一种基于光信号并行测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种基于光信号并行测试装置。该并行测试设备包括仪器输入端口(101)、预加重电路(102)、并行复制与切换开关(103)、多路输出电路(104)、电源模块(105)、控制模块(106)、上位机(107)、电光转换模块(108)；其中，预加重电路(102)的输入端接仪器输入端口(101)，预加重电路(102)的输出端接并行复制与切换开关(103)的输入端，并行复制与切换开关(103)的各输出端分别接对应的电光转换模块(108)，各电光转换模块(108)输出端分别为多路输出电路(104)的第一路至第N路输出；上位机(107)与控制模块(106)相连接，控制模块(106)的输出端接并行复制与切换开关(103)的控制端。本实用新型大大节约了测试成本，提供一种低成本测试方案。
【专利说明】一种基于光信号并行测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型是一种基于高速光信号的测试装置，属于高速信号传输与测试【技术领域】。
【背景技术】
[0002]随着高速串行总线的广泛使用，对于高速串行设备的研制也日趋要求越来越迫切。通常使用专业高速串行设备，产生所需的测试码型，对于串行设备性能进行评估。由于该类型设备价格非常昂贵，且多数仪器没有光接口，不方便测试与使用。如果要多通道高速信号并行同时测试，测试单位无法同时购买大量相同仪器，其参数调整复杂，不适合设备维护人员进行调整。因此，有必要提出一种方案来满足用户快速简单配置参数的需求，进行低成本的光接口并行高速信号测试。
【发明内容】
[0003]技术问题:本实用新型提供了一种光接口并行高速测试装置，通过操作人员在上位机的操作，自动切换测试仪器输出到哪个高速通道，也可以多通道同时输出，预加重电路保证其各通道信号完整性。本实用新型大大节约了测试成本。
[0004]技术方案:本实用新型的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于该并行测试设备包括仪器输入端口、预加重电路、并行复制与切换开关、多路输出电路、电源模块、控制模块、上位机、电光转换模块；其中，预加重电路的输入端接仪器输入端口，预加重电路的输出端接并行复制与切换开关的输入端，并行复制与切换开关的各输出端分别接对应的电光转换模块，各电光转换模块输出端分别为多路输出电路的第一路至第N路
[0005]输出；上位机与控制模块相连接，控制模块的输出端接并行复制与切换开关的控制端。
[0006]所述的控制模块的控制方法包括以下步骤:
[0007]步骤1:控制模块通过USB接口读取上位机配置的相应端口信号信息；
[0008]步骤2:根据USB接口的相应存储器位置判断，并切换用户指定通道即并行复制与切换开关，切换任意输出信号；
[0009]步骤3:根据USB接口的相应存储器位置判断，并切换用户指定通道，复制任意输出信号；
[0010]步骤4，控制电路等待N秒，N为大于I的整数，重新进入步骤I。
[0011]有益效果:所述的测试装置，其中所述输入电路带有自适应均衡器，可以有效改善信号质量，提高信号完整性。
[0012]其中所述开关切换与信号复制电路包括多个级联的高速数据缓冲器、高速开关构成，将输入端口的高速数据流复制到多个输出端口上。
[0013]所述开关切换与信号复制电路工作在任意高速速率上全覆盖，和所述仪器性能指标完全一致。
[0014]控制电路包括微处理器和周边电路，所述周边电路包括随机访问存储器、只读存储器、以太网接口和相应的以太网控制器芯片。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型的结构框图。
[0016]图中有:仪器输入端口 101、预加重电路102、复制与切换开关103、多路输出104、电源模块105、控制模块106、上位机107、电光转换模块108。
【具体实施方式】
[0017]图1显示了本实用新型的结构。该并行测试设备包括仪器输入端口 101、预加重电路102、并行复制与切换开关103、多路输出电路104、电源模块105、控制模块106、上位机107、电光转换模块108 ;其中，预加重电路102的输入端接仪器输入端口 101，预加重电路102的输出端接并行复制与切换开关103的输入端，并行复制与切换开关103的各输出端分别接对应的电光转换模块108，各电光转换模块108输出端分别为多路输
[0018]出电路104的第一路至第N路输出；上位机107与控制模块106相连接，控制模块106的输出端接并行复制与切换开关103的控制端。
[0019]仪器输入端口 101为SMA接口，方便地与专用测试仪器进行电口连接。
[0020]预加重电路102可以补偿由于PCB板上信号损失，改善信号完整性，实现更好的数据流输出。
[0021]信号复制电路103由多个级联的高速数据缓冲器构成，将输入端口的1G数据流复制到多个输出端口上。为了降低传输延迟。所有电路工作在与信号源相同速率等级上。
[0022]输出电路104由多个带光模块的驱动器组成，方便连接到光接口输出端子上，用于驱动符合高速测试标准的单模或多模光纤。
[0023]电源模块105包括输入的AC(110v or 220v)电路转变成低压的直流电源，例如12v。再通过一系列电源管理芯片转变成高速芯片供电的3.3v或者2.5v等低压供电。
[0024]上位机107提供友好的⑶I人机接口，用户可以方便地输入所需通道信息，实现控制功能。
[0025]电光转换模块108实现光电转换功能，并提供合适光接口输出光信号。
[0026]通过以上的电路设计，简化了系统的使用，操作人员仅需要在上位机上输入简单指令，而不需要人为设定各种参数，方便地实现了高速并行光接口信号测试。
【权利要求】
1.一种基于光信号并行测试装置，其特征在于该并行测试设备包括仪器输入端口(101)、预加重电路(102)、并行复制与切换开关(103)、多路输出电路(104)、电源模块(105)、控制模块(106)、上位机(107)、电光转换模块(108);其中，预加重电 路(102)的输入端接仪器输入端口(101)，预加重电路(102)的输出端接并行复制与切换开关(103)的输入端，并行复制与切换开关(103)的各输出端分别接对应的电光转换模块(108)，各电光转换模块(108)输出端分别为多路输出电路(104)的第一路至第N路输出；上位机(107)与控制模块(106)相连接，控制模块(106)的输出端接并行复制与切换开关(103)的控制端。
2.根据权利要求1所述的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于仪器输入端口(101)为SMA接口，方便地与专用测试仪器进行电口连接。
3.根据权利要求1所述的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于预加重电路(102)可以补偿由于PCB板上信号损失，改善信号完整性，实现更好的数据流输出。
4.根据权利要求1所述的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于，并行复制与切换开关(103)由多个级联的高速数据缓冲器构成，将输入端口的1G数据流复制到多个输出端口上，为了降低传输延迟，所有电路工作在与信号源相同速率等级上。
5.根据权利要求1所述的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于多路输出电路(104)由多个带光模块的驱动器组成，方便连接到光接口输出端子上，用于驱动符合高速测试标准的单模或多模光纤。
6.根据权利要求1所述的一种基于光信号并行测试装置，其特征在于上位机(107)提供友好的⑶I人机接口，用户可以方便地输入所需通道信息，实现控制功能。
【文档编号】H04B10/07GK204180080SQ201420575872
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2014年9月30日 优先权日:2014年9月30日
【发明者】苗澎 申请人:东南大学