终端以及测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种终端及测试系统，所述终端包括终端本体、天线、射频电缆和电路板，所述电路板和所述射频电缆分别设有第一射频插头和第一射频插座，或者所述电路板和所述射频电缆分别设有第一射频插座和第一射频插头，所述第一射频插头与所述第一射频插座相配合，当所述第一射频插座与所述第一射频插头相连接时，所述天线传递信号至所述电路板，或者从所述电路板获取信号；当所述第一射频插座与所述第一射频插头相分离时，所述第一射频插座用于与测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线的信号接收或发送是否正常。
【专利说明】终端以及测试系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子设备领域，尤其涉及一种终端以及测试系统。
【背景技术】
[0002]目前很多终端的天线经常需要进行信号测试，以维修或排除天线故障。然而目前为了方便对天线的测试，在终端上会设有一个专门用于连接测试仪的射频连接器，如图1所示，此种结构需要在终端I上专门设置射频连接器2，在终端I不需要测试时，该射频连接器2没有任何用途，增加了终端的生产成本，以及增大了终端本体Ia上其他电子元器件的使用空间。
实用新型内容
[0003]本实用新型提供一种可以方便进行信号测试且生产成本小的终端。
[0004]本实用新型所提供的一种终端，所述终端包括终端本体、天线、射频电缆和电路板，所述天线固定于所述终端本体上，所述射频电缆包括第一端以及与所述第一端相对设置的第二端，所述第一端电连接所述天线，所述电路板固定于所述终端本体上，所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插头和第一射频插座，或者所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插座和第一射频插头，所述第一射频插头与所述第一射频插座相配合；
[0005]当所述第一射频插座与所述第一射频插头相连接时，所述天线传递信号至所述电路板，或者从所述电路板获取信号；当所述第一射频插座与所述第一射频插头相分离时，所述第二端用于与测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线的信号接收或发送是否正常。
[0006]本实用新型还提供一种测试系统，其中，所述测试系统包括上述的终端，以及测试仪,所述测试仪包括测试本体和测试接口，所述测试本体电连接所述测试接口的一端,所述测试接口的另一端用于与所述终端的第二端电连接，以发送信号至所述天线，或者从所述天线接收信号。
[0007]本实用新型的终端及测试系统，通过所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插头和第一射频插座，或者所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插座和第一射频插头，所述第一射频插头与所述第一射频插座相配合，当所述第一射频插座与所述第一射频插头相连接时，所述天线传递信号至所述电路板，或者从所述电路板获取信号；当所述第一射频插座与所述第一射频插头相分离时，所述第一射频插座用于与信号测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线的信号接收或发送是否正常，无需在终端中专门设置用于测试的射频连接器，减少了生产成本，增大了终端的其他电子元器件的使用空间。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0009]图1是现有的终端的结构示意图；
[0010]图2是本实用新型的终端的示意图；
[0011]图3是图2的终端的终端本体、电路板和天线的组装示意图；
[0012]图4是图3的终端的终端本体、电路板和天线的侧视图；
[0013]图5是图2的终端的第一射频插座的截面剖视图；
[0014]图6是图2的终端的第一射频插头的截面剖视图；
[0015]图7是本实用新型的测试仪的示意图；
[0016]图8是图7的测试仪的测试接口的放大示意图；
[0017]图9是图8的第一实施例中的测试接口沿A-A的剖面示意图；
[0018]图10是本实用新型的第二实施例中的测试接口截面示意图。
【具体实施方式】
[0019]下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0020]请参一并参阅阅图2、图3和图4，本实用新型实施方式提供的一种终端100，其包括终端本体10、天线20、射频电缆30和电路板40。所述天线20固定于所述本体10上。所述射频电缆30包括第一端31以及与所述第一端31相对设置的第二端32，所述第一端31电连接所述天线10，所述电路板40固定于所述终端本体10上，所述电路板40和所述第二端32分别设有第一射频插头41和第一射频插座32a，或者所述电路板40和所述第二端32分别设有第一射频插座32a和第一射频插头41。所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a相配合。当所述第一射频插座32a与所述第一射频插头41相连接时，即该第二端32电连接电路板40，所述天线10传递信号至所述电路板40，或者从所述电路板40获取信号；当所述第一射频插座32a与所述第一射频插头41相分离时，所述第二端32所设的第一射频插头41或第一射频插座32a用于与测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线20的信号接收或发送是否正常。
[0021]利用所述第二端32与测试仪相连接，实现对所述终端100的天线20进行测试。无需在所述终端100上专门设置一个用于测试的射频连接器，减少了生产成本，增大了终端的其他电子元器件的使用空间。
[0022]本实施方式中，所述电路板40和所述第二端32分别设有第一射频插头41和第一射频插座32a。具体的，所述终端100可以是手机、电脑、或对讲机的任意一种电子设备，本实施方式中，所述终端100为手机。所述终端本体10呈矩形板状，所述终端本体10包括顶端11和底端12。所述顶端11固定连接所述电路板40，所述顶端11包括相对设置的第一侧111和第二侧112。所述第一侧111设有插槽(未标示)，所述插槽容纳所述电路板40。所述第二侧112设有通孔(未标示)，所述通孔延伸至所述电路板40，所述通孔内固定所述第一射频插头41。所述底端12设有收容腔121，所述收容腔121开口端朝向所述顶端11，所述收容腔121收容所述天线20。当然，在其他实施方式中，所述终端本体还可以是包括两个壳体，所述天线和所述电路板还可以分别固定于所述两个壳体上。在另一实施例中，所述电路板和所述第二端还可以是分别设有第一射频插座和第一射频插头。
[0023]本实施方式中，所述天线20 为 PIFA (Planar Inverted F-shaped Antenna)天线，即平面倒F形天线。所述天线20用于接收或发送信号，所述天线20粘接于所述收容腔121内。所述天线20与所述第一端31电连接，利用所述射频电缆30传递电信号。当然，在其他实施方式中，所述天线还可以是Monopole天线，即单极天线。
[0024]本实施方式中，所述电路板40呈矩形板状，所述电路板40固定于所述插槽内，所述电路板40螺钉连接于所述终端本体10上。当所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a相连接时，所述天线20、射频电缆30和电路板40相连通，所述天线20从外界接收信号后，通过所述射频电缆30发送信号至所述电路板40 ;或者是，所述天线20通过所述射频电缆30从所述电路板40接收信号。当所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a相分离时，所述射频电缆30与所述电路板40断开，即所述天线20与所述电路板40断开，使得所述天线20可以单独进行测试。
[0025]进一步地，请参阅图5，所述第一射频插座32a包括插座正极321、插座绝缘块322和插座负极323。所述插座负极323设有圆环形的插槽323a，所述插座绝缘块322固定连接所述插座负极323，位于所述插槽323a的几何中心，所述插座正极321固定连接所述插座绝缘块322。所述插座正极321设有圆形插孔321a，所述插孔321a与所述插槽323a同轴设置，所述插孔321a与所述插槽323a开口方向相同设置。
[0026]通过所述第一射频插座32a设有同轴设置的插孔321a和插槽323a，实现方便与所述第一射频插头41 (见图3)可拆卸连接，或者与所述测试仪接口可拆卸连接。
[0027]具体的，所述插座负极323为金属件，所述插座负极323呈圆形杯状，所述插座负极323包括底板323b和圆环形外壁323c。所述外壁323c —体设置于所述底板323b上，所述插槽323a设置于所述外壁323c上，所述插槽323b内侧沿周向延伸有凸块323d，使得所述第一射频插座32a与插头的连接更稳固。所述插座绝缘块322为塑胶件，所述插座绝缘块322呈圆柱状，所述插座绝缘块322粘接于所述底板323b上，位于所述外壁323c内侧。所述插座绝缘块322与所述插槽321a同轴设置。所述插座正极321为金属件,所述插座正极321呈圆形杯状，所述插座正极321的底端固定于所述插座绝缘块322远离所述底板323b一端。所述插孔321a的开口口径小于底端口径，所述插孔321a开口端周缘设有沿母线延伸的缺口 321b，使得所述第一射频插座32a能够匹配多种规格的插头。当然，在其他实施方式中，所述第一射频插座还可以是螺纹式，即通过螺纹连接与其他射频插头相连接。
[0028]进一步地,请参阅图6,所述第一射频插头41包括插头正极411、插头绝缘块412和插头负极413。所述插头正极411设有圆柱形插针411 a，所述插头负极413设有圆环形插卡413a，所述插针411a与所述插卡413a同轴设置。所述插头绝缘块412连接于所述插头正极411和插头负极413之间。当所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a(见图5)相连接时,所述插针411a插于所述插孔321a(见图5)内，所述插卡413a插于所述插槽323a(见图5)内。
[0029]通过所述第一射频插头41设有所述插针411a和插卡413a，使得所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a相匹配。
[0030]具体的，所述插头正极411为金属件，所述第一射频插头41通过焊接的方式固定于所述电路板40(见图2)上。所述插头正极411呈圆柱形，所述插头正极411焊接所述电路板40的电缆(未图示)，所述插头正极411的底端镶嵌所述插头绝缘块412。所述插头绝缘块412围绕所述插头正极411设置。所述插头负极413包覆于所述插头绝缘块412外侦牝所述插头负极413呈圆环板件，所述插头负极413为金属件。所述插卡413外侧沿周向设有凹槽413b，使得所述第一射频插头41与插座的连接更稳固。当然，在其他实施方式中，若所述插座正极设置螺纹孔，则所述插头正极还可以是设置螺纹柱。
[0031]进一步地，当所述第一射频插头41与所述第一射频插座32a(见图5)相连接时，所述插针411a插于所述插孔321a内，所述插卡413a插于所述插槽323a内。
[0032]本实施方式中，在所述终端100不需要对所述天线20进行测试时，所述第二端32电连接于所述电路板40上，即所述第一射频插头41电连接所述第一射频插座32a，使得所述天线20从外界接收信号后传递至所述电路板40，或者从所述电路板40接收信号后外送至外界，实现所述终端100的通讯功能。具体的，所述插头正极411与所述插座正极321 (见图5)相连接，即所述插针411a插于所述插孔321a内；所述插头负极413与所述插座负极323相连接，即所述插卡413a插于所述插槽323a内。当所述插卡413插入所述插槽323a时，所述凹槽413b容纳所述凸块323d (见图5)。使得所述第一射频插座32a与所述第一射频插头41连接更稳固。当然，在其他实施方式中，所述第一射频插座和所述第一射频插头还可以是采用螺纹连接。
[0033]进一步地，请一并参阅图2、图3和图4，所述天线20和所述第一端31分别设有第二射频插头21和第二射频插座31a，或者所述天线20和所述第一端31分别设有第二射频插座31a和第二射频插头21，所述第二射频插座31a插于所述第二射频插头21上。所述第二射频插头21的射频插针(未标示)的延伸方向与所述第一射频插头41的插针411a的延伸方向相反。所述第一射频插头41的插针411a的延伸方向朝远离所述终端本体10方向延伸。
[0034]通过所述第二射频插座31a插于所述第二射频插头21上，使得所述射频电缆30与所述天线20之间可以拆卸连接。
[0035]本实施方式中，所述天线20和所述第一端31分别设有第二射频插头21和第二射频插座31a。具体的，所述第二射频插头21的结构与所述第一射频插头结构相同，不同的是所述第二射频插头21通过焊接方式固定于所述天线20上，并且所述第二射频插头21位于所述天线20收容于所述收容腔121—侧。使得所述第二射频插头21得到保护。所述第二射频插座31a的结构与所述第一射频插座32a结构相同，不同的是，所述第二射频插座31a的插槽开口方向与所述第一射频插嘴32a的插槽开口方向相反，并且所述第二射频插座31a收容于所述收容腔121内，使得所述第二射频插座31a与所述第二射频插头21的连接得到保护，不会随意断开。当然，在其他实施方式中，所述天线和所述第一端还可以是分别设有第二射频插座和第二射频插头。
[0036]请参阅一并参阅图2和图7，本实用新型还提供一种测试系统。所述测试系统包括所述终端100以及测试仪201。所述测试仪201包括测试本体210和测试接口 220，所述测试本体210电连接所述测试接口 220的一端。所述测试接口 220的另一端用于与终端的第二端32电连接，以发送信号至所述天线20，或者从所述天线20接收信号。
[0037]通过所述测试接口 220与所述第二端32电连接连接，使得所述测试仪201可以随时测试所述终端100，并且不会损坏所述终端100的结构。
[0038]具体的，在所述测试系统中，所述测试仪201可以为手机、电脑、或对讲机的任意一种终端设备进行测试，从而为各种终端维修提高效率及准确度，并且达到缩短时间且节省维修费用的效果。本实施方式中，所述测试仪201为手机进行测试，即所述测试仪201主要测试所述天线20的信号接收和发送是否正常。当所述天线20接收到信号时，利用所述第一端31电连接所述天线20，所述第二端32电连接所述测试接口 220的一端，再由所述测试接口 220的另一端电连接所述测试仪本体210，使得所述天线20的信号通过所述射频电缆30传递至所述测试仪本体210，即所述天线20将信号发送至所述测试仪201。同时，所述测试本体210对信号进行分析处理，并显示出对所述天线20的测试结果。当然，在其他实施方式中，所述终端若为电脑，则所述测试仪还可以是为电脑的网线接收设备进行测试。
[0039]进一步地，请一并参阅图7、图8和图9，本实用新型提供的第一实施例中，所述测试接口 220包括接口正极221、接口负极222和接口绝缘块223，所述接口正极221设有圆柱形插针221a，所述接口负极222设有圆环形插卡222a，所述插针221a与所述插卡222a同轴设置，所述接口绝缘块223连接于所述接口正极221和接口负极222之间。
[0040]通过所述测试接口 220设有所述插针221a和插卡222a，使得所述测试接口 220与所述第一射频插座32a(见图5)相匹配。
[0041]本实施例中，所述测试接口 220与所述第一射频插头41结构相同，所述第二端32(见图2)设置所述第一射频插座32a。具体的，所述接口正极221为金属件，所述接口正极221呈圆柱形，所述接口正极221的底端镶嵌所述接口绝缘块223。所述接口绝缘块223围绕所述接口正极221设置。所述接口负极222包覆于所述接口绝缘块223外侧，所述接口负极222呈圆环板件，所述接口负极222为金属件。所述测试插卡222a外侧沿周向设有凹槽222b，使得所述测试接口 220与插座的连接更稳固。当所述测试接口 220与所述第二端32的第一射频插座32a相连接时，所述测试插针221a插于所述插孔321a(见图5)内，所述测试插卡222a插于所述插槽323a(见图5)内。当所述插卡222a插入所述插槽323a时，所述凹槽222b容纳所述凸块323d(见图5)。使得所述第一射频插座32a与所述第一射频接口 41连接更稳固。当然，在其他实施方式中，若所述第二端设有所述第一射频插头，则所述测试接口还可以是与所述第一射频插座相同结构；若所述第一射频插座是螺纹式射频连接器，则所述测试接口也可以是设置螺纹式射频连接器。
[0042]进一步地，所述测试本体210与所述测试接口 220之间连接有同轴射频电缆230。
[0043]在所述测试本体210和所述测试接口 220之间连接所述同轴射频电缆230，实现所述测试接口 220和测试本体210之间信号传递，方便在使用所述测试仪201时，可以将所述测试本体210固定不动，方便测试。具体的，所述测试接口 220的一端与所述同轴射频电缆230 一端相焊接，所述同轴射频电缆230的另一端焊接于所述天线20的电缆上(未图示)。
[0044]进一步地，所述同轴射频电缆230设有自由连接座231，所述测试接口 220焊接于所述自由连接座231上。
[0045]本实施方式中，所述同轴射频电缆230远离所述测试本体210 —端设有所述自由连接座231。所述自由连接座231呈矩形块状，在对所述终端100进行测试时，所述自由连接座231可以随意移动，方便所述测试仪200对不同尺寸，不同规格的终端进行测试。
[0046]进一步地，如图10所述，在本实用新型的第二实施例中，所述测试接口 320包括接口正极320a、接口绝缘块320b和接口负极320c。所述接口负极320c设有圆环形的测试插槽320d，所述接口绝缘块320b固定连接所述接口负极320c，位于所述测试插槽320d的几何中心。所述接口正极320a固定连接所述接口绝缘块320b，所述接口正极320a设有圆形测试插孔320e。所述测试插孔320e与所述测试插槽320d同轴设置，所述测试插孔320e与所述测试插槽320d开口方向相同设置。
[0047]本实施例中，所述测试接口 320与所述第一射频插座32a(见图5)结构相同，所述第二端32(见图2)设置所述第一射频插头41 (见图3)。具体的，所述接口负极320c为金属件，所述接口负极320c呈圆形杯状，所述接口负极320c包括底板3a和圆环形外壁3b。所述外壁3b —体设置于所述底板3a上，所述测试插槽320d设置于所述外壁3b上，所述插槽320d内侧沿周向延伸有凸块3c，使得所述测试接口 320与插头的连接更稳固。所述接口绝缘块320b为塑胶件，所述接口绝缘块320b呈圆柱状，所述接口绝缘块320b粘接于所述底板3a上，位于所述外壁3b内侧。所述接口绝缘块320b与所述测试插槽320d同轴设置。所述接口正极320a为金属件，所述接口正极320a呈圆形杯状，所述接口正极320a的底端固定于所述接口绝缘块320b远离所述底板3a—端。所述测试插孔320e的开口口径小于底端口径，所述测试插孔320e开口端周缘设有沿母线延伸的缺口 3d，使得所述测试接口 320能够匹配多种规格的插头。当所述测试接口 320与所述第二端32的第一射频插头41相连接时,所述插针411a插于所述测试插孔320e内，所述插卡411b插于所述测试插槽320d内。当然，在其他实施方式中，所述测试接口还可以是螺纹式射频连接器，即通过螺纹连接与其他射频插头相连接。
[0048]本实用新型的终端及测试系统，通过所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插头和第一射频插座，或者所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插座和第一射频插头，所述第一射频插头与所述第一射频插座相配合，当所述第一射频插座与所述第一射频插头相连接时，所述天线传递信号至所述电路板，或者从所述电路板获取信号；当所述第一射频插座与所述第一射频插头相分离时，所述第一射频插座与信号测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线的信号接收或发送是否正常。无需在所述终端中专门设置用于测试的射频连接器，减少了生产成本，增大了终端的其他电子元器件的使用空间。
[0049]以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种终端，其特征在于，所述终端包括终端本体、天线、射频电缆和电路板，所述天线固定于所述终端本体上，所述射频电缆包括第一端以及与所述第一端相对设置的第二端，所述第一端电连接所述天线，所述电路板固定于所述终端本体上，所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插头和第一射频插座，或者所述电路板和所述第二端分别设有第一射频插座和第一射频插头，所述第一射频插头与所述第一射频插座相配合； 当所述第一射频插座与所述第一射频插头相连接时，所述天线传递信号至所述电路板，或者从所述电路板获取信号；当所述第一射频插座与所述第一射频插头相分离时，所述第二端用于与测试仪的测试接口相连接，以测试所述天线的信号接收或发送是否正常。
2.根据权利要求1所述的终端，其特征在于，所述第一射频插座包括插座正极、插座绝缘块和插座负极，所述插座负极设有圆环形的插槽，所述插座绝缘块固定连接所述插座负极，位于所述插槽的几何中心，所述插座正极固定连接所述插座绝缘块，所述插座正极设有圆形插孔，所述插孔与所述插槽同轴设置，所述插孔与所述插槽开口方向相同设置。
3.根据权利要求2所述的终端，其特征在于，所述第一射频插头包括插头正极、插头绝缘块和插头负极，所述插头正极设有圆柱形插针，所述插头负极设有圆环形插卡，所述插针与所述插卡同轴设置，所述插头绝缘块连接于所述插头正极和插头负极之间。
4.根据权利要求3所述的终端，其特征在于，当所述第一射频插头与所述第一射频插座相连接时，所述插针插于所述插孔内，所述插卡插于所述插槽内。
5.根据权利要求1所述的终端，其特征在于，所述天线和所述第一端分别设有第二射频插头和第二射频插座，或者所述天线和所述第一端分别设有第二射频插座和第二射频插头，所述第二射频插座插于所述第二射频插头上，所述第二射频插头的插针的延伸方向与所述第一射频插头的插针的延伸方向相反，所述第一射频插头的插针的延伸方向朝远离所述终端本体方向延伸。
6.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括权利要求1?5任意一项所述的终端，以及测试仪，所述测试仪包括测试本体和测试接口，所述测试本体电连接所述测试接口的一端，所述测试接口的另一端用于与所述终端的第二端电连接，以发送信号至所述天线，或者从所述天线接收信号。
7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试接口包括接口正极、接口负极和接口绝缘块，所述接口正极设有圆柱形测试插针，所述接口负极设有圆环形测试插卡，所述测试插针与所述测试插卡同轴设置，所述接口绝缘块连接于所述接口正极和接口负极之间。
8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试接口包括接口正极、接口绝缘块和接口负极，所述接口负极设有圆环形的测试插槽，所述接口绝缘块固定连接所述接口负极，位于所述测试插槽的几何中心，所述接口正极固定连接所述接口绝缘块，所述接口正极设有圆形测试插孔，所述测试插孔与所述测试插槽同轴设置，所述测试插孔与所述测试插槽开口方向相同设置。
9.根据权利要求7或8所述的测试系统，其特征在于，所述测试本体与所述测试接口之间连接有同轴射频电缆。
10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述同轴射频电缆设有自由连接座，所述测试接口焊接于所述自由连接座上。
【文档编号】H04B17/00GK204068957SQ201420423377
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年7月29日 优先权日:2014年7月29日
【发明者】徐洪亮 申请人:深圳市金立通信设备有限公司