专利名称：射频测试系统及其射频测试电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种射频测试系统。
背景技术：
科技的普及改变了人们的生活方式，其发展亦使得社会的型态起了相当大的变化，尤其 是无线通讯技术的发展与普及，改变了人际间沟通的方式，更縮短了人与人之间的距离。同 时，对于移动通信质量的要求也不断增加。要使移动通信达到较高的质量，除了要有良好的 设计外，测试也成为极重要的一环。
天线与射频组件作为移动通信的关键组件之一，其测试尤为重要。目前在射频组件测试 中均采用一种射频连接器作为测试的组件，所述射频连接器的插座设置在电路板上，插头通 过线缆接在测试仪器上。测试时，所述射频连接器的插座在电路上相当于一个开关，可以切 断天线端的信号输出，并将全部的功率传至测试仪器，便可测试天线的功率。
虽然使用射频连接器进行测试为一种相当普遍的方式，然而这种射频连接器相当昂贵。 同时，在电路板上设置射频连接器的插座，会占用一定的空间，不符合移动通信朝轻、薄、 小方向发展的趋势。
实用新型内容
有鉴于此，需提供一种没有射频连接器的射频测试系统。 还需提供一种没有射频连接器的射频测试电路。
一种射频测试系统，包括射频信号源、天线、射频测试电路、测试探针及测试仪器，射 频信号源用于产生射频信号。测试探针用于从射频测试电路撷取射频信号。测试仪器用于检 测所述测试探针所撷取的射频信号。射频测试电路设置于电路板上，并包括第一接垫、第二 接垫、传输线及一对接地，传输线位于所述接地之间。第二接垫位于第一接垫和天线之间且 与第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长。其中，测试时，测试探针与第一接垫电 性接触，第二接垫接地。
一种射频测试电路，设置于电路板上，用于通过测试探针和测试仪器测试射频信号。所 述射频测试电路包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，传输线位于所述接地之间。 第二接垫与第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长。其中，测试时，测试探针与第 一接垫电性接触，第二接垫接地。
因本实用新型的第二接垫接地可以起到与射频连接器相同的作用，从而降低了成本且结 构简单。
图1为本实用新型的射频测试系统模块图。
图2为本实用新型的射频测试电路的示意图
具体实施方式
请参照图l，揭示了本实用新型的射频测试系统100。所述射频测试系统100包括射频信 号源IO、测试探针20、测试仪器30、射频测试电路40及天线50，所述射频信号源10用于产生 射频信号给射频测试电路40。测试探针20用于从射频测试电路40撷取射频信号并传送给测试 仪器30 。测试仪器30用于检测测试探针20所撷取的射频信号。射频测试电路40用于连接射频 信号源10和天线50。测试探针20连接测试仪器30和射频测试电路40。
请参照图2，为本实用新型的射频测试电路40的实施方式，在印刷电路板41上设置有用 于电性连接测试探针20的第一接垫42、第二接垫44、金属薄片46、传输线48及一对接地49， 传输线48位于所述接地49之间。传输线48为微带线，其阻抗可以为50欧姆、75欧姆或100欧 姆。第一接垫42包括位于传输线48的信号接垫420和一对分别位于所述接地49的接地接垫 422。第二接垫44包括位于传输线48的信号接垫440和一对分别位于所述接地49的接地接垫 442。信号接垫420、 440和接地接垫422、 442分别为传输线48和所述接地49的裸铜部分。第 二接垫44位于天线50和第一接垫42之间，且，在电路板传输线为传输介质的情况下，第二接 垫44和第一接垫42之间的距离为射频信号的四分之一波长。
金属薄片46放置于第二接垫44的位置处以使第二接垫44接地。金属薄片46的面积略大于 第二接垫44的面积。接地金属薄片在图2中以虚线表示。因第一接垫42与测试探针20电性接 触，从而，在电路板传输线为传输介质的情况下，第二接垫44与测试探针20之间的距离也为 射频信号的四分之一波长。
测试时，将测试探针20接到第一接垫42上，金属薄片46放置于第二接垫44的位置处以使 第二接垫44的信号接垫440接地，从而射频信号直接通过测试探针20传递至测试仪器30，如 此即可测量出天线50的功率是否符合设计标准。
因在第二接垫44处放置有金属薄片46，从而使得射频信号因为短路而无法从天线50端辐 射出去。因此，附着金属薄片46的第二接垫44的作用犹如一个射频连接器，即可切断天线 50端的射频信号输出，使得天线50无法辐射能量。
因为，在电路板传输线为传输介质的情况下，第二接垫44与测试探针20之间的距离为射
频信号的四分之一波长，从而可以较好地切断天线50端的信号输出。
本实用新型的第二接垫44和金属薄片46可以起到与射频连接器相同的作用，但本实用新 型成本低廉且结构简单。
在其它实施方式中，也可不用金属薄片46，而是直接将第二接垫44的信号接垫442接地 ，如通过探针将第二接垫44的信号接垫442接地，也可以实现相同的功能并达到相同的目的
在其它实施方式中，第一接垫42可以只包括信号接垫420或只包括信号接垫420和一个接 地接垫422。
在其它实施方式中，第二接垫42可以只包括信号接垫440和一个接地接垫442。 在其它实施方式中，第一接垫42分别位于传输线48和所述接地49之上，并与传输线48和
所述接地49电性连接。所述第二接垫44分别位于传输线48和所述接地49之上，并与传输线
48和所述接地49电性连接。
权利要求权利要求1一种射频测试系统，其特征在于，包括射频信号源，用于产生射频信号；天线；射频测试电路，设置于电路板上，所述射频测试电路包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，所述传输线位于所述接地之间，所述第二接垫位于所述第一接垫和所述天线之间且与所述第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长；测试探针，用于从所述射频测试电路撷取射频信号及测试仪器，用于检测所述测试探针所撷取的射频信号；其中，测试时，所述测试探针与所述第一接垫电性接触，所述第二接垫接地。
2.如权利要求l所述的射频测试系统，其特征在于，所述第一接垫和 所述第二接垫分别为所述传输线和所述接地的裸铜部分。
3.如权利要求l所述的射频测试系统，其特征在于，所述第一接垫和 所述第二接垫分别位于所述传输线和所述接地之上并与所述传输线和所述接地电性连接。
4.如权利要求2或3所述的射频测试系统，其特征在于，所述第一接 垫包括位于所述传输线的信号接垫和至少一个位于其中 一个接地的接地接垫。
5.如权利要求2或3所述的射频测试系统，其特征在于，所述第二接 垫包括位于所述传输线的信号接垫及至少一个位于其中 一个接地的接地接垫。
6.如权利要求5所述的射频测试系统，其特征在于，所述射频测试电 路还包括金属薄片，所述金属薄片放置于所述第二接垫的位置处以使所述第二接垫接地。
7.如权利要求6所述的射频测试系统，其特征在于，所述金属薄片的 面积略大于所述第二接垫的面积。
8. 一种射频测试电路，设置于电路板上，用于通过测试探针和测试 仪器测试射频信号，其特征在于，包括 第一接垫；第二接垫，与所述第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长； 传输线；及一对接地，所述传输线位于所述接地之间；其中，测试时，所述测试探针与所述第一接垫电性接触，所述第二接垫接地。
9.如权利要求8所述的射频测试电路，其特征在于，所述第一接垫和所述第二接垫分别为所述传输线和所述接地的裸铜部分。
10.如权利要求8所述的射频测试电路，其特征在于，所述射频测试电路还包括金属薄片，所述金属薄片放置于所述第二接垫的位置处以使所述第二接垫接地。
专利摘要一种射频测试系统，包括射频信号源、天线、射频测试电路、测试探针及测试仪器，射频信号源用于产生射频信号。测试探针用于从射频测试电路撷取射频信号。测试仪器用于检测所述测试探针所撷取的射频信号。射频测试电路设置于电路板上，并包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，传输线位于所述接地之间。第二接垫位于第一接垫和天线之间且与第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长。其中，测试时，测试探针与第一接垫电性接触，第二接垫接地。
文档编号H04B17/00GK201207715SQ20082030031
公开日2009年3月11日 申请日期2008年3月7日 优先权日2008年3月7日
发明者吴正宇, 涛 颜 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司