一种用于并行测试的多信道适配系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于并行测试的多通道适配系统，由第一衰减器、第二衰减器、放大/衰减模块、合路器、单刀四掷开关、第一放大/直通模块、第二放大/直通模块、第三放大/直通模块、第四放大/直通模块以及开关控制模块，第一衰减器的输入端连接测试仪器的信号输出端，第二衰减器的输出端连接测试仪器的信号输入端，第一放大/直通模块、第二放大/直通模块、第三放大/直通模块以及第四放大/直通模块的共8个输入/输出端口可以连接DUT的测试端口。本实用新型针对模块化仪器设计，同时兼容常见射频测试仪器，支持包括802.11a/b/g/n/ac以及Bluetooth等协议在内的多种通信协议的并行测试，并可对信号进行多级放大或衰减等信号调理。优秀的架构和功能设计，大大增加并行测试的灵活性，为发挥并行测试优势，提高测试效率提供了硬件基础。
【专利说明】一种用于并行测试的多信道适配系统
【技术领域】
[0001]本实用新型属于测试测量【技术领域】，具体涉及一种用于并行测试的多通道适配系统。
【背景技术】
[0002]现今，通信技术的快速发展推动着整个通信产业快速发展，产品巨大的需求以及产品的快速更新换代对产品的生产测试提出了更高的速度要求。并行测试在这种环境下被提出并迅速成为测试测量领域一个重要的发展方向。并行测试的核心思想是在指自动测试系统(Automatic Test System,ATS)在同一时间段内完成多项测试任务。具体包括两个方向，第一是ATS在同一时间段完成对多个DUT(Device Under Test，DUT)的测试；第二是ATS在同一时间段内完成对单个DUT的多个测试任务。并行测试通过在同一时间段内对多DUT或多测试任务并行测试提高了每个DUT或测试任务的平均测试时间，从而提高测试系统的吞吐量。此外，通过降低仪器的空闲率和提高CPU的占用率，提高了仪器的使用效率，降低了 DUT的平均测试成本。
[0003]要由传统的串行测试转换到测试效率更高的并行测试，就需要对传统的ATS进行改造。针对多DUT并行测试，需要在传统仪器的单独测试端口前加入多测试端口调理适配系统；针对单DUT多测试任务并行测试，就需要改造夹具或其相关部分以适应多仪器同时测试。本多通道适配系统是针对多DUT并行测试而设计的，仪器通过加装我们的多通道适配系统可以由单独测试端口转换成多测试端口以实现对多DUT进行并行测试。
【发明内容】
[0004]本实用新型的目的在于为并行测试提供一种多通道适配系统。
[0005]本实用新型提出的用于并行测试的多通道适配系统，由第一衰减器1、第二衰减器
2、放大/衰减模块7、合路器8、单刀四掷开关9、第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18、第四放大/直通模块19以及开关控制模块20。第一衰减器I的输入端连接测试仪器的信号输出端，第二衰减器2的输出端连接测试仪器的信号输入端,第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19的共8个输入/输出端口连接DUT的测试端口，放大/衰减模块7由第一单刀双掷开关3、第一放大器4、第三衰减器5以及第二单刀双掷开关6组成，第一单刀双掷开关3的两个不动端和第二单刀双掷开关6的两个不动端都是分别连接第一放大器4和第三衰减器5，第一单刀双掷开关3的动端作为信号的输入连接第一衰减器I的输出端，第二单刀双掷开关6的动端作为信号的输出连接合路器8，单刀四掷开关9的动端与合路器8相连，不动端与第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19进行双向连接；第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19这四个模块的结构相同，均由第三单刀双掷开关10、第二放大器11、第四单刀双掷开关12、第一功分器13、第四衰减器14以及第五衰减器15组成，第三单刀双掷开关10动端作为信号的输入连接单刀四掷开关9，两个不动端分别连接第四单刀双掷开关12的一个不动端和第二放大器11，第四单刀双掷开关12的另一个不动端连接第二放大器11，第四单刀双掷开关12的动端连接第一功分器13的输入端，第一功分器13的两个输出分别连接第四衰减器14和第五衰减器15，第四衰减器14和第五衰减器15的输出端作为放大/直通模块与DUT的测试端口相连的输入输出端口 ；开关控制模块20分别连接放大/衰减模块7、第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19。
[0006]本实用新型中所用到的所有衰减器、放大器、功分器、合路器、单刀双掷开关以及单刀四掷开关均为市售产品。
[0007]本实用新型的工作过程如下:
[0008](I)用户设置想要仪器测试的DUT通路以及想要仪器接收或发射的信号功率；
[0009](2)根据用户选择的测试DUT通路，开关控制模块20通过控制单刀四掷开关9来选择DUT通路；
[0010](3)根据用户设置的信号功率，开关控制模块20通过控制放大/衰减模块7、第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18、第四放大/直通模块19中的那些单刀双掷开关来选择不同的信号调理通路从而实现根据信号的功率强度来对信号进行不同的信号调理。
[0011]本实用新型针对模块化仪器设计，同时兼容常见射频测试仪器，支持包括802.lla/b/g/n/ac以及Bluetooth等协议在内的多种通信协议的并行测试，并可对信号进行多级放大或衰减等信号调理。优秀的架构和功能设计，大大增加并行测试的灵活性，为发挥并行测试优势，提高测试效率提供了硬件基础。
[0012]本用于并行测试的多通道适配系统具有以下技术特点:
[0013](I)具有多达4组8通道可用测试信号通路；
[0014](2)每个信号通路都具备信号调理能力，可对信号进行多级放大或衰减；
[0015](3)用户可以同开关控制模块动态实时的选择测试信号通路以及想要对信号进行的信号调理方式。
[0016](4)结合数字输出模块，可适配常见的射频测试仪器。
[0017]本实用新型具有很强的灵活性和适应性，加装到传统ATS系统可快速实现由传统串行测试向并行测试的升级。结合优秀的并行测试软件，充分发挥本实用新型的灵活性，可大大提高ATS的测试效率。
[0018]【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1为用于并行测试的多通道适配系统的结构图示。
[0020]图2为利用本实用新型搭建的并行测试系统的工作连接图。
[0021]图中标号:1、2分别为第一衰减器、第二衰减器，8为合路器，9为单刀四掷开关，7为放大/衰减模块，16、17、18、19分别为第一放大/直通模块、第二放大/直通模块、第三放大/直通模块、第四放大/直通模块，20为开关控制模块，3、6分别为第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关，4为第一放大器，5为第三衰减器，10,12分别为第三单刀双掷开关、第四单刀双掷开关，14,15分别为第四衰减器、第五衰减器，11为第二放大器，13为第一功分器，21为一种用于并行测试的多通道适配系统，22为矢量信号收发器，23为控制器，24为PXIe总线，25为PXIe机箱。
【具体实施方式】
[0022]下面通过实施例结合附图进一步说明本实用新型。
[0023]实施例1:
[0024]如图1所示，本实用新型提出的用于并行测试的多通道适配系统，由第一衰减器
1、第二衰减器2、放大/衰减模块7、合路器8、单刀四掷开关9、第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18、第四放大/直通模块19以及开关控制模块20。第一衰减器I的输入端连接测试仪器的信号输出端，第二衰减器2的输出端连接测试仪器的信号输入端，第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19的共8个输入/输出端口可以连接DUT的测试端口。多通道适配系统中的放大/衰减模块7由第一单刀双掷开关3、第一放大器4、第三衰减器5以及第二单刀双掷开关6组成。其中第一单刀双掷开关3的两个不动端和第二单刀双掷开关6的两个不动端都是分别连接第一放大器4、第三衰减器5，而第一单刀双掷开关3的动端作为信号的输入，第二单刀双掷开关6的动端作为信号的输出。第一放大/直通模块16、第二放大/直通模块17、第三放大/直通模块18以及第四放大/直通模块19这四个模块的结构相同，均由第三单刀双掷开关10、第二放大器11、第四单刀双掷开关12、第一功分器13、第四衰减器14以及第五衰减器15组成，第三单刀双掷开关10动端作为信号的输入，两个不动端分别连接第四单刀双掷开关12的一个不动端和第二放大器11，第四单刀双掷开关12的另一个不动端连接第二放大器11，第四单刀双掷开关12的动端连接第一功分器13的输入，第一功分器13的两个输出分别连接第四衰减器14和第五衰减器15，而第四衰减器14和第五衰减器15的输出端则作为第一放大/直通模块16与DUT的测试端口相连的输入输出端口。
[0025]将下列各部件按图2所示方式连接，该领域技术人员均能顺利实施。
[0026]控制器23采用NI PXIe-8135，矢量信号收发器22采用NI PXIe_5624R，PXIe机箱25选用NI PXIe-1082，一种用于并行测试的多通道适配系统21则选用本实用新型。其中，一种用于并行测试的多通道适配系统21的8个测试输入输出端口与DUT相连，仪器输入端口和仪器输出端口分别于矢量信号收发器22的输入端和输出端相连，开关控制端口与矢量信号收发器22数字输入输出端口相连，矢量信号收发器22与控制器23通过PXIe机箱25的PXIe总线24进行数据交互。
[0027]测试时，根据并行测试的需求，ATS可以通过矢量信号收发器22数字输入输出端口控制一种用于并行测试的多通道适配系统21来切换不同的DUT以及对信号进行不同的信号调理。本实施例采用的是软件无线电架构，将信号采集与处理分析分开，结合一种用于并行测试的多通道适配系统21的高度灵活性并合理调配ATS的各个资源可以大大提高测试效率。
【权利要求】
1.一种用于并行测试的多通道适配系统，由第一衰减器(I)、第二衰减器(2)、放大/衰减模块(7)、合路器(8)、单刀四掷开关(9)、第一放大/直通模块(16)、第二放大/直通模块(17)、第三放大/直通模块(18)、第四放大/直通模块(19)以及开关控制模块(20);其特征在于第一衰减器(I)的输入端连接测试仪器的信号输出端，第二衰减器(2)的输出端连接测试仪器的信号输入端，第一放大/直通模块(16)、第二放大/直通模块(17)、第三放大/直通模块(18)以及第四放大/直通模块(19)的共8个输入/输出端口连接DUT的测试端口，放大/衰减模块(7)由第一单刀双掷开关(3)、第一放大器(4)、第三衰减器(5)以及第二单刀双掷开关(6)组成，第一单刀双掷开关(3)的两个不动端和第二单刀双掷开关(6)的两个不动端都是分别连接第一放大器(4)和第三衰减器(5)，第一单刀双掷开关(3)的动端作为信号的输入连接第一衰减器(I)的输出端，第二单刀双掷开关(6)的动端作为信号的输出连接合路器(8)，单刀四掷开关(9)的动端与合路器(8)相连，不动端与第一放大/直通模块(16)、第二放大/直通模块(17)、第三放大/直通模块(18)以及第四放大/直通模块(19)进行双向连接；第一放大/直通模块(16)、第二放大/直通模块(17)、第三放大/直通模块(18)以及第四放大/直通模块(19)这四个模块的结构相同，均由第三单刀双掷开关(10)、第二放大器(11)、第四单刀双掷开关(12)、第一功分器(13)、第四衰减器(14)以及第五衰减器(15)组成，第三单刀双掷开关(10)动端作为信号的输入连接单刀四掷开关(9)，两个不动端分别连接第四单刀双掷开关(12)的一个不动端和第二放大器(11)，第四单刀双掷开关(12)的另一个不动端连接第二放大器(11)，第四单刀双掷开关(12)的动端连接第一功分器(13)的输入端，第一功分器(13)的两个输出分别连接第四衰减器(14)和第五衰减器(15)，第四衰减器(14)和第五衰减器(15)的输出端作为放大/直通模块与DUT的测试端口相连的输入输出端口 ；开关控制模块(20)分别连接放大/衰减模块(7)、第一放大/直通模块(16)、第二放大/直通模块(17)、第三放大/直通模块(18)以及第四放大/直通模块(19)。
【文档编号】H04B17/00GK203504585SQ201320636111
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年10月15日 优先权日:2013年10月15日
【发明者】刘峰, 邵晖, 李远朝, 潘博, 俞一鸣 申请人:上海聚星仪器有限公司