专利名称：图像处理电路和图像处理方法
技术领域：
本发明涉及图像处理电路和图像处理方法，更具体地说，本发明涉及用于校正颜色图像数据中包括的像素缺陷的电路和方法。
背景技术：
现在，常常使用诸如CCD之类的固态成像器件。固态器件包括接收光线的像素矩阵。每个像素(即，子像素)接收红(R)、绿(G)和蓝(B)光线，并且产生图像数据。像素的图像数据配置成颜色图像数据。固态成像器件的像素可以包括由于制造工艺因素导致的结构缺陷。因此，由有缺陷的像素产生的图像数据必须利用位于该缺陷像素附近的像素产生的图像数据被校正。
产生颜色图像数据的固态成像器件的第一现有示例包括滤光部分和成像部分。滤光部分是通过以Bayer阵列方式布置一个红光滤光镜(R)、两个绿光滤光镜(Gr和Gb)和一个蓝光滤光镜形成的。成像部分包括多个光接收元件，用于接收穿过每个滤光镜的光线。每个光接收元件充当一个子像素。形成颜色图像数据的每个像素包括四个滤光镜和四个光接收元件。每个像素的颜色图像数据由四种颜色(R、Gr、Gb和B)的数据配置而成。
固态成像器件中包括的光接收元件可以包括由于制造工艺导致的结构缺陷。例如，某一个光接收元件的与接收到的光量相对应的数据量(或者说光电转换效率)可能与其他光接收元件的不同。结果，该光接收元件的图像数据中的四种颜色中的某些的数据可能与图像物体的实际颜色不同。图像处理电路将固态成像器件所产生的图像数据中的每种颜色的数据值与阈值相比较来检查每个光接收元件中的缺陷。找到缺陷后，图像处理电路就对由有缺陷的光接收元件产生的颜色数据进行校正。
在第一现有示例的固态成像器件中，布局在同一平面内的四个光接收元件形成单个像素。因此，每个光接收元件中的入射光量是单个像素的入射光量的四分之一。因此，每个光接收元件可能只利用照射单个像素区域的光线的四分之一。此外，每个光接收元件接收穿过Bayer阵列中的相应滤光镜的光线。从而，红光和蓝光以交替线状被接收到，并且每种颜色的光线被每个像素接收到。这加宽了每种颜色的光接收元件之间的间隔。因此，难以提高分辨率。
因此，在固态成像器件的第二现有示例中，光接收元件在与光接收平面垂直的方向上布局。在第二现有示例中，进入半导体衬底的光线一直传播直到达到与光线的波长相对应的深度。例如，在三个光接收元件沿与光接收平面垂直的方向上叠加时，这三个光接收元件中的每个将与该光接收元件的位置相对应的波长的光线转换成电信号。每个光接收元件的光接收面积与单个像素的面积相同。因此，每个光接收元件将进入像素中的所有光线都转换成电信号。从而，与第一现有示例相比，入射光量的利用率较高，而数据量增加了。此外，每种颜色的光接收元件被布置为彼此相邻。这使得能够提高分辨率。
发明内容
在第二现有技术的成像器件中，像素中的光接收元件可能包括缺陷。此外，在第二现有示例中，光接收元件在与光接收平面垂直的方向上布局。因此，如果一种颜色的光接收元件包括缺陷，则相同像素中的其他颜色的光接收元件就很可能也包括缺陷。然而，即使检测到一种颜色的缺陷，在其他颜色的数据值未超过阈值时，上述图像处理电路也不检测缺陷。结果，有缺陷的颜色数据未被校正。在这种情形中，颜色数据将与图像物体的的实际颜色不同，因此导致颜色差异。
本发明提供了图像处理电路和图像处理方法，用于校正颜色数据中包括的像素的值来减少颜色差异。
本发明一个方面是一种用于对固态成像器件产生的颜色数据进行处理的图像处理电路。该固态成像器件包括多个像素的矩阵，并且每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据。该图像处理电路包括与所述多个子像素相联系地分别布置的多个缺陷确定电路。对应于每个缺陷确定电路的子像素定义第一子像素，在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素定义第二子像素。每个所述缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生确定信号。多个校正电路被连接到所述多个缺陷确定电路中的每个，并且所述校正电路分别对应于所述多个子像素。每个所述校正电路在至少一个所述确定信号指示出缺陷时基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
本发明的另一个方面是一种用于对固态成像器件产生的颜色数据进行处理的图像处理电路。该固态成像器件包括多个像素的矩阵。每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据。该图像处理电路包括与所述多个子像素相联系地分别布置的多个第一缺陷确定电路。对应于每个第一缺陷确定电路的子像素定义第一子像素，在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素定义第二子像素。每个所述第一缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生第一确定信号。多个第二缺陷确定电路以与所述多个子像素相联系地被分别布置。每个所述第二缺陷确定电路被连接到与不同于所述对应第一子像素的一个或多个第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路。在与一个或多个不同的第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路产生了指示出缺陷的所述第一确定信号时，每个第二缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生第二确定信号。多个校正电路以与所述多个子像素相联系地分别被布置。每个所述校正电路连接到对应的第一和第二缺陷确定电路。每个所述校正电路在所述第一和第二确定信号至少一个指示出缺陷时基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
本发明的又一个方面是一种用于对固态成像器件产生的颜色数据进行处理的方法。该固态成像器件包括多个像素的矩阵。每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据。该方法包括向分别对应于所述多个子像素的多个缺陷确定电路中的每个提供定义第一子像素的对应子像素的颜色数据和定义第二子像素的在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素的颜色数据；利用所述对应缺陷确定电路通过基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个校正电路中的每个提供由所述缺陷确定电路产生的所述确定信号；以及在至少一个所述确定信号指示出缺陷时利用对应的校正电路基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
本发明的再一个方面是一种用于对固态成像器件产生的颜色数据进行处理的方法。该固态成像器件包括多个像素的矩阵。每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据。该方法包括向分别对应于所述多个子像素的多个第一缺陷确定电路中的每个提供定义第一子像素的对应子像素的颜色数据和定义第二子像素的在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素的颜色数据；利用所述对应缺陷确定电路通过基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生第一确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个第二缺陷确定电路中的每个提供与不同于所述对应第一子像素的一个或多个第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路的一个或多个第一确定信号；在与所述一个或多个不同的第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路产生了指示出缺陷的所述第一确定信号时，利用对应第二缺陷确定电路基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生第二确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个校正电路提供所述对应第一缺陷确定电路的第一确定信号和所述对应第二缺陷确定电路的第二确定信号；以及在所述第一和第二确定信号至少一个指示出缺陷时基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据利用对应校正电路产生所述第一子像素的经校正值。
所述产生第二确定信号包括将所述第二阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较。结合附图，从下面的说明中，本发明的其他方面和优点将变清楚，其中附图以示例方式示出了本发明的原理。
结合附图参考下面对当前优选实施例的描述将最好地理解本发明及其目的和优点，在附图中图1是根据本发明第一实施例的图像处理电路的示意电路框图；图2是示出了一个像素的示意图；图3是根据本发明第二实施例的图像处理电路的示意电路框图。
具体实施例方式
在整个附图中，相似的标号用于类似的元素。
参考图1，图像处理电路10基于红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)的颜色数据Rin、Gin和Bin来确定像素(子像素)是否包括缺陷。当确定出至少一种颜色的子像素具有缺陷时，图像处理电路10对每种颜色的子像素执行校正处理。
每种颜色的颜色数据Bin、Gin和Bin由固态成像器件产生，例如，CMOS图像传感器。参考图2，固态成像器件的每个像素由硅衬底中嵌入的三层光接收元件(子像素，或者说像素传感器)PB、PG和PR形成。硅在不同深度处吸收不同颜色的光线。因此，每层像素传感器PB、PG和PR提取具有与其深度相对应的波长的颜色，从而产生代表与入射光量相对应的像素值的信号。
图1所示图像处理电路10基于被处理像素(子像素)的像素值和位于该被处理像素附近的至少一个邻近像素(子像素)的像素值执行缺陷确定过程和校正过程。在第一实施例中，与被处理像素相邻的八个外围像素(子像素)被用作邻近像素。例如，红色数据Rin包括被处理像素R11的像素值和八个外围像素R00、R01、R02、R10、R12、R20、R21和R22(R00到R22)的像素值。即，颜色数据Rin包括三行和三列像素的像素值。基于像素R11的像素值和像素R00到R22的像素值，图像处理电路10确定被处理像素R11是否包括缺陷。当像素R11包括缺陷时，图像处理电路10通过产生经校正像素值来校正像素R11的像素值。同样，绿色数据Gin包括被处理像素G11的像素值和八个外围像素G00、G01、G02、G10、G12、G20、G21和G22(G00到G22)的像素值。图像处理电路10确定被处理像素G11是否包括缺陷。当像素G11包括缺陷时，图像处理电路10通过产生经校正像素值来校正像素G11的像素值。同样，蓝色数据Bin包括被处理像素B11的像素值和八个外围像素B00、B01、B02、B10、B12、B20、B21和B22(B00到B22)的像素值。图像处理电路10确定被处理像素B11是否包括缺陷。当像素B11包括缺陷时，图像处理电路10通过产生经校正像素值来校正像素B11的像素值。
图像处理电路10包括分别与三种颜色相对应的三个缺陷确定电路11R、11G和11B，三个校正电路12R、12G和12B。被用来确定缺陷的阈值T被设置来用于每个缺陷确定电路11R、11G和11B。
用于红色的缺陷确定电路11R确定被处理像素R11是否包括缺陷。例如，在第一实施例中，缺陷确定电路11R获得被处理像素R11的像素值和下述一组像素的像素值的平均值之间的差，所述一组像素沿延伸穿过被处理像素R11的线布置。然后，缺陷确定电路11R将该差的绝对值(下文称作差值)与阈值T相比较。缺陷确定电路11R对每组外围像素(四组)执行这种比较处理。缺陷确定电路11R在至少一个差值大于阈值T时确定出被处理像素R11包括缺陷，在每个差值都小于等于阈值T时确定出被处理像素R11无缺陷。
更具体地说，基于被处理像素R11的图像值和外围像素组R01和R21的像素值，缺陷确定电路11R将差值|R11-(R01+R21)/2|与阈值T相比较。同样，缺陷确定电路11R将差值|R11-(R10+R12)/2|与阈值T、差值|R11-(R00+R22)/2|与阈值T、以及差值|R11-(R02+R20)/2|与阈值T相比较。缺陷确定电路11R基于所有比较结果确定被处理像素R11是否包括缺陷，并产生指示该确定的确定信号。例如，在第一实施例中，当至少一个差值大于阈值T时(即，当被处理像素R11包括缺陷时)，缺陷确定电路11R产生高电平的确定信号SR。当每个差值都小于等于阈值T时，缺陷确定电路11R产生低电平的确定信号SR。
同样，用于绿色的缺陷确定电路11G基于绿色数据Gin确定被处理像素G11是否包括缺陷，并且产生指示确定结果的确定信号SG。此外，用于蓝色的缺陷确定电路11B基于蓝色数据Bin确定被处理像素B11是否包括缺陷，并且产生指示确定结果的确定信号SB。
三种颜色的确定信号SR、RG和SB被提供给校正电路12R、12G和12B中的每个。更具体地说，校正电路12R、12G和12B中的每个被提供有通过获得确定信号SR、SG和SB的逻辑和而产生的综合信号，其中确定信号SR、SG和SB是由缺陷确定电路11R、11G和11B产生的。
在三个被处理像素R11、G11和B11中至少一个包括缺陷时，校正电路12R、12G和12B中的每个基于综合信号对与被处理像素R11、G11和B11相对应的像素值进行校正，来产生经校正像素值。例如，红色校正电路12R基于综合信号(即，三个确定信号SR、SG和SB)，利用被处理像素R11的像素值和外围像素的像素值来对像素R11的像素值进行校正。为了获得经校正值，外围像素的像素值的平均值被计算出，并被用作被处理像素的经校正值。
同样，绿色校正电路12G基于综合信号(即，确定信号SR、SG和SB)，对被处理像素G11的像素值进行校正。此外，蓝色校正电路12B基于综合信号(即，确定信号SR、SG和SB)，对被处理像素B11的像素值进行校正。
在三个被处理像素R11、G11和B11中至少一个包括缺陷时，图像处理电路10对被处理像素R11、G11和B11中的每个的像素值进行校正。这防止了产生会由缺陷导致的颜色差异。
在像素具有图2所示结构时，如果像素传感器PR包括缺陷，则同一像素中的其他像素传感器PG和PB很可能也包括缺陷。在现有校正方法中，例如，当红色像素(像素传感器)包括缺陷时，即使G和B像素也包括缺陷，取决于图像物体的颜色，其他颜色(G和B)的像素(像素传感器)中的缺陷有可能不被检测到。
本发明的图像处理电路10在三种颜色的被处理像素R11、G11和B11中至少一个包括缺陷时，对像素R11、G11和B11中的每个的像素值进行校正。这防止了产生由缺陷导致的颜色差异。
第一实施例的图像处理电路10具有下述优点。
基于从红色数据Rin中的被处理像素R11的象素质和对应的外围像素的像素值获得的差值，以及确定的阈值T，用于红色的缺陷确定电路11R确定被处理像素R11是否包括缺陷，并且产生确定信号SR。同样，用于绿色和蓝色的缺陷确定电路11G和11B产生分别与绿色和蓝色被处理像素G11和B11相关联的确定信号SG和SB。基于三个确定信号SR、SG和SB的综合信号，校正电路12R、12G和12B利用例如对应的外围像素的像素值产生被处理像素值SR、SG和SB的校正像素值。因此，当至少一个被处理像素包括缺陷时，校正电路12R、12G和12B中的每个产生对应像素的经校正像素值。结果，当被处理像素R11、G11和B11中的任何一个包括缺陷时，被处理像素R11、G11和B11都被校正。这减少了颜色差异。
下面参考图3描述本发明第三实施例的图像处理电路20。
参考图3，图像处理电路20包括分别与三种颜色相对应的第一缺陷确定电路11R、11G和11B、第二缺陷确定电路21R、2G和21B，以及校正电路12R、12G和12B。第一和第二阈值被预先设置来分别用于第一和第二缺陷确定电路。
以与第一实施例相同的方式，第一缺陷确定电路11R、11G和11B基于对应的颜色数据Rin、Gin和Bin执行第一确定处理来确定被处理像素R11、G11和B11是否包括缺陷。然后，第一缺陷确定电路11R、11G和11B分别产生第一确定信号SR、SG和SB。
当不同颜色的被处理像素包括缺陷时(在第二实施例中，其他两个像素中的任一个)，第二缺陷确定电路21R、21G和21B基于第一确定信号执行第二确定处理，并且产生第二确定信号SRa、SGa和SBa。第二确定处理通过利用第二阈值而被执行，其中第二阈值等于由第一缺陷确定电路11R、11G和11B使用的第一阈值T的1/n(n为大于1的正数)。更具体地说，第二缺陷确定电路21R、21G和21B将第二阈值T/n与差值相比较，其与第一缺陷确定电路所使用的相同。基于比较结果，第二缺陷确定电路21R、21G和21B确定对应颜色的像素传感器(被处理像素R11、G11和B11)是否包括缺陷。然后，第二缺陷确定电路21R、21G和21B产生指示确定结果的第二确定信号SRa、SGa和SBa。
例如，当绿色和蓝色的被处理像素G11和B11中的至少任一个包括缺陷时，用于红色的第二缺陷确定电路21R基于用于绿色的第一缺陷确定电路21G的第一确定信号SG和用于蓝色的第一缺陷确定电路21B的第一确定信号SB来确定红色的被处理像素R11是否包括缺陷。更具体地说，第二缺陷确定电路21R从被处理像素R11的像素值和外围像素R01和R21的像素值计算出差值|R11-(R01+R21)/2|。然后，第二缺陷确定电路21R将差值|R11-(R01+R21)/2|与第二阈值T/n相比较。同样，第二缺陷确定电路21R将差值|R11-(R10+R12)/2|与第二阈值T/n、差值|R11-(R00+R22)/2|与第二阈值T/n、以及差值|R11-(R02+R20)/2|与第二阈值T/n相比较。基于每个比较结果，第二缺陷确定电路21R确定被处理像素R11是否包括缺陷，并且产生指示该确定结果的第二确定信号SRa。在第二实施例中，当至少一个差值大于阈值T/n时，第二缺陷确定电路21R出被处理像素R11包括缺陷，并且产生高电平的确定信号SRa。当每个差值都小于等于阈值T/n时，第二缺陷确定电路21R产生低电平的第二确定信号SRa。
第二缺陷确定电路21R利用第二阈值T/n确定被处理像素R11是否包括缺陷，其中第二阈值T/n小于第一缺陷确定电路11R的第一阈值T。然后，第二缺陷确定电路21R产生指示该确定结果的第二确定信号SRa。
同样，当红色和蓝色的被处理像素R11和B11中的至少任一个包括缺陷时，用于绿色的第二缺陷确定电路21G基于分别与红色和蓝色相对应的第一缺陷确定电路11R和11B的第一确定信号SR和SB确定绿色的被处理像素G11是否包括缺陷。类似地，当红色和绿色的被处理像素R11和G11中的至少任一个包括缺陷时，用于蓝色的第二缺陷确定电路21B基于分别与红色和绿色相对应的第一缺陷确定电路11R和11G的第一确定信号SR和SG确定蓝色的被处理像素B11是否包括缺陷。
以与第一实施例类似的方式，当第一缺陷确定电路11R的第一确定信号SR和第二缺陷确定电路21R的第二确定信号SRa中的至少任一个指示存在缺陷时(高电平)，则用于红色的校正电路12R基于信号SR和SRa对对应的被处理像素R11的像素值进行校正来产生经校正像素值。当第一缺陷确定电路11G的第一确定信号SG和第二缺陷确定电路21G的第二确定信号SGa中的至少任一个指示存在缺陷时(高电平)，用于绿色的校正电路12G基于信号SG和SGa对对应的被处理像素G11的像素值进行校正来产生经校正像素值。当第一缺陷确定电路11B的第一确定信号SB和第二缺陷确定电路21B的第二确定信号SBa中的至少任一个指示存在缺陷时(高电平)，用于蓝色的校正电路12B基于信号SB和SBa对对应的被处理像素B11的像素值进行校正来产生经校正像素值。
现在将讨论图像处理电路20的操作。
假定第一缺陷确定电路11R正产生高电平的确定信号SR指示出像素R11有缺陷。此外，用于绿色和蓝色的第一缺陷确定电路11G和11B分别产生低电平的确定信号SG和SB，指示像素G11和B11无缺陷。
用于绿色和蓝色的第一确定信号SG和SB指示不存在缺陷。因此，用于红色的第二缺陷确定电路21R不执行第二确定处理。用于红色的第一确定信号SR指示存在缺陷。因此，用于绿色的第二缺陷确定电路21G执行第二确定处理。第二缺陷确定电路21G可以确定至少一个差值大于第二阈值T/n。在这种情形中，第二缺陷确定电路21G产生高电平的第二确定信号SGa指示像素G11包括缺陷。此外，由于用于红色的第一确定信号SR指示存在缺陷，所以用于蓝色的第二缺陷确定电路21B执行第二确定处理。第二缺陷确定电路21B可能确定差值都小于第二阈值T/n。在这种情形中，第二缺陷确定电路21B产生低电平的第二确定信号SBa，指示像素B11无缺陷。
基于指示存在缺陷的第一确定信号SR，用于红色的校正电路12R执行校正处理来产生被处理像素R11的经校正像素值。基于指示存在缺陷的第二确定信号SGa，用于绿色的校正电路12G执行校正处理来产生被处理像素G11的经校正像素值。基于每个都指示无缺陷的第一确定信号SB和第二确定信号SBa，用于蓝色的校正电路12B不执行校正处理。
第二实施例的图像处理电路20具有下述优点。
基于第一阈值和从被处理像素R11的像素值和外围像素的像素值获得的差值，用于红色的第一缺陷确定电路11R确定被处理像素R11是否包括缺陷，并且产生第一确定信号SR。同样地，用于绿色和蓝色的第一缺陷确定电路11G和11B分别产生第一确定信号SG和SB。基于用于不同颜色(绿色和蓝色)的第一缺陷确定电路11G和11B的确定结果，第二缺陷确定电路21R确定被处理像素G11和B11是否包括缺陷。当被处理像素G11和B11值的至少任何一个包括缺陷时，第二缺陷确定电路21R通过利用差值和第二阈值T/n(其小于第一阈值)确定出被处理像素R11是否包括缺陷，并且产生第二确定信号SRa。同样，用于绿色和蓝色的第二缺陷确定电路21G和21B分别产生第二确定信号SGa和SBa。当被处理像素R11包括缺陷时，用于红色的校正电路12R从像素R11的像素值和外围像素的像素值计算经校正像素值。用于绿色和蓝色的校正电路12G和12B执行与校正电路12R相同的过程。结果，即使一个像素曾被第一缺陷确定电路11R、11G或11B确定为无缺陷，第二缺陷确定电路21R、21G或21B也可以确定出该像素包括缺陷。确定像素是否包括缺陷被准确地执行。这导致对像素值的更优化的校正，并且进一步减少了颜色差异。此外，在确定出对应的像素无缺陷时，即使其他像素被校正，第二缺陷确定电路21R、21G和21B也不对该对应像素进行校正。因此，在第二实施例中，每种颜色的像素独立地被校正。这避免了产生不必要的经校正值。因此，防止了被处理像素的像素值与图像物体的实际颜色不同。
本领域技术人员应当清楚，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，本发明可以被以各种其他具体形式实现。具体而言，应当理解，本发明可以以以下形式被实现。
对于每种颜色或每个像素，第一缺陷确定电路11R、11G和11B的阈值(第一阈值)T和第二缺陷确定电路21R、21G和21B的第二阈值T/n可以不同。
位于被处理像素附近的外围像素不限于绕被处理像素布置的八个像素。
通用空间滤光镜可以用于校正电路12R到12B来计算经校正值。例如，被处理像素R11和外围像素R00和R22每个的像素值可以被乘以滤光镜系数来将乘积的总和用作经校正值。或者，总和可以被与原始像素值相加来获得经校正值。此外，可以使用中值滤光镜。这将有助于基于被处理像素的像素值和邻近像素(外围像素)的像素值计算经校正值。
这些示例和实施例应当被认为是说明性的而非限制性的，并且本发明不限于这里给出的细节，而是在所附权利要求书的范围和等同物范围内被修改。
权利要求
1.一种用于对固态成像器件产生的颜色数据(Rin、Gin和Bin)进行处理的图像处理电路(10)，其中所述固态成像器件包括多个像素的矩阵，并且每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据，所述图像处理电路的特征在于与所述多个子像素相联系地分别布置的多个缺陷确定电路(11R、11G和11B)，并且对应于每个缺陷确定电路的子像素定义第一子像素，在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素定义第二子像素，其中每个所述缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生确定信号；以及连接到所述多个缺陷确定电路中的每个的多个校正电路(12R、12G和12B)，并且所述校正电路分别对应于所述多个子像素，其中每个所述校正电路在至少一个所述确定信号指示出缺陷时基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
2.如权利要求1所述的图像处理电路，其特征在于每个所述缺陷确定电路利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和预定阈值(T)来确定所述第一子像素是否包括缺陷。
3.如权利要求2所述的图像处理电路，其特征在于所述第一子像素的颜色数据是所述第一子像素的像素值；所述第二子像素的颜色数据是与所述第一子像素相邻的多个子像素的像素值的平均值；以及每个所述缺陷确定电路将所述阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较，并且基于比较结果确定所述第一子像素是否包括缺陷。
4.如权利要求1到3中任一个所述的图像处理电路，其特征在于每个所述校正电路在同一个像素中布置的另一个第一子像素被另一个校正电路校正时产生所述对应第一子像素的经校正值。
5.一种用于对固态成像器件产生的颜色数据(Rin、Gin和Bin)进行处理的图像处理电路(10)，其中所述固态成像器件包括多个像素的矩阵，并且每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据，所述图像处理电路的特征在于与所述多个子像素相联系地分别布置的多个第一缺陷确定电路(11R、11G和11B)，并且对应于每个第一缺陷确定电路的子像素定义第一子像素，在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素定义第二子像素，其中每个所述第一缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生第一确定信号；与所述多个子像素相联系地分别布置的多个第二缺陷确定电路(21R、21G和21B)，并且每个所述第二缺陷确定电路被连接到与不同于所述对应第一子像素的一个或多个第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路，其中在与一个或多个不同的第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路产生了指示出缺陷的所述第一确定信号时，每个第二缺陷确定电路基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷，并且产生第二确定信号；以及与所述多个子像素相联系地分别布置的多个校正电路(12R、12G和12B)，并且每个所述校正电路连接到对应的第一和第二缺陷确定电路，其中每个所述校正电路在所述第一和第二确定信号至少一个指示出缺陷时基于所述对应第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
6.如权利要求5所述的图像处理电路，其特征在于每个所述第一缺陷确定电路利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和第一预定阈值(T)来确定所述第一子像素是否包括缺陷；以及每个所述第二缺陷确定电路利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和小于所述第一阈值的第二阈值阈值(T/n)来确定所述第一子像素是否包括缺陷。
7.如权利要求6所述的图像处理电路，其特征在于所述第一子像素的颜色数据是所述第一子像素的像素值；所述第二子像素的颜色数据是与所述第一子像素相邻的多个子像素的像素值的平均值；以及每个所述第一缺陷确定电路将所述第一阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较，并且基于比较结果确定所述第一子像素是否包括缺陷；以及每个所述第二缺陷确定电路将所述第二阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较，并且基于比较结果确定所述第一子像素是否包括缺陷。
8.一种用于对固态成像器件产生的颜色数据(Rin、Gin和Bin)进行处理的方法，其中所述固态成像器件包括多个像素的矩阵，并且每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据，所述方法特征在于向分别对应于所述多个子像素的多个缺陷确定电路(11R、11G和11B)中的每个提供定义第一子像素的对应子像素的颜色数据和定义第二子像素的在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素的颜色数据；利用所述对应缺陷确定电路通过基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个校正电路(12R、12G和12B)中的每个提供由所述缺陷确定电路产生的所述确定信号；以及在至少一个所述确定信号指示出缺陷时利用对应的校正电路基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据产生所述第一子像素的经校正值。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于所述产生确定信号包括利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和预定阈值(T)来确定所述第一子像素是否包括缺陷。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于所述第一子像素的颜色数据是所述第一子像素的像素值；所述第二子像素的颜色数据是与所述第一子像素相邻的多个子像素的像素值的平均值；以及所述产生确定信号包括将所述阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较。
11.如权利要求8到10中任一个所述的方法，其特征在于所述产生经校正值包括在同一个像素中布置的另一个第一子像素被另一个校正电路校正时产生所述第一子像素的经校正值。
12.一种用于对固态成像器件产生的颜色数据(Rin、Gin和Bin)进行处理的方法，其中所述固态成像器件包括多个像素的矩阵，并且每个像素包括以多个叠加的层状布置的多个子像素，每个子像素对应于不同的颜色数据，所述方法特征在于向分别对应于所述多个子像素的多个第一缺陷确定电路(11R、11G和11B)中的每个提供定义第一子像素的对应子像素的颜色数据和定义第二子像素的在与所述第一子像素同一个层内布置为接近所述第一子像素的子像素的颜色数据；利用所述对应缺陷确定电路通过基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生第一确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个第二缺陷确定电路(21R、21G和21B)中的每个提供与不同于所述对应第一子像素的一个或多个第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路的一个或多个第一确定信号；在与所述一个或多个不同的第一子像素相关联的一个或多个第一缺陷确定电路产生了指示出缺陷的所述第一确定信号时，利用对应第二缺陷确定电路基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据确定所述第一子像素是否包括缺陷来产生第二确定信号；向分别对应于所述多个子像素的多个校正电路(12R、12G和12B)提供所述对应第一缺陷确定电路的第一确定信号和所述对应第二缺陷确定电路的第二确定信号；以及在所述第一和第二确定信号至少一个指示出缺陷时基于所述第一子像素的颜色数据和所述第二子像素的颜色数据利用对应校正电路产生所述第一子像素的经校正值。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于所述产生第一确定信号包括利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和第一预定阈值(T)来确定所述第一子像素是否包括缺陷；以及所述产生第二确定信号包括利用所述第一子像素的颜色数据、所述第二子像素的颜色数据和小于所述第一阈值的第二阈值阈值(T/n)来确定所述第一子像素是否包括缺陷。
14.如权利要求13所述的方法，其特征在于所述第一子像素的颜色数据是所述第一子像素的像素值；所述第二子像素的颜色数据是与所述第一子像素相邻的多个子像素的像素值的平均值；以及所述产生第一确定信号包括将所述第一阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较；以及所述产生第二确定信号包括将所述第二阈值与所述第一子像素的像素值和与所述第一子像素相邻的子像素的平均像素值之间的差进行比较。
全文摘要
本发明提供了图像处理电路和图像处理方法，用于对图像进行处理来校正颜色数据中包括的子像素的像素值，从而减少颜色差异。图像处理电路包括分别对应于多个子像素(颜色)的多个缺陷确定电路。每个缺陷确定电路确定对应子像素(或者说第一子像素)是否包括缺陷，并且产生确定信号。缺陷确定电路向与分别多个子像素(颜色)相对应的多个校正电路中的每个提供确定信号。在至少一个确定信号指示出缺陷时每个校正电路产生对应第一子像素的经校正值。
文档编号H04N5/372GK1988673SQ20061016830
公开日2007年6月27日 申请日期2006年12月20日 优先权日2005年12月20日
发明者井仓幸一, 福冈智博 申请人:富士通株式会社