采集芯片的采样数据的处理方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明实施例涉及数据采样，尤其涉及一种采集芯片的采样数据的处理方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、供电电压、基准电压和环境温度都会影响模拟信号转数字信号的采集芯片(简称ad芯片)采样的准确度及精度。如果供电电压、基准电压和环境温度中的至少一项不满足额定条件，ad芯片可能产生异常采样值，引起保护装置不正常动作，也有可能使得采样值的误差超范围，造成测量误差过大。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种采集芯片的采样数据的处理方法、装置、设备及存储介质，基于采集芯片的工作状态调整滤波参数，提高滤波处理后的采样数据的准确度及精度。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种采集芯片的采样数据的处理方法，包括：

3、获取采集芯片的实际电压信息；其中，所述实际电压信息包括实际供电电压及实际基准电压；

4、根据所述实际电压信息确定所述采集芯片的工作状态；其中，所述工作状态包括异常状态及正常状态；

5、根据所述工作状态确定滤波参数；其中，所述滤波参数包括窗长度及偏差系数；

6、根据所述滤波参数对所述采集芯片的采样数据进行滤波处理。

7、第二方面，本发明实施例还提供了一种采集芯片的采样数据的处理装置，该装置包括：

8、实际电压信息获取模块，用于获取采集芯片的实际电压信息；其中，所述实际电压信息包括实际供电电压及实际基准电压；

9、工作状态确定模块，用于根据所述实际电压信息确定所述采集芯片的工作状态；其中，所述工作状态包括异常状态及正常状态；

10、滤波参数确定模块，用于根据所述工作状态确定滤波参数；其中，所述滤波参数包括窗长度及偏差系数；

11、滤波处理模块，用于根据所述滤波参数对所述采集芯片的采样数据进行滤波处理。

12、第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

13、至少一个处理器；以及

14、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

15、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明实施例所述的采集芯片的采样数据的处理方法。

16、第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明实施例所述的采集芯片的采样数据的处理方法。

17、本发明实施例公开了一种采集芯片的采样数据的处理方法、装置、设备及存储介质，包括：获取采集芯片的实际电压信息；其中，实际电压信息包括实际供电电压及实际基准电压；根据实际电压信息确定采集芯片的工作状态；其中，工作状态包括异常状态及正常状态；根据工作状态确定滤波参数；其中，滤波参数包括窗长度及偏差系数；根据滤波参数对采集芯片的采样数据进行滤波处理。本发明实施例提供的采集芯片的采样数据的处理方法，基于采集芯片的实际电压信息确定芯片所处的工作状态，根据采集芯片的工作状态调整滤波参数，基于该滤波参数对采集芯片的采样数据进行滤波处理，提高采样数据的准确度及精度，避免保护装置的不正确动作，提高装置采样值容错纠错能力。

技术特征：

1.一种采集芯片的采样数据的处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述实际电压信息确定所述采集芯片的工作状态，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述工作状态确定滤波参数，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述滤波参数对所述采集芯片的采样数据进行滤波处理之后，还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述滤波参数对所述采集芯片的采样数据进行滤波处理，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述偏差系数及所述初始中位差值确定目标中位差值，包括：

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述差值与所述目标中位差值对所述各采样数据进行滤波处理，包括：

8.一种采集芯片的采样数据的处理装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的采集芯片的采样数据的处理方法。

技术总结
本发明实施例公开了一种采集芯片的采样数据的处理方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取采集芯片的实际电压信息；其中，所述实际电压信息包括实际供电电压及实际基准电压；根据所述实际电压信息确定所述采集芯片的工作状态；其中，所述工作状态包括异常状态及正常状态；根据所述工作状态确定滤波参数；其中，所述滤波参数包括窗长度及偏差系数；根据所述滤波参数对所述采集芯片的采样数据进行滤波处理。根据采集芯片的实际电压信息确定芯片的工作状态，基于工作状态确定滤波参数，进而对采集芯片的采样数据进行滤波处理，提高采样数据的准确度及精度，避免因异常采样数据引起保护装置的不正确动作，提高装置采样值容错纠错能力。

技术研发人员：鲍凯鹏,苗文彬,刘龙,宋忠鹏,赵琦,孙启锐
受保护的技术使用者：上海思源弘瑞自动化有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15