一种具备电性能测试功能的LED显示器PCB机构的制作方法

文档序号:30277133发布日期:2022-06-04 07:15阅读:61来源:国知局
一种具备电性能测试功能的LED显示器PCB机构的制作方法
一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构
技术领域
1.本实用新型属于led显示器技术领域,具体涉及一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构。


背景技术:

2.现有家电智能化发展,使得led显示器越来越精密、集成,led显示器是通过pcb(电路板)上的二极管实现发光,从而实现塑壳上指定图案的点亮,二极管的具体控制是通过ic芯片,二极管在pcb板上最终是采用环氧树脂封装,这其中存在的问题是,现有的方式是必须要在二极管封装完成后,通过ic芯片实现对于二极管的点亮测试,由于环氧树脂封装,存在不可逆转的缺陷,一旦发现有部分或者个别二极管无法发光或者发光不良,难以进行修复,通常只能将产品认定为不合格产品,这导致的问题是,这严重影响了产品的整体良率,不但影响生产效率,而且提升了成本。


技术实现要素:

3.发明目的:为了克服现有技术中存在的不足,提供一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,实现了对于二极管点亮性能的中途测试,规避了环氧树脂封装存在的不可逆转性所带来的影响,能够及时修复以及替换掉不良二极管,从而大幅提升了led显示器pcb的整体良率,提高了生产效率,降低了工艺成本。
4.技术方案:为实现上述目的,本实用新型提供一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,包括pcb板、设置于pcb板上的若干二极管和用于连接控制二极管的ic芯片,所述二极管组合成若干二极管排列组,所述pcb板上位于靠近二极管排列组与ic芯片的连接端处设置有电性能测试点,所述电性能测试点连接着二极管排列组。
5.进一步地,还包括用于测试二极管排列组的电性能的测试治具,所述测试治具包括测试板和设置于测试板上的若干测试针,所述测试针与电性能测试点的位置相匹配,所述测试针用于通过电性能测试点测试二极管排列组的点亮性能。
6.进一步地,所述电性能测试点等间隔水平设置于pcb板上。
7.进一步地,所述电性能测试点为测试铜块,所述测试铜块通过测试线连接着二极管排列组。
8.有益效果:本实用新型与现有技术相比,通过在pcb板上增设电性能测试点,配合匹配的测试治具,能够在二极管进行封装前对pcb板上所有二极管的电性能进行测试,且整个测试简单、快捷、高效,解决了现有的封装后通过ic芯片进行测试存在的不可逆转的缺陷,能够对测试出不良的二极管进行及时的修复和更换,从而大幅提升了led显示器pcb的整体良率,提高了生产效率,降低了工艺成本。
附图说明
9.图1为二极管在pcb板上的电性原理图;
10.图2为pcb板的示意图;
11.图3为ic芯片示意图;
12.图4为塑壳的结构示意图;
13.图5为测试治具的示意图。
具体实施方式
14.下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本实用新型,应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围,在阅读了本实用新型之后,本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
15.如图1~图5所示,本实用新型提供一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,包括pcb板1、设置于pcb板1上的二极管102、用于连接控制二极管102的ic芯片101、塑壳103和测试治具,本实施例中所有的二极管102组合成八个二极管排列组,分别为二极管排列组a~h,具体可参见图1,二极管排列组a~h分别连接在ic芯片101的对应接口上,pcb板1上位于靠近二极管排列组a~h与ic芯片的连接端处设置有电性能测试点100,这样一共有8个电性能测试点100,8个电性能测试点100等间隔水平设置于pcb板1上,电性能测试点100为测试铜块,8个测试铜块通过测试线分别连接着二极管排列组a~h,测试治具包括测试板104和设置于测试板104上的8个测试针105,8个测试针105等间隔设置于测试板104上,且间距等于8个电性能测试点100相互的间距。
16.本实施例中应用上述pcb机构对所有的二极管102进行电性能测试,具体的操作流程为:
17.当所有的二极管102安装于pcb板1后,采用测试治具,将8个测试针105同时下压接触到8个电性能测试点100,此时二极管排列组a~h被同时通电,测试人员观察所有的二极管102是否被成功点亮,如果全部点亮,则测试为合格,如果发现有无法点亮的二极管102,记录下对应二极管102的编号,及时进行修复或者更换,确保所有的二极管102能够被点亮,后续再进入环氧树脂封装和ic芯片101的连接环节,当安装完成后,确保了每个二极管102能够点亮塑壳103上对应的区域图案。


技术特征:
1.一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,包括pcb板、设置于pcb板上的若干二极管和用于连接控制二极管的ic芯片,所述二极管组合成若干二极管排列组,其特征在于,所述pcb板上位于靠近二极管排列组与ic芯片的连接端处设置有电性能测试点,所述电性能测试点连接着二极管排列组。2.根据权利要求1所述的一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,其特征在于,还包括用于测试二极管排列组的电性能的测试治具,所述测试治具包括测试板和设置于测试板上的若干测试针,所述测试针与电性能测试点的位置相匹配,所述测试针用于通过电性能测试点测试二极管排列组的点亮性能。3.根据权利要求2所述的一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,其特征在于,所述电性能测试点等间隔水平设置于pcb板上。4.根据权利要求1所述的一种具备电性能测试功能的led显示器pcb机构,其特征在于,所述电性能测试点为测试铜块,所述测试铜块通过测试线连接着二极管排列组。

技术总结
本实用新型公开了一种具备电性能测试功能的LED显示器PCB机构,包括PCB板、设置于PCB板上的若干二极管和用于连接控制二极管的IC芯片,所述二极管组合成若干二极管排列组,所述PCB板上位于靠近二极管排列组与IC芯片的连接端处设置有电性能测试点,所述电性能测试点连接着二极管排列组。本实用新型通过在PCB板上增设电性能测试点,配合匹配的测试治具,能够在二极管进行封装前对PCB板上所有二极管的电性能进行测试,且整个测试简单、快捷、高效,解决了现有的封装后通过IC芯片进行测试存在的不可逆转的缺陷,能够对测试出不良的二极管进行及时的修复和更换,从而大幅提升了LED显示器PCB的整体良率,提高了生产效率,降低了工艺成本。艺成本。艺成本。


技术研发人员:吴纪炳
受保护的技术使用者:宜兴市南埠塑胶电子有限公司
技术研发日:2021.12.02
技术公布日:2022/6/3
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