一种低温漂采集电路的制作方法

文档序号:33895093发布日期:2023-04-21 04:21阅读:25来源:国知局
一种低温漂采集电路的制作方法

本发明属于信号采集,尤其涉及一种低温漂采集电路。


背景技术:

1、在高精度的微小信号采集控制领域,通常输入信号较为微弱,常规的采集电路,直接通过信号放大后送入ad转换器进行采集,容易受到环境因素影响,当环境温度变化时,温度漂移误差可能会非常大。实现具有较低温漂系数的高精度信号采集电路,在环境监测、工业设备中有着重要的工程应用和市场价值。


技术实现思路

0、
技术实现要素:

1、本发明要解决的技术问题:提供一种低温漂采集电路,以解决现有技术微小信号采集直接通过信号放大后送入ad转换器进行采集,容易受到环境因素影响,当环境温度变化时,温度漂移误差大等技术问题。

2、本发明技术方案:

3、一种低温漂采集电路,所述电路包括3只正温漂电阻器、3只负温漂电阻器、仪表放大器、ad转换器和运算放大器,3只正温漂电阻器和3只负漂电阻器根据温漂系数从头到尾依次按正、负、负、正、正和负串接,头端接入输入信号-,尾端接入输入信号+且与仪表放大器的正输入端连接,两只负电阻的公共端接入仪表放大器的负输入端,两只正电阻的公共端接入运算放大器的参考输出信号;参考输出信号与运算放大器的负输入端和输出端连接,同时还连接至仪表放大器的参考端ref。

4、ad转换器的输入端为模拟信号,连接至仪表放大器的输出端,ad转换器的参考端ref接入至运算放大器的正输入端,ad转换器的输出端为ad输出数字信号。

5、3只正温漂电阻器和3只负漂电阻器均采用相同的温度漂移系数。

6、正温漂电阻器、负温漂电阻器、仪表放大器、ad转换器的参考信号均来源于ad转换器的参考端。

7、本发明的有益效果:

8、本发明通过采用电桥平衡电路实现对目标小信号采集,采用相同温漂系数的正温漂电阻器和负温漂电阻器构成3路桥臂电阻,实现温漂误差自动抵消。同时,还利用ad转换器内部参考电压,经运算放大器构成的跟随电路提高信号隔离和驱动能力后,作为电桥平衡电路和仪表放大电路的参考源,使得电桥平衡电路、仪表放大电路和ad采集电路受温度影响时的变化趋势一致,因此,该参考电压受温度影响的误差可忽略;可以实现低温漂信号采集。

9、本发明可实现微小信号的检测,同时受到外界温度环境影响较小。整体电路可达到uv级检测分辨率和温度稳定性。

10、解决了现有技术微小信号采集直接通过信号放大后送入ad转换器进行采集,容易受到环境因素影响,当环境温度变化时,温度漂移误差大等技术问题。



技术特征:

1.一种低温漂采集电路,其特征在于:所述电路包括3只正温漂电阻器(1)、3只负温漂电阻器(2)、仪表放大器(3)、ad转换器(4)和运算放大器(5),3只正温漂电阻器(1)和3只负漂电阻器(2)根据温漂系数从头到尾依次按正、负、负、正、正和负串接,头端接入输入信号-(10),尾端接入输入信号+(9)且与仪表放大器(3)的正输入端连接,两只负电阻的公共端接入仪表放大器(3)的负输入端,两只正电阻的公共端接入运算放大器(5)的参考输出信号(7);参考输出信号(7)与运算放大器(5)的负输入端和输出端连接,同时还连接至仪表放大器(3)的参考端ref。

2.根据权利要求1所述的一种低温漂采集电路,其特征在于:ad转换器(4)的输入端为模拟信号(8),连接至仪表放大器(3)的输出端,ad转换器(4)的参考端ref接入至运算放大器(5)的正输入端,ad转换器(4)的输出端为ad输出数字信号(12)。

3.根据权利要求1所述的一种低温漂采集电路,其特征在于:3只正温漂电阻器(1)和3只负漂电阻器(2)均采用相同的温度漂移系数。

4.根据权利要求1所述的一种低温漂采集电路,其特征在于:正温漂电阻器(1)、负温漂电阻器(2)、仪表放大器(3)、ad转换器(4)的参考信号均来源于ad转换器(3)的参考端。


技术总结
本发明公开了一种低温漂采集电路,所述电路包括3只正温漂电阻器(1)、3只负温漂电阻器(2)、仪表放大器(3)、AD转换器(4)和运算放大器(5),3只正温漂电阻器(1)和3只负漂电阻器(2)根据温漂系数从头到尾依次按正、负、负、正、正和负串接,头端接入输入信号‑(10),尾端接入输入信号+(9)且与仪表放大器(3)的正输入端连接,两只负电阻的公共端接入仪表放大器(3)的负输入端,两只正电阻的公共端接入运算放大器(5)的参考输出信号(7);参考输出信号(7)与运算放大器(5)的负输入端和输出端连接,同时还连接至仪表放大器(3)的参考端Ref;解决了现有技术微小信号采集直接通过信号放大后送入AD转换器进行采集,容易受到环境因素影响,当环境温度变化时,温度漂移误差大等技术问题。

技术研发人员:姚金安,廖海黔,王波,廖月敏
受保护的技术使用者:贵州航天计量测试技术研究所
技术研发日:
技术公布日:2024/1/11
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