显示面板和显示装置的制作方法

本公开涉及显示，具体涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术：

1、有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)器件是一种以有机半导体材料为基础的电致发光器件。应当理解的是，薄膜晶体管(thin film transistor，tft)是目前oled器件中的主要驱动元件，即阵列基板中的驱动元件，直接关系到oled显示产品的显示性能。

2、通常情况下，在array制程完成之后，需要进行阵列测试(array test)，以检测tft的驱动性能；以及，在cell制程完成后、绑定驱动芯片之前，需要进行点屏测试(celltest)，检测屏幕内是否有异物、亮度不均(mura)、亮点之类的不良，以确保显示面板的布局走线和显示功能完好。

3、显示面板的测试区中由于阵列测试线和点屏测试线的端部位置存在差异，两条走线上的电势不一致，因此容易在此处产生静电，进而静电击穿，致使array test、cell test出现问题，降低显示产品的良率。

技术实现思路

1、本公开实施例提供一种显示面板和显示装置。

2、第一方面，本公开实施例提供一种显示面板，包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区和位于所述显示区一侧的测试区，所述测试区包括：

3、测试控制线，沿第一方向延伸，配置为提供第一测试信号；

4、电压总线，沿所述第一方向延伸，位于所述测试控制线靠近所述显示区的一侧，所述电压总线配置为提供第二测试信号；

5、沿第一方向排布且沿第二方向延伸的多组测试信号线，每组测试信号线包括第一子信号线和第二子信号线，其中，

6、所述第一子信号线通过至少一个第一过孔与所述测试控制线连接，所述第一子信号线配置为在测试阶段将所述第一测试信号提供至所述显示区；所述第二子信号线通过至少一个第二过孔与所述电压总线连接，所述第二子信号线配置为在测试阶段将所述第二测试信号提供至所述显示区。

7、在一些实施例中，所述电压总线与所述测试控制线同层设置；所述第一子信号线和所述第二子信号线同层设置。

8、在一些实施例中，所述测试区还包括至少一个测试分压图形，所述测试分压图形与所述电压总线同层设置，

9、所述测试分压图形位于所述测试控制线和所述电压总线之间，且所述第二子信号线通过至少一个第三过孔与所述测试分压图形连接。

10、在一些实施例中，所述衬底基板还包括绑定区，所述绑定区位于所述显示区和所述测试区之间，所述绑定区包括多个绑定焊盘，

11、每一所述绑定焊盘上设置有多个间隔分布的连接端子，多个所述连接端子用于绑定对应的驱动芯片或柔性印刷线路板；

12、所述绑定焊盘与所述测试控制线同层设置。

13、在一些实施例中，在同一组所述测试信号线中，所述第二子信号线和所述第一子信号线分别与同一所述连接端子连接。

14、在一些实施例中，所述测试区包括多个所述测试分压图形，

15、多个所述测试分压图形沿所述第一方向排布、且间隔设置，每一所述测试分压图形对应连接一个所述绑定焊盘。

16、在一些实施例中，所述测试区包括多个重复单元，每一所述重复单元包括沿所述第一方向排布的多组测试信号线，

17、所述测试分压图形和与其对应的所述绑定焊盘，通过同一重复单元中的多条所述第二子信号线连接。

18、在一些实施例中，所述第二子信号线远离所述显示区的一端在所述衬底基板上的正投影，位于与其对应连接的所述测试分压图形在所述衬底基板上的正投影范围内；

19、多组所述测试信号线位于所述测试分压图形远离所述衬底基板的一侧。

20、在一些实施例中，在所述第二方向上，所述第二子信号线远离所述显示区的一端和所述第一子信号线远离所述显示区的一端在第一方向上平齐；

21、多组所述测试信号线位于所述测试分压图形靠近所述衬底基板的一侧。

22、在一些实施例中，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的栅线和多条沿第二方向延伸的数据线，多条所述栅线和多条所述数据线限定出多个像素单元，

23、一条所述第一子信号线与一条所述数据线对应连接，以在所述测试阶段向所述数据线提供所述第一测试信号。

24、在一些实施例中，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的栅线和多条沿第二方向延伸的数据线，多条所述栅线和多条所述数据线限定出多个像素单元，所述像素单元包括像素驱动电路，所述显示区还包括多条沿所述第二方向延伸的工作电压线，所述工作电压线配置为向所述像素驱动电路提供工作电压，

25、一条所述第二子信号线与一条所述工作电压线对应连接，以在所述测试阶段向所述工作电压线提供所述第二测试信号。

26、在一些实施例中，在同一组所述测试信号线中，所述第二子信号线所连接的所述工作电压线和所述第一子信号线所连接的所述数据线，对应同一列所述像素单元。

27、在一些实施例中，所述电压总线还配置为在显示阶段为显示区的像素单元提供工作电压；

28、所述第二子信号线还配置为在显示阶段向所述工作电压线提供所述工作电压。

29、第二方面，本公开实施例提供一种显示装置，包括第一方面所述的显示面板。

30、本公开实施例中，第一子信号线通过至少一个第一过孔与测试控制线连接，第一子信号线配置为将第一测试信号提供至显示区；第二子信号线通过至少一个第二过孔与测试分压图形连接，第二子信号线配置为将第二测试信号提供至显示区。当测试信号线位于测试控制线下方时，第二子信号线远离显示区的一端和第一子信号线远离显示区的一端平齐。如此设置，由于两条测试信号线的端部平齐，则第一子信号线和第二子信号线上的电势差相等，有效降低了静电产生的概率。当测试信号线位于测试控制线上方时，由于层间介质层中的过孔已经形成，那么在层间介质层上方涂覆导电材料薄膜、且图案化形成测试信号线时，测试信号线通过过孔与下方的测试控制线或者测试分压图形连接。进一步地，即使在测试信号线上形成有静电，也会被下方的测试控制线或者测试分压图形释放，从而能够避免静电击穿的现象，保证array test和cell test的测试效果，提高显示面板的产品信赖性和产品良率。

技术特征：

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述电压总线与所述测试控制线同层设置；

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试区还包括至少一个测试分压图形，所述测试分压图形与所述电压总线同层设置，

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述衬底基板还包括绑定区，所述绑定区位于所述显示区和所述测试区之间，所述绑定区包括多个绑定焊盘，

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述测试区包括多个所述测试分压图形，

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述测试区包括多个重复单元，每一所述重复单元包括沿所述第一方向排布的多组测试信号线，

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第二子信号线远离所述显示区的一端在所述衬底基板上的正投影，位于与其对应连接的所述测试分压图形在所述衬底基板上的正投影范围内；

8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，在所述第二方向上，所述第二子信号线远离所述显示区的一端和所述第一子信号线远离所述显示区的一端在所述第一方向上平齐；

9.根据权利要求7或8所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的栅线和多条沿第二方向延伸的数据线，多条所述栅线和多条所述数据线限定出多个像素单元，

10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括多条沿第一方向延伸的栅线和多条沿第二方向延伸的数据线，多条所述栅线和多条所述数据线限定出多个像素单元，所述像素单元包括像素驱动电路，所述显示区还包括多条沿所述第二方向延伸的工作电压线，所述工作电压线配置为向所述像素驱动电路提供工作电压，

11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，在同一组所述测试信号线中，所述第二子信号线所连接的所述工作电压线和所述第一子信号线所连接的所述数据线，对应同一列所述像素单元。

12.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述电压总线还配置为在显示阶段为所述显示区的像素单元提供工作电压；

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-12任意一项所述的显示面板。

技术总结
本公开实施例提供一种显示面板和显示装置，其中，显示面板包括：衬底基板，衬底基板包括显示区和位于显示区一侧的测试区，测试区包括：测试控制线，沿第一方向延伸，配置为提供第一测试信号；电压总线，沿第一方向延伸，位于测试控制线靠近显示区的一侧，电压总线配置为提供第二测试信号；沿第一方向排布且沿第二方向延伸的多组测试信号线，每组测试信号线包括第一子信号线和第二子信号线，其中，第一子信号线通过至少一个第一过孔与测试控制线连接，第一子信号线配置为在测试阶段将第一测试信号提供至显示区，第二子信号线通过至少一个第二过孔与电压总线连接，第二子信号线配置为在测试阶段将第二测试信号提供至显示区。

技术研发人员：汪军,成军,王海涛,苏同上,黄勇潮,方金钢
受保护的技术使用者：合肥鑫晟光电科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15