一种用于芯片电路的超低压两级环形压控振荡器的制作方法

文档序号:13812584阅读:242来源:国知局

本发明涉及振荡器技术领域,更具体地说,涉及一种用于芯片电路的超低压两级环形压控振荡器。



背景技术:

压控振荡器是模拟电路和数字电路的重要组成模块。压控振荡器有很多种不同的实现方式,环形振荡器与传统的lc振荡器相比,占用更小的芯片面积并且具有更大的调节范围。如果环形振荡器由两级延迟构成,那么它能够在高频下工作,并且提供正交输出。

现代cmos工艺中,技术特征尺寸和电源电压需要成比例缩小以维持器件的稳定性。对于环形振荡器来说,由于晶体管的高阈值电压,它很难在0.5v的电源电压下正常工作。mos晶体管的衬底连接正向偏置是降低晶体管阈值电压的有效方法。在设计中,衬底正向偏置技术被应用于带有局部正反馈的延迟单元中。

因此,现有技术亟待有很大的进步。



技术实现要素:

本发明解决的技术问题在于,针对现有技术的上述的缺陷,提供一种用于芯片电路的超低压两级环形压控振荡器,包括:包括两个首尾相接的延迟单元,所述振荡器通过调节延迟单元的延迟时间调整工作频率;延迟单元包括pmos晶体管m1、m2、m3、m4,nmos管m5、m6、m7、m8,及负载电容cl。

在本发明所述的超低压两级环形压控振荡器中,pmos晶体管m2、m4的衬底接地,pmos晶体管m1、m3的衬底连接控制电压vc,pmos晶体管m1、m3的栅极接地,pmos晶体管m1、m3源极接vdd,pmos晶体管m1、m3漏极连接pmos晶体管m2、m4的栅极和漏极;nmos晶体管m5和nmos晶体管m6分别作为延迟单元的正相和反相差分输入端,nmos晶体管m7和nmos晶体管m8的源漏极分别与nmos晶体管m5和nmos晶体管m6的源漏极相连,nmos晶体管m7栅极接nmos晶体管m6的漏极,nmos晶体管m8的栅极接nmos晶体管m5的漏极;nmos晶体管m5的漏极作为反相输出端,nmos晶体管m6的漏极作为正相输出端,输出端接负载电容cl;nmos晶体管的衬底端连接偏置电压vb。

实施本发明的用于芯片电路的超低压两级环形压控振荡器,具有以下有益效果:采用衬底正向偏置结构,降低晶体管阈值电压,降低电源电压,减小功耗;两级结构,电路结构简单,面积较小,易于实现与集成;与lc振荡器结构相比,两级环形振荡器电路具有大的调谐范围。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:

图1mos管阈值电压随衬底偏置电压变化示意图;

图2为超低压两级环形压控振荡器vco结构图;

图3为超低压两级环形压控振荡器延迟单元结构图;

图4为压控振荡器频率随控制电压变化示意图。

具体实施方式

请参阅图1,为mos管阈值电压随衬底偏置电压变化示意图。衬底正向偏置技术可以有效降低了mos晶体管的阈值电压。

以0.18umrfcmos工艺为例,nmos和pmos晶体管的阈值电压约+/-0.5v,当电源电压为0.5v时,这个阈值电压会大大限制电路的性能。通过正向偏置mos晶体管的衬底能够降低阈值电压。在0.18umrfcmos工艺下,通过使用深n阱来将敏感的模拟电路与衬底噪声隔离,所以不管是衬底连接的nmos晶体管还是pmos晶体管都可以通过衬底正向偏置降低阈值电压。

衬底正向偏置的pmos晶体管阈值电压(vthp)可以表示为:

|vthp0|是源衬电压(vsb)为0时的|vthp|,γ是体效应系数,是费米势。因此,阈值电压|vth|随着vsb的增加而减小,pmos晶体管阈值电压随衬底偏置电压变化如图1所示。由图1可知,当pmos晶体管的衬底偏置电压从500mv到0v变化时,pmos晶体管的阈值电压从-500mv到-366mv变化。当nmos晶体管的衬底偏置电压vc从0v到0.5v变化时,nmos晶体管的阈值电压(vthn)从531mv到423mv变化。这对mos晶体管工作在超低电源电压下十分有效。

请参阅图2,为超低压两级环形压控振荡器vco结构图,由两个首尾相接的、相同的延迟单元组成。

请参阅图3,为超低压两级环形压控振荡器延迟单元结构图。延迟单元包括pmos晶体管m1、m2、m3、m4,nmos管m5、m6、m7、m8,及负载电容cl。本发明提出设计的环形振荡器,具体实施时基于0.18umrf工艺进行设计。pmos晶体管m2、m4的衬底接地,pmos晶体管m1、m3的衬底连接控制电压vc,pmos晶体管m1、m3的栅极接地,pmos晶体管m1、m3源极接vdd,pmos晶体管m1、m3漏极连接pmos晶体管m2、m4的栅极和漏极;nmos晶体管m5和nmos晶体管m6分别作为延迟单元的正相和反相差分输入端,nmos晶体管m7和nmos晶体管m8的源漏极分别与nmos晶体管m5和nmos晶体管m6的源漏极相连,nmos晶体管m7栅极接nmos晶体管m6的漏极,nmos晶体管m8的栅极接nmos晶体管m5的漏极;nmos晶体管m5的漏极作为反相输出端,nmos晶体管m6的漏极作为正相输出端,输出端接负载电容cl;nmos晶体管的衬底端连接偏置电压vb。

请参阅图4,为压控振荡器频率随控制电压变化示意图。图4给出了控制电压变化时,压控振荡器的频率变化范围。从图4可以看出,当控制电压vc从0v到0.5v变化时,该vco的工作频率调节范围是从392mhz到88mhz,vco增益为-608mhz/v。

本发明通过以上实施例的设计,可以做到采用衬底正向偏置结构,降低晶体管阈值电压,降低电源电压,减小功耗;两级结构,电路结构简单,面积较小,易于实现与集成。

本发明是根据特定实施例进行描述的,但本领域的技术人员应明白在不脱离本发明范围时,可进行各种变化和等同替换。此外,为适应本发明技术的特定场合,可对本发明进行诸多修改而不脱离其保护范围。因此,本发明并不限于在此公开的特定实施例,而包括所有落入到权利要求保护范围的实施例。



技术特征:

技术总结
本发明涉及一种用于芯片电路的超低压两级环形压控振荡器,其特征在于,包括两级延迟单元,所述振荡器包括两个首尾相接的延迟单元,通过调节延迟单元的延迟时间调整工作频率;延迟单元包括PMOS晶体管M1、M2、M3、M4,NMOS管M5、M6、M7、M8,及负载电容CL。本发明两级环形压控振荡器,采用衬底前馈偏置结构,降低晶体管阈值电压,降低电源电压,减小功耗,同时具有较大的调谐范围,特别适合于低电源电压工作的系统。

技术研发人员:蔡水河
受保护的技术使用者:常州欣盛微结构电子有限公司
技术研发日:2017.11.27
技术公布日:2018.02.27
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