数字温控式高温稳恒温晶体振荡器的制作方法

文档序号:7526779阅读:311来源:国知局
专利名称:数字温控式高温稳恒温晶体振荡器的制作方法
技术领域
本实用新型涉及晶体振荡器技术,特别是涉及一种数字温控式高温稳恒温晶体振荡器的技术。
背景技术
恒温晶体振荡器广泛应用于通信、军工、同步设备等领域。恒温晶体振荡器中的双恒温槽晶体振荡器区别于普通的单恒温晶振振荡器,在于它将关键元器件置于双恒温槽工作环境中,运用双恒温槽保温,使得内部温度随外界温度变化发生极微小的变化,以达到输出频率稳定的目的,因此双恒温槽晶体振荡器又称之为高温稳恒温晶体振荡器。双恒温槽晶体振荡器都有内外共两个恒温槽,其中的外恒温槽内设有外槽温控电 路,内恒温槽安装在外恒温槽内,在内恒温槽内装有内槽温控电路和晶体振荡电路;内、夕卜槽温控电路中均设有温度传感器及加热模块,并设有用于调整其温控值的控温电阻,用于检测槽内环境温度,并适时对槽内环境加热升温,使槽内环境能保持恒温。传统的双恒温槽晶体振荡器在量产时,需要先在内、外恒温槽槽盖打开状态下调试温度特性,并根据调试结果确定内、外槽温控电路的控温电阻阻值,然后再将内外槽封盖。但是,传统的双恒温槽晶体振荡器在的内外槽盖在封盖前后往往会带来温度梯度差,从而带来了调试结果的偏差,使得输出频率也会发生相应的偏差,因此往往需要拆盖再度修正控温电阻阻值,给产品的量产带来了麻烦,而且控温电阻阻值每次调整完毕后需要从新预热很久才能再度测试,因此温度特性调试周期也较长。

实用新型内容针对上述现有技术中存在的缺陷,本实用新型所要解决的技术问题是提供一种调试周期短,温度特性调试方便的数字温控式高温稳恒温晶体振荡器。为了解决上述技术问题,本实用新型所提供的一种数字温控式高温稳恒温晶体振荡器,包括外恒温槽,分别安装在外恒温槽内的外槽温控电路、内恒温槽,分别安装在内恒温槽内的内槽温控电路、晶体振荡电路;所述外槽温控电路中设有用于检测外恒温槽内环境温度的外槽温度传感器,及用于外恒温槽内环境加热升温的外槽加热模块,用于调整外槽温控电路温控值的外槽控温电阻;所述内槽温控电路中设有用于检测内恒温槽内环境温度的内槽温度传感器,及用于内恒温槽内环境加热升温的内槽加热模块,用于调整内槽温控电路温控值的内槽控温电阻;其特征在于所述内槽控温电阻是一数字式可调电阻,其调节端接引至外恒温槽的外部。本实用新型提供的数字温控式高温稳恒温晶体振荡器,在产品封盖后,可以从外部调节内恒温槽内的内槽控温电阻阻值,避免了传统双恒温槽晶体振荡器调试温度特性时内外槽盖在封盖前后的温度梯度差,方便了产品的量产,而且一次预热即可调试好温度特性,具有调试周期短,温度特性调试方便的特点。

图I是本实用新型实施例的数字温控式高温稳恒温晶体振荡器的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图说明对本实用新型的实施例作进一步详细描述,但本实施例并不用于限制本实用新型,凡是采用本实用新型的相似结构及其相似变化,均应列入本实用新型的保护范围。如图I所示,本实用新型实施例所提供的一种数字温控式高温稳恒温晶体振荡器,包括外恒温槽I,分别安装在外恒温槽I内的外槽温控电路5、内恒温槽2,分别安装在内恒温槽2内的内槽温控电路4、晶体振荡电路3 ; 所述外槽温控电路5中设有用于检测外恒温槽I内环境温度的外槽温度传感器52,及用于外恒温槽I内环境加热升温的外槽加热模块51,用于调整外槽温控电路温控值的外槽控温电阻53 ;所述内槽温控电路4中设有用于检测内恒温槽2内环境温度的内槽温度传感器42,及用于内恒温槽2内环境加热升温的内槽加热模块41,用于调整内槽温控电路温控值的内槽控温电阻43 ;其特征在于所述内槽控温电阻43是一数字式可调电阻,其调节端接引至外恒温槽I的外部。本实用新型实施例中,所述数字式可调电阻的型号为DS3902。本实用新型实施例中,所述外槽温控电路、内槽温控电路均为现有技术。本实用新型实施例的工作原理如下外槽温控电路通过调整外槽控温电阻的阻值来调整温控值,从而控制外槽加热模块进行加热工作的工作温度;内槽温控电路通过调整内槽控温电阻的阻值来调整温控值,从而控制内槽加热模块进行加热工作的工作温度;进行温度特性调试前,直接估算外槽控温电阻的阻值,并选定与估算的阻值相匹配的电阻作为外槽控温电阻后直接将内外恒温槽外恒温槽外槽封盖,然后对封盖好的产品进行预热,预热好后根据晶体拐点,从外恒温槽的外部通过数字式可调电阻的调节端,将阻值写入数字式可调电阻,即可在一次预热的情况下调试好内恒温槽内环境的温控值。例如需要将双恒温槽晶体振荡器的温度特性调节在O. Ippb (-40 70);传统双恒温槽晶体振荡器是在封盖前确定外槽控温电阻的阻值后进行预热,再细调内槽控温电阻的阻值,经多次调节后将温度特性调节至O. Ippb以内(每次调完内槽控温电阻阻值后需要重新预热很久才能测试),然后再封盖测试,如果输出频率值超出了
O.Ippb,只能打开封盖重新调试;本实用新型实施例只需预热一次,第一次调试后的后续多次调试中,每次调试只需根据前次调试后的测试结果计算出本次调试的阻值,并从外部将计算出的阻值直接写入数字式可调电阻,无需再次预热,免除了开 拆盖的麻烦。
权利要求1.一种数字温控式高温稳恒温晶体振荡器,包括外恒温槽,分别安装在外恒温槽内的外槽温控电路、内恒温槽,分别安装在内恒温槽内的内槽温控电路、晶体振荡电路;所述外槽温控电路中设有用于检测外恒温槽内环境温度的外槽温度传感器,及用于外恒温槽内环境加热升温的外槽加热模块,用于调整外槽温控电路温控值的外槽控温电阻;所述内槽温控电路中设有用于检测内恒温槽内环境温度的内槽温度传感器,及用于内恒温槽内环境加热升温的内槽加热模块,用于调整内槽温 控电路温控值的内槽控温电阻;其特征在于所述内槽控温电阻是一数字式可调电阻,其调节端接引至外恒温槽的外部。
专利摘要一种数字温控式高温稳恒温晶体振荡器,涉及晶体振荡器技术领域,所解决的是方便温度特性调试的技术问题。该振荡器包括外恒温槽,分别安装在外恒温槽内的外槽温控电路、内恒温槽,分别安装在内恒温槽内的内槽温控电路、晶体振荡电路;所述外槽温控电路中设有外槽温度传感器、外槽加热模块,及用于调整外槽温控电路温控值的外槽控温电阻;所述内槽温控电路中设有内槽温度传感器、内槽加热模块,及用于调整内槽温控电路温控值的内槽控温电阻;其特征在于所述内槽控温电阻是一数字式可调电阻,其调节端接引至外恒温槽的外部。本实用新型提供的振荡器,温度特性调试周期短。
文档编号H03B5/04GK202713230SQ201220322009
公开日2013年1月30日 申请日期2012年7月4日 优先权日2012年7月4日
发明者薛代彬, 梁远勇, 胡雪娟 申请人:上海鸿晔电子科技有限公司
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