专利名称：一种基站测试的连接装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及移动通信领域中的测试技术，具体涉及一种基站(Node B)测试的连接装置。
背景技术：
基站的室内测试通常需要采用很多辅助的测试仪表，这些仪表包括信号 源类仪表和频谱仪类仪表。其中，上述信号源类仪表主要用于在测试过程中 提供测试信号，这类仪表包括SMU、 AMIQ/SMIQ、 E4438、 E4432，以及基 站测试器(NBT， Node B Tester),其中，NBT可以模拟终端(手机)的功能， 例如，向基站发送上行数据，并根据基站下发的信号进行功率调整，信号同 步等；上述频谱类仪表主要用于测量信号功率，观测信号时隙等。
在对基站进行测试的时候，需要根据测试目的，将基站和上述测试仪表 按照测试需求进行连接以搭建测试环境。图1所示为现有技术的基站测试的 连接示意图，除了基站IO和测试仪表外，图1中还包括可调衰减器11、功 分器12、通用测试系统17 (GTS， General Test System)以及基站的本地操作 维护终端18 (LMT-B， Local Maintenance Terminal for NodeB)。其中，可调 衰减器11用于调节经过其自身的信号的衰减程度。功分器12用于将一路射 频信号分成多路射频信号，或将多路射频信号合成一路射频信号。通常，功 分器12的一侧有1个合路端口，另一侧有多个分路端口， g卩，从分路端口输 入的信号被合路后从合路端口输出，而在相反的方向上，从合路端口输入的 信号被分路后从各分路端口输出。对于不使用的分路端口，通常可以采用匹 配负载方式予以封堵。通用测试系统17为基站的测试控制平台，本地操作维 护终端18用于在测试过程中监控基站的告警、运行、配置等状况。如图l所 示，通过可调衰减器11和功分器12将基站10与信号源类仪表(图1中为信 号源类仪表l、信号源类仪表2和信号源类仪表3)连接，同时在基站10侧 还连接有通用测试系统17和基站的本地操作维护终端18。测试时，基站发 送给信号源类仪表的下行信号首先经过可调衰减器11，再经由功分器12被 分成多路信号，此时，对下行信号的测试可以通过将其中的一路分路后的信 号接入频谱仪13进行观测。而对于信号源类仪表发送给基站的上行信号的观 测，则需要按照图2所示的连接方式进行，即首先拆除原来的链路连接，再 将频谱仪13与可调衰减器11连接。而且，为了避免测试过程中的射频辐射 或射频回波对人体或设备造成伤害，在拆除原链路之前通常需要在基站10侧 通过GTS删除小区。在对上行信号的观测结束后，则又需要恢复刚被拆除的 测试环境(即图l所示的测试环境)，进一步执行建立小区等操作，然后再进 行下一步测试。
显然，上述测试过程中由于采用固定的链路搭建方式，具有以下的缺点 和不足
1) 在测试环境建立后，只能适用于单一的测试需求。当测试需求发生变 化时，需要拆除并重新搭建链路，而且在测试仪表改变测试对象时，也需要 重复拆除与搭建测试链路的操作；
2) 在使用频谱仪测量各个测试仪表的信号的过程中，需要拆除原频谱仪 和测试仪表之间的链路，为了避免链路拆除后射频辐射泄漏对身体的伤害或 射频回波对设备造成损坏，测试人员在拆除链路之前必须先执行删除小区的 操作。而在删除小区前，基站可能已有多步操作，比如建立公共传输信道、 发广播、建立无线链路、发送打桩消息、发送测试消息等，这些操作大都会 因小区的删除而不再生效。在测试仪表的信号测量完成后，又往往需要拆除 频谱仪与被测仪表的连接、恢复原测试环境，再次建立小区，发送广播等一 系列操作，以将基站恢复到删除小区以前的状态。这些附加的操作步骤，加 大了测试人员的工作，同时大大降低了测试效率；
3) 同一测试仪表只能由单一基站使用，无法复用，仪表利用率低；
4) 由于某些信号源类仪表，如NBT，只有在与基站保持正常连接时才 能保持不失步的正常工作状态。而上述测试过程中需要断开该仪表与基站的 连接，因此无法使用频谱仪对这些信号源类仪表进行有效的测试。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种基站测试的连接装置，用于
在基站测试过程中简化反复拆除、搭建测试链路的操作，提高测试效率。 为解决上述技术问题，本实用新型提供方案如下
一种基站测试的连接装置，包括至少三个分路/合路单元，以及至少两个 选通开关，
所述第一分路/合路单元接收外部的基站发出的信号，将该信号分成至少 两路信号，并将其中的一路信号经第一选通开关后发送至第三分路/合路单 元，将另一路信号经第二分路/合路单元后发送至外部的信号源类仪表；
所述第二分路/合路单元接收外部的信号源类仪表发出的信号，将该信号 分成至少两路信号，并将其中的一路信号经第二选通开关后发送至第三分路/ 合路单元，将另一路信号经第一分路/合路单元后发送至外部的基站；
所述第三分路/合路单元将上述经过第一选通开关和经第二选通开关后 的信号合路后发送至外部的频谱仪类仪表。
本实用新型的连接装置中，所述第二分路/合路单元与外部的信号源之间 进一步包括有至少一个分路/合路单元，
所述至少一个分路/合路单元，用于将接收到的外部的各个信号源类仪表 发送的信号合路后发送至第二分路/合路单元，以及用于将接收到的来自第二 分路/合路单元的信号分路后发送至各个信号源类仪表。
本实用新型的连接装置中，还包括有至少一个与外部的其它信号源类仪 表一一对应的分路/合路单元和选通开关，用于分别接收各信号源类仪表发送 的信号，将接收到的信号分路成两路，并将其中的一路信号经选通开关后发 送至第三分路/合路单元，将另一路信号发送至第一分路/合路单元；
所述第一分路/合路单元进一步用于将其接收到的分路后的信号源类仪 表发送的信号合路后发送至基站，以及用于将接收到的基站的信号分路后经 各信号源仪表所对应的分路/合路单元后发送至各信号源类仪表；
所述第三分路/合路单元进一步用于将其接收到的经各选通开关后的信 号合路后发送至外部的频谱类仪表。
本实用新型的连接装置中，在所述第一分路/合路单元与基站之间进一步 包括有至少一个新增的分路/合路单元，该新增的分路/合路单元通过与外部各 基站一一对应连接的选通开关与各基站连接；
所述新增的分路/合路单元，用于接收第一分路/合路单元发送的信号，将 上述信号分路，并将分路后的各路信号分别经所述与外部基站一一对应的选 通开关后发送至各基站，以及用于将接收到的经过各选通开关后的各基站信 号合路后发送至第一分路/合路单元。
本实用新型的连接装置中，所述与基站对应的选通开关进一步通过环路 器与基站连接，所述环路器用于在改变其与基站的连接端口时，调节基站上、 下行链路的信号衰减程度。
本实用新型的连接装置中，所述分路/合路单元为功分器。 本实用新型的连接装置中，所述选通开关为可调衰减器。 本实用新型所述的基站测试的连接装置，在基站与频谱仪之间，信号源 类仪表与频谱仪之间搭建测试链路，在测试过程中通过可调衰减器选通或阻 塞特定的测试链路，从而在无需反复拆除、搭建测试链路的情况下即可实现
对某个测试链路的测试；采用可调衰减器以及功分器连接多个基站或测试仪 表，从而实现对多个基站的测试，提高了测试效率和测试仪表复用率；同时, 通过采用环路器实现上、下行链路不对称的测试环境。
图1为现有技术的基站测试的连接示意图； 图2为现有技术的测试信号源类仪表的发送信号的连接示意图； 图3为本实用新型实施例1的结构示意图； 图4为本实用新型实施例2的结构示意图； 图5为本实用新型实施例3的结构示意图； 图6为本实用新型实施例4的结构示意图； 图7为本实用新型实施例5的结构示意图； 图8为本实用新型实施例6的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型利用分路/合路单元以及选通开关在基站与频谱仪之间，信号 源类仪表与频谱仪之间搭建测试链路。在测试过程中，通过调节选通开关方 便地选通或阻塞特定的链路，从而无需反复拆除和搭建测试链路，提高了测 试效率，降低了测试工作的强度。
本实用新型中分路/合路单元可釆用的具体器件有功分器，选通开关可采 用可调衰减器。
以下结合附图及具体实施例对本实用新型方案作详细的说明。 实施例1:
图3为本实用新型所述基站测试的连接装置的实施例1的结构示意图， 如图3所示，该装置30包括功分器1 3，可调衰减器20 21。其中，信号 源类仪表和基站10之间的上、下行通信信号通过由功分器1和功分器2组成 的链路1传送；基站发送的下行信号同时经过由功分器1、可调衰减器20和 功分器3组成的链路2传送至频谱仪13;信号源类仪表发送的上行信号同时 经过由功分器2、可调衰减器21和功分器3组成的链路3传送至频谱仪13。
测试时，首先将功分器1连接至外部的基站，功分器2连接至外部的信 号源类仪表，功分器3连接至外部的频谱仪13。在测试基站10的下行信号 时，将可调衰减器21调至较大衰减值，阻塞链路3上信号源类仪表所发送的 上行信号，排除该上行信号对测量的干扰；同时将可调衰减器20调至较小的 衰减值，选通链路2，从而频谱仪13此时所测量的信号为基站10发送的下 行信号。类似的，在测试信号源类仪表发送的上行信号时，调节可调衰减器 20至较大衰减值，可调衰减器20至较小衰减值，从而频谱仪13测量的信号
为信号源类仪表所发出的上行信号。
上述实施例的连接装置将所有的需要测试的链路都分别通过可调衰减器 连接至频谱仪13，在测试过程中通过调节可调衰减器20或21选通本次所测 试的链路，同时阻塞其他链路，从而在测试过程中无需反复拆除、搭建链路 的操作，基站也可以保持正常运行状态，无需删除、重建小区的操作，提高 了测试效率；同时，由于无需断开信号源类仪表与基站的连接，该装置可以 用于测试某些要求测试过程中链路仍然保持正常连接的信号源类仪表，例如 NBT等；同时，由于在大多数的实际环境中，终端与基站之间的上、下行链 路的衰减大致相同，而本实施例中功分器1和功分器2互为对称，使得链路 1上的上、下行信号的衰减大致相同，从而近似于实际的测试环境，非常有
利于基站的测试。 实施例2
在基站的测试中，通常基站需要同时连接到多个信号源类仪表。图4为 本实用新型实施例2的结构示意图，与图3相比，本实施例在功分器2和信 号源类仪表之间增加了功分器4。功分器4的分路端口分别连接至外部的多 个信号源类仪表，用于将多个信号源类仪表发出的信号合路后发送至功分器 2，以及用于将接收到的来自功分器2的信号分路后发送至各信号源类仪表； 通过功分器4，本实施例的基站测试的连接装置40可以同时连接多个信号源 类仪表进行测量，例如，图4中功分器4连接了3个信号源类仪表，即信号 源类仪表1至3。
本实施例的基站测试的连接装置40对上、下行信号的测试与实施例1大 致相同，只是在对某个信号源类仪表的上行信号进行测试时，需要首先关闭 待其它信号源类仪表，例如，图4中，当测试信号源类仪表l时，需要先将 信号源类仪表2和信号源类仪表3关闭。
实施例3
图5为本实用新型实施例3的结构示意图，与图3相比，本实施例的基 站测试的连接装置50增加了功分器5 6，可调衰减器22 23。图5中有3 个信号源类仪表，每个信号源类仪表发送的信号分别通过功分器(功分器2、 5、 6)和可调衰减器(可调衰减器21 23)发送至功分器3，经功分器3合 路后进入频谱仪13;同时，每个信号源类仪表发送的信号分别通过功分器(功 分器2、 5、 6)发送至功分器l。
由于每个信号源类仪表都是分别通过可调衰减器连接至频谱仪，因而在 测试某个信号源类仪表时，只需选通该仪表的测试链路，同时阻塞其他测试 链路即可对该信号源类仪表发送的信号进行测量，无需关闭信号源类仪表。
实施例4
图6为本实用新型实施例4的结构示意图，与图4相比，本实施例的基 站测试的连接装置60增加了功分器7，可调衰减器24 25。通过功分器7， 基站测试的连接装置60可同时与外部的多个基站相连，图6中为基站1和基 站2。并且，通过调节基站与功分器7之间的可调衰减器24，可以选通或阻 塞基站l的连接，类似的，调节可调衰减器25，可以选通或阻塞基站2的连 接，从而可以根据测试需要对各个基站分别或同时进行测试。按照本实施例
的这种结构，在测试过程中可以对多个基站进行测试。
例如，在多个基站同时接入的情况下，可以采用为各基站设置不同的小 区频点，使用不同的测试仪表分别对多个基站进行独立测试。例如，使用信
号源类仪表1发送频率为基站1的小区频点的信号，信号源类仪表2发送频 率为基站2的小区频点的信号，通过频谱仪13就可以对接收到的所有信号进 行观测，从而对多个基站同时进行测试。由于各基站的小区频点不同，某个 基站的信号对于其他基站只是相当于增加了噪声，而对其他基站的测试的影 响较小。
按照上述结构，本实施例的基站测试的连接装置60进一步实现了测试仪 表的复用，提高测试仪表的利用率。同时，功分器7、 l和功分器2、 4互为 对称结构，从而近似于实际的测试环境，有利于基站的测试。
实施例5
图7为本实用新型实施例4的结构示意图，与图6相比，图7进一步在 基站1和可调衰减器24之间增加了环路器27。环路器27有端口 1 3共三 个端口，环路器27各端口之间不同方向的信号有不同大小的衰减，例如，由 端口 l至2，端口2至3，端口3至1方向的信号衰减较小；而由端口2至1， 端口1至3，端口3至2方向的信号衰减较大。因此釆用环路器27可以实现 上、下行链路不对称的测试环境。本实施例中环路器27的端口 3与可调衰减 器24相连，当需要上行链路衰减较小、下行链路衰减较大的测试环境时，则 可以将基站与环路器27的端口 l相连；当需要上行链路衰减较大、下行链路 衰减较小的测试环境时，则可以将基站与环路器27的端口2相连。从而实现 了上、下行链路不对称的测试环境。
显然，本实用新型中也可以分别为各个接入的基站增加相应的环路器， 用于为各基站分别实现上、下行链路不对称的测试环境。
实施例6
图8为本实用新型的实施例6的结构示意图，如图8所示，该基站测试 的连接装置80结合了图5和图7的部分结构通过功分器7连接至基站1和 基站2;通过功分器2、 5、 6分别连接至信号源类仪表1至3，从而可连接外
部的多个基站和多个测试仪表。该基站测试的连接装置80可同时对多个基站 进行独立测试，并可以实现上、下行链路不对称的测试环境，提高了测试效
率和仪表复用率。并且，本实施例的连接装置80在测试过程中，通过串接在 测试链路上的可调衰减器选通或阻塞相应的测试链路，从而无需关闭任何基 站或测试仪表，只需通过调节相应的可调衰减器即可完成测试。
综上所述，本实用新型所述的基站测试的连接装置，在用于基站测试的 过程中，无需反复拆除、搭建测试链路的操作，从而降低了测试工作强度， 提高了测试效率；并且，本实用新型所述的基站测试的连接装置，实现了对 多个基站的同时测试，并提高了测试仪表的利用率；同时，该基站测试的连 接装置通过环路器进一步实现了上、下行链路不对称的测试环境。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含 在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种基站测试的连接装置，其特征在于，包括至少三个分路/合路单元，以及至少两个选通开关，所述第一分路/合路单元接收外部的基站发出的信号，将该信号分成至少两路信号，并将其中的一路信号经第一选通开关后发送至第三分路/合路单元，将另一路信号经第二分路/合路单元后发送至外部的信号源类仪表；所述第二分路/合路单元接收外部的信号源类仪表发出的信号，将该信号分成至少两路信号，并将其中的一路信号经第二选通开关后发送至第三分路/合路单元，将另一路信号经第一分路/合路单元后发送至外部的基站；所述第三分路/合路单元将上述经过第一选通开关和经第二选通开关后的信号合路后发送至外部的频谱仪类仪表。
2. 如权利要求1所述的连接装置，其特征在于，所述第二分路/合路单元 与外部的信号源之间进一步包括有至少一个分路/合路单元，所述至少一个分路/合路单元，用于将接收到的外部的各个信号源类仪表 发送的信号合路后发送至第二分路/合路单元，以及用于将接收到的来自第二 分路/合路单元的信号分路后发送至各个信号源类仪表。
3. 如权利要求1所述的连接装置，其特征在于还包括有至少一个与外部 的其它信号源类仪表一一对应的分路/合路单元和选通开关，用于分别接收各 信号源类仪表发送的信号，将接收到的信号分路成两路，并将其中的一路信 号经选通开关后发送至第三分路/合路单元，将另一路信号发送至第一分路/ 合路单元；所述第一分路/合路单元进一步用于将其接收到的分路后的信号源类仪 表发送的信号合路后发送至基站，以及用于将接收到的基站的信号分路后经 各信号源仪表所对应的分路/合路单元后发送至各信号源类仪表；所述第三分路/合路单元进一步用于将其接收到的经各选通开关后的信 号合路后发送至外部的频谱类仪表。
4. 如权利要求1所述的连接装置，其特征在于在所述第一分路/合路单元 与基站之间进一步包括有至少一个新增的分路/合路单元，该新增的分路/合路 单元通过与外部各基站一一对应连接的选通开关与各基站连接；所述新增的分路/合路单元，用于接收第一分路/合路单元发送的信号，将 上述信号分路，并将分路后的各路信号分别经所述与外部基站一一对应的选 通开关后发送至各基站，以及用于将接收到的经过各选通开关后的各基站信 号合路后发送至第一分路/合路单元。
5. 如权利要求4所述的连接装置，其特征在于，所述与基站对应的选通 开关进一步通过环路器与基站连接，所述环路器用于在改变其与基站的连接 端口时，调节基站上、下行链路的信号衰减程度。
6. 如权利要求1至5任一项所述的连接装置，其特征在于，所述分路/ 合路单元为功分器。
7. 如权利要求1至5任一项所述的连接装置，其特征在于，所述选通开 关为可调衰减器。
专利摘要本实用新型公开了一种基站测试的连接装置，用于在基站的测试过程中连接基站以及测试仪表。该装置通过分路/合路单元以及选通开关在基站与频谱仪之间，信号源类仪表与频谱仪之间搭建测试链路。在测试过程中，通过调节选通开关方便地选通或阻塞特定的链路，从而无需反复拆除和搭建测试链路，提高了测试效率和测试仪表的利用率，降低了测试工作的强度。
文档编号H04W76/02GK201063809SQ20072010339
公开日2008年5月21日 申请日期2007年1月30日 优先权日2007年1月30日
发明者马玉秋 申请人:大唐移动通信设备有限公司