专利名称：用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种图像采集系统的配件，尤其是一种用于颗粒状物料图像扫描 采集的扫描底板。
背景技术：
目前，现有的图像扫描系统的扫描仪在对颗粒状物料样品进行图像扫描时，为了 方便颗粒状物料样品的取放和收集，通常将颗粒状物料样品放置在可取放的扫描底板上。 现有的扫描底板包括透明底板和围设在所述透明底板上的框架，所述框架的底部与所述透 明底板固定连接。在使用时，将装有颗粒状物料样品的扫描底板放置于扫描仪底座的扫描 区域上，然后进行扫描；在扫描完成后，人工将扫描底板从扫描仪底座的扫描区域上取走， 并将扫描底板上的颗粒状物料样品全部倒出，使扫描底板清空，完成一次图像扫描采集过 程；重复上述步骤，从而实现对多批颗粒状物料样品的扫描。现有的扫描底板虽然能够起到 便于颗粒状物料样品的取放和收集，节省人工的作用。但其也存在有不足之处由于现有扫描底板的框架的内侧壁垂直设置于所述透明底板上。在扫描图像时， 扫描仪光源所发出的光线照射在框架上，框架内侧壁产生的反射图像进入到采集的图像中 会产生干扰，影响对样品图像的正确分析。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，该扫描 底板能够避免扫描时内侧壁的反射对所采集图像的干扰，提高颗粒状物料样品成像的准确 性。为达到上述目的，本实用新型提出的一种用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底 板，包括透明底板和围设在所述透明底板上的框架，所述框架的底部与所述透明底板固定 连接，所述框架的内侧壁向外倾斜地设置于所述透明底板上。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述框架的内侧壁 与所述透明底板的夹角呈95度 135度。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述框架的底部与 所述透明底板胶接固定。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述框架的内侧壁 面为亚光表面。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，在所述框架向外延 伸设有至少一个手持部。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述手持部与所述 框架为一体注塑成型结构。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述透明底板呈长 方形，所述长方形透明底板的至少两边所连接的所述内侧壁与所述透明底板的夹角呈95
3度 135度。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述透明底板为所 述透明底板为聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)材料的底板，即透明压克力材料的底板。如上所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其中，所述框架为塑料框
^K o与现有技术相比，本实用新型具有以下特点和优点1、本实用新型的扫描底板采用框架的内侧壁向外倾斜设置于透明底板上，即框架 的内侧壁与透明底板的夹角0呈95度 135度，有效避免了扫描时内侧壁的反射对所采 集图像的干扰，提高了图像的质量和图像处理结果的正确性。2、本实用新型在框架上设置手持部，便于扫描底板的取放。3、本实用新型的手持部与框架一体注塑成型，适于大批量生产、制造成本较低。4、本实用新型的框架与透明底板采用胶接固定，固定牢固，可靠性高。
以下附图仅旨在于对本实用新型做示意性说明和解释，并不限定本实用新型的范 围。其中，图1为本实用新型的结构示意图；图2为图1的A-A向剖视结构示意图；图3为本实用新型的立体结构示意图。附图标记说明1-扫描底板；2-透明底板；3-框架；4-手持部；5-框架的内侧壁。
具体实施方式
为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明 本实用新型的具体实施方式
。请参考图1至3，分别为用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板的结构示意图； 图1的A-A向剖视结构示意图；以及本实用新型的立体结构示意图。如图1至3所示，本实用新型用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板1，包括框 架3和透明底板2，所述框架3围设在所述透明底板2上，所述框架3的底部与所述透明底 板2固定连接，由于框架3具有一定的刚度，能够对透明底板2起到拉展固定的作用，从而 保持了透明底板2表面的平整度，有利于提高扫描成像效果。所述框架3的内侧壁5向外 倾斜地设置于所述透明底板2上，以保证扫描时，框架内侧壁产生的反射图像不会进入到 采集的图像中，避免了扫描图像受到干扰，从而保证透明底板2上所有颗粒状物料样品的 扫描成像效果。进一步的，如图2所示，所述框架的内侧壁5与所述透明底板2的夹角0呈95 度 135度。在本实施例中，透明底板2呈长方形，长方形透明底板2的至少两边所连接的 框架的内侧壁5与透明底板2的夹角0呈95度 135度，使得透明底板2的两边所连接 的框架的内侧壁5向外倾斜设置于透明底板2上，从而保证框架3不会在透明底板2上产 生反射光。但本实用新型也不限于此，只要框架的内侧壁5向外倾斜设置于透明底板2上，具体地讲，只要所述框架的内侧壁5与所述透明底板2的夹角0为95度 135度，使得框 架3不会影响透明底板2上的颗粒状物料样品的成像即可。进一步的，所述框架3的底部与所述透明底板2胶接固定，使得框架3与透明底板 2紧密结合。但本实用新型也不限于此，还可以采用螺钉连接或其他公知的固定连接方式， 只要能够保证框架3与透明底板2的牢固可靠性即可。进一步的，如图1至3所示，在所述框架3向外延伸设有至少一个手持部4，以便于 人工取放扫描底板。在本实施例中，在框架3上对称设有两个手持部4，以便于人工双手取 放扫描底板。在本实用新型中，手持部4设置的位置和数量，可以根据需要进行调整，只要 能够方便扫描底板的取放即可。进一步的，在本实施例中，所述手持部4与所述框架3为一 体注塑成型结构，以便于大批量加工生产，从而有利于降低生产成本。进一步的，在本实用新型中，所述透明底板2除了呈长方形以外，也可以呈正方 形、圆形或椭圆形或其它任何适宜的几何形状。进一步的，所述透明底板2采用现有的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)材料，俗称透明 压克力材料。该材料具有高透明度，透光率达92%以上，使得本实用新型扫描底板放置于扫 描仪底座的扫描区域上时，透明底板2能够完全映衬出背景板的颜色，以保证扫描图像的 清晰度和扫描质量。但本实用新型也不限于此，透明底板2也可以采用透明玻璃或其它公 知的透明材料，只要具有高透明度，满足扫描成像要求即可。另外，在本实用新型中，所述框架3为塑料框架，也可以采用金属框架或其它硬质 材料的框架。只要所述框架3具有一定的刚度，能够将透明底板2拉展固定，保持透明底板 2表面平整度即可。进一步的，所述框架的内侧壁5的表面可以采用亚光表面，从而减少了 侧壁的反光，提高了图像质量和图像处理结果的正确性。本实用新型的工作原理是本实用新型扫描底板的透明底板2放置于扫描仪的图 像扫描区上，之后，将颗粒状物料样品，如谷物、食品、医药、化工等颗粒材料，放置于透明 底板2上，通过扫描仪扫描获取颗粒物料的光学图像。在扫描时，扫描仪光源发出的光线穿 过透明底板2照射到颗粒物料上，由于框架3的内侧壁5向外倾斜设置于透明底板2上，即 框架的内侧壁5与透明底板2的夹角0呈95度 135度，这样扫描仪光线在框架的内侧 壁5上形成的反射光不会直接反射到采集的图像中，从而提高了图像的质量和图像处理结 果的正确性。在扫描完成后，操作人员可握住设置在框架3上的手持部4，以便于取走扫描 底板。本实用新型所采集图像避免了框架产生的反射阴影，提高了颗粒状物料样品成像的 准确性。并且，扫描底板便于取放、适于大批量生产、制造成本较低。以上所述仅为本实用新型示意性的具体实施方式
，并非用以限定本实用新型的范 围。任何本领域的技术人员，在不脱离本实用新型的构思和原则的前提下所作出的等同变 化与修改，均应属于本实用新型保护的范围。
权利要求一种用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述扫描底板包括透明底板、围设在所述透明底板上的框架，所述框架的底部与所述透明底板固定连接，所述框架的内侧壁向外倾斜地设置于所述透明底板上。
2.如权利要求1所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述 框架的内侧壁与所述透明底板的夹角呈95度 135度。
3.如权利要求1所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述 框架的底部与所述透明底板胶接固定。
4.如权利要求1所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述 框架的内侧壁面为亚光表面。
5.如权利要求1所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，在所 述框架向外延伸设有至少一个手持部。
6.如权利要求5所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述 手持部与所述框架为一体注塑成型结构。
7.如权利要求1所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特征在于，所述 透明底板呈长方形，所述长方形透明底板的至少两边所连接的所述内侧壁与所述透明底板 的夹角呈95度 135度。
8.如权利要求1至7中任一项所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特 征在于，所述透明底板为聚甲基丙烯酸甲酯材料的底板。
9.如权利要求1至7中任一项所述的用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，其特 征在于，所述框架为塑料框架。
专利摘要本实用新型公开了一种用于颗粒状物料图像扫描采集的扫描底板，包括透明底板、围设在所述透明底板上的框架，所述框架的底部与所述透明底板固定连接，所述框架的内侧壁向外倾斜地设置于所述透明底板上。所述内侧壁与所述透明底板的夹角为95度～135度。所述框架与所述透明底板胶接固定。在所述侧壁上向外延伸设有至少一个手持部。所述手持部与所述框架为一体注塑成型结构。本实用新型避免了扫描时内侧壁的反射对所采集图像的干扰，提高了颗粒状物料样品成像的准确性。并且，本实用新型扫描底板便于取放、适于大批量生产、制造成本较低。适用于对谷物、食品、医药、化工等颗粒状物料的外观质量检测。
文档编号H04N1/04GK201699811SQ20102023748
公开日2011年1月5日 申请日期2010年6月25日 优先权日2010年6月25日
发明者石突裕树, 越智龙彦, 郑军, 郝伟 申请人:北京东孚久恒仪器技术有限公司;株式会社佐竹