一种超短波通信设备通用发射机测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种超短波通信设备通用发射机测试系统，包括用于测试的发射机，该测试系统包括依次连接的控制面板、控制处理板、测试板和信号转接盒，所述信号转接盒和所述发射机相连接，以及还包括用于产生所述发射机混频频率的本振频率源，所述本振频率源分别与所述控制处理板和所述发射机相连接，其中，所述控制处理板还与所述信号转接盒相连接。本实用新型该测试平台能够向发射机提供本振频率源、产生控制信号、实现信号转接、提供测试接口等功能。该测试平台增强了发射机对镜像频率和杂波的抑制能力、提高了输入动态范围和整机灵敏度，满足了无线通信系统通信距离、数据传输误码率和语音通讯可懂度性能指标要求。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及通信设备【技术领域】，尤其涉及一种超短波通信设备通用发射机测 试系统。 一种超短波通信设备通用发射机测试系统
【背景技术】
[0002] 在无线通信领域，通信设备越来越复杂，高科技含量越来越多，功能越来越强大， 因此对无线通信设备的发射机提出了更高的要求，要求发射机镜像频率和杂波抑制能力 强，输入动态范围和整机灵敏度高，因此，我们必须对发射机高精度的技术指标及庞大信息 流提供测试平台。 实用新型内容
[0003] 本实用新型主要是解决现有技术中所存在的技术问题，从而提供一种超短波通信 设备通用发射机测试系统。
[0004] 本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
[0005] 本实用新型的超短波通信设备通用发射机测试系统，包括用于测试的发射机，该 测试系统包括依次连接的控制面板、控制处理板、测试板和信号转接盒，所述信号转接盒和 所述发射机相连接，以及还包括用于产生所述发射机混频频率的本振频率源，所述本振频 率源分别与所述控制处理板和所述发射机相连接，其中，所述控制处理板还与所述信号转 接盒相连接。
[0006] 进一步地，所述本振频率源包括第一本振频率和第二本振频率，所述第一、第二 本振频率均包括依次连接的鉴相频率源、锁相环鉴相器、压控振荡器、分频电路、DDS处理 器和时钟源，其中，所述时钟源与所述鉴相频率源相连接，以及还包括与所述DDS处理器 相连接的控制电路，所述控制电路和所述鉴相频率源与所述控制处理板相连接，且所述第 一本振频率产生的本振频率范围为960?1018MHz，所述第二本振频率产生的本振频率为 909.84MHz〇
[0007] 进一步地，所述本振频率源还包括有源比例积分滤波器和低通滤波器，所述有源 比例积分滤波器分别与所述锁相环鉴相器、压控振荡器相连接，所述低通滤波器分别与所 述DDS处理器和时钟源相连接。
[0008] 进一步地，所述时钟源为温补晶体振荡器。
[0009] 进一步地，所述锁相环鉴相器采用PFD结构，且其输入标称频率为12. 288MHz。
[0010] 本实用新型的有益效果在于：该测试平台能够向发射机提供本振频率源、产生控 制信号、实现信号转接、提供测试接口等功能。该测试平台增强了发射机对镜像频率和杂波 的抑制能力、提高了输入动态范围和整机灵敏度，满足了无线通信系统通信距离、数据传输 误码率和语音通讯可懂度性能指标要求。
【专利附图】
【附图说明】 toon] 为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例 或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅 是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提 下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012] 图1是本实用新型的超短波通信设备通用发射机测试系统的框架图；
[0013] 图2是本实用新型的超短波通信设备通用发射机测试系统的本振频率源的框架 图。
【具体实施方式】
[0014] 下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点 和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确 的界定。
[0015] 参阅图1-2所示，本实用新型的超短波通信设备通用发射机测试系统，包括用于 测试的发射机1，该测试系统包括依次连接的控制面板2、控制处理板3、测试板4和信号转 接盒5,信号转接盒5和发射机1相连接，以及还包括用于产生发射机1混频频率的本振频 率源6,本振频率源6分别与控制处理板3和发射机1相连接，其中，控制处理板3还与信号 转接盒5相连接。
[0016] 具体的，本振频率源6包括第一本振频率和第二本振频率，第一本振频率和第二 本振频率采用DDS+PLL(直接数字合成+锁相环）技术产生。第一、第二本振频率均包括依 次连接的鉴相频率源7、锁相环鉴相器8、压控振荡器10、分频电路11、DDS处理器12和时 钟源14,其中，时钟源14为温补晶体振荡器且与鉴相频率源7相连接，锁相环鉴相器8输入 标称频率优选为12. 288MHz。以及本振频率源6还包括与DDS处理器12相连接的控制电路 15,控制电路15和鉴相频率源7与控制处理板3相连接，且第一本振频率产生的本振频率 范围优选为960?1018MHz，第二本振频率产生的本振频率优选为909. 84MHz。其中，本振 频率源6还包括有源比例积分滤波器9和低通滤波器13,有源比例积分滤波器9分别与锁 相环鉴相器8、压控振荡器10相连接，低通滤波器13分别与DDS处理器12和时钟源14相 连接。
[0017] 本实用新型中，第一本振频率的DDS处理器12收到来自控制处理板3的32位频 率控制字后，经过锁相环路产生频率范围为（960?1018)MHz的本振频率。改变控制面板2 频率控制数据，可改变本振频率源6产生的频率。DDS处理器12的控制来源控制处理板3 的FPGA，接口方式采用SPI接口，32位控制数据，传输速率达到兆赫兹级，频率分辨率和频 率切换速率高。锁相环鉴相器8采用PFD结构，具有较大的频率锁定范围。由于采用组合 式环路，输出频率相位噪声、远近端杂散、频率切换时间等参数均满足系统高速跳频时对频 率的要求。第二本振频率的组成与第一本振频率相同，其DDS处理器12频率控制字在控制 箱上电正常工作后产生，产生频率固定，不可调节。
[0018] 本实用新型的超短波通信设备通用发射机测试系统的测试方法，包括如下步骤：
[0019] S10、在控制面板2上设置发射机1内数控电调滤波器接收频点；
[0020] S20、在控制面板2上设置本振频率源6的频率；
[0021] S30、控制处理板3接收控制面板2的频率控制信息，并转化为发射机1的控制信 息，且传输至测试板4;
[0022] S40、用标准测试仪器仪表检测本振频率源6的频率和测试板4上频率控制信息是 否正确，若是则执行步骤S50,反之，则返回步骤S10、步骤S20 ;
[0023] S50、用标准测试仪器仪表测试发射机1的性能指标。
[0024] 本实用新型中，标准测试仪器仪表包括矢量信号发生器，以及用于检测发射机性 能的频谱分析仪、数字万用表、四通道示波器、矢量信号分析仪、功率计、矢量网络分析仪 等，其中矢量信号发生器用于向发射机1注入频率范围为（fO)MHz的射频信号。本振频 率源6包括第一本振频率和第二本振频率，第一本振频率产生的本振频率范围为960? 1018MHz，第二本振频率产生的本振频率为909. 84MHz，第一、第二本振频率的频率步进不大 于ΙΟΚΗζ，幅度+7dBm，相位噪声不大于一 90dBc/Hz@lKHz，杂散电平不大于一 60dBc，频率切 换时间不大于70 μ s。
[0025] 本实用新型中，首先在控制面板2上设置数控电调滤波器接收频点（fO)MHz的控 制数据，在控制面板2键盘键入相应的频率数字，显示屏显示键盘键入的数字，数控电调滤 波器接收频点设置完毕；然后在控制面板2上设置本振频率源6,其中主要设置为本振频率 源6的第一本振频率（f0+930)MHz的控制数据，第二本振频率为定值，不可调节。在控制面 板2键盘键入相应的频率数字，显示屏显示键盘键入的数字，本振频率源频率设置完毕。控 制处理板3接收到控制面板2输入的控制信息后，转换成发射机1的控制信息，经电缆传输 至测试板4,用标准测试仪器测试对应频率源频率和输出控制信息是否准确，确认频率源工 作正常和控制信息无误后，即可打开矢量信号发生器向发射机注入频率范围为（f〇)MHz的 射频信号，最后用标准测试仪器仪表测试发射机性能指标，其中f〇优选为20. 16MHz。
[0026] 以上，仅为本实用新型的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此， 任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此， 本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。
【权利要求】
1. 一种超短波通信设备通用发射机测试系统，包括用于测试的发射机（1)，其特征在 于：该测试系统包括依次连接的控制面板（2)、控制处理板（3)、测试板（4)和信号转接盒 (5)，所述信号转接盒（5)和所述发射机（1)相连接，以及还包括用于产生所述发射机（1) 混频频率的本振频率源￠)，所述本振频率源（6)分别与所述控制处理板（3)和所述发射机 (1)相连接，其中，所述控制处理板（3)还与所述信号转接盒（5)相连接。
2. 根据权利要求1所述的超短波通信设备通用发射机测试系统，其特征在于：所述本 振频率源（6)包括第一本振频率和第二本振频率，所述第一、第二本振频率均包括依次连 接的鉴相频率源（7)、锁相环鉴相器（8)、压控振荡器（10)、分频电路（11)、DDS处理器（12) 和时钟源（14)，其中，所述时钟源（14)与所述鉴相频率源（7)相连接，以及还包括与所述 DDS处理器（12)相连接的控制电路（15)，所述控制电路（15)和所述鉴相频率源（7)与所 述控制处理板（3)相连接，且所述第一本振频率产生的本振频率范围为960?1018MHz，所 述第二本振频率产生的本振频率为909. 84MHz。
3. 根据权利要求2所述的超短波通信设备通用发射机测试系统，其特征在于：所述本 振频率源（6)还包括有源比例积分滤波器（9)和低通滤波器（13)，所述有源比例积分滤波 器（9)分别与所述锁相环鉴相器（8)、压控振荡器（10)相连接，所述低通滤波器（13)分别 与所述DDS处理器（12)和时钟源（14)相连接。
4. 根据权利要求2所述的超短波通信设备通用发射机测试系统，其特征在于：所述时 钟源（14)为温补晶体振荡器。
5. 根据权利要求4所述的超短波通信设备通用发射机测试系统，其特征在于：所述锁 相环鉴相器（8)采用PFD结构，且其输入标称频率为12. 288MHz。
【文档编号】H04B17/00GK203896359SQ201420265990
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年5月23日 优先权日:2014年5月23日
【发明者】吴佩伦, 余松, 魏旭 申请人:贵州航天天马机电科技有限公司