a = (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) /[M(T1_T2)]。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄或变宽，具体为通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数来调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设高频频率信号的频率大于或等于 IMHz。
6.一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置，其特征在于，包括以下单元预设高频频率信号的表达式获取单元，用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度τ与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt = (a*T+b)；其中，a、b为常数；所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线，在每段折线内为直线；高频脉冲个数读取单元，用于在温度T时，读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Ptl ；计算单元，用于在温度T时，由Pt = (a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2 ；比较单元，用于比较读取的高频脉冲个数Ptl和对应的理论高频脉冲个数Pt2 ；秒脉冲调节单元，当比较单元的比较结果为读取的高频脉冲个数Ptl大于理论高频脉冲个数Pt2时，用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄；反之用于调节 32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽；直到调节到读取的高频脉冲个数Ptl与理论高频脉冲个数Pt2相等。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括温度采集单元，温度采集单元的AD 采集值与温度T成分段线性关系，表达式为T = Kn*NAD ；其中，Kn为第η段的比例系数。
8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述预设高频频率信号的表达式获取单元，用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt 的表达式，具体为在第一温度Tl时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Pl ；在第二温度Τ2时，获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为 Ρ2 ；则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为Pt = (a*T+b)；其中，a = (P1-P2)/[M*(T1-T2)] ；b = (P1T1—P2T2) /[M(T1_T2)]。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述秒脉冲调节单元用于通过调节 32768Hz石英晶体的时钟分频系数调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预设高频频率信号的频率大于或等于 IMHz。
全文摘要
本发明提供一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置，通过精准的高频石英晶体来不断校正32768Hz石英晶体的秒脉冲，直到在32768Hz石英晶体产生的时间闸门内读取的高频脉冲信号的高频脉冲个数和理论上精准的高频脉冲个数相同，由于可以在任意温度下均对32768Hz石英晶体进行校准，因此补偿了32768Hz石英晶体由于温度不同而产生的频率偏差。由于本发明实施例采用的闭环温度补偿方式，因此与时钟晶体的频率温度特性曲线形状无关，更不要求一致性。因此，本发明提供的温度软补方法可以实现精确的温度补偿。并且软补方法本身的成本较低，对应的系统体积较小。
文档编号H03B5/04GK102545778SQ20101061649
公开日2012年7月4日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者任振东, 王瑞毅, 陈仲平 申请人:苏州银河龙芯科技有限公司