射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质与流程

本发明涉及通信，尤其涉及一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质。

背景技术：

1、目前，对于基站的射频发射通道的性能测试，现有的方法通常是测试人员将射频发射通道与射频仪表进行连接，由射频仪表对射频发射通道的性能进行测试，但射频仪表的成本较高，并且一些基站处于测试人员难以到达的位置，给基站的射频发射通道的性能测试带来较大的困难。因此，如何提高射频发射通道的性能测试的便利性和降低测试成本是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，旨在提高射频发射通道的性能测试的便利性和降低测试成本。

2、第一方面，本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法，所述射频发射通道与反馈通道耦合，所述方法包括：在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。

3、第二方面，本发明实施例还提供一种射频发射通道的性能测试装置，所述性能测试装置包括反馈通道和数字信号处理器，所述反馈通道与所述射频发射通道耦合，所述反馈通道与所述数字信号处理器连接；

4、所述反馈通道被配置为，在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；

5、所述数字信号处理器被配置为，获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；

6、所述数字信号处理器还被配置为，按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。

7、第三方面，本发明实施例还提供一种基站，所述基站包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如本发明说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。

8、第四方面，本发明实施例还提供一种存储介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如本发明说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。

9、本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，该性能测试方法通过基站自身的与射频发射通道耦合的反馈通道来对射频信号进行采样，得到多个数字采样信号，并且在采样得到多个数字采样信号后，可以基于待测射频性能指标对应的信号处理策略，对多个数字采样信号进行相应的处理，得到信号处理结果，进而可以通过信号处理结果，计算出待测射频性能指标的测试值，不需要测试人员借助外部的射频仪表来测试射频发射通道的性能，极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。

技术特征：

1.一种射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述射频发射通道与反馈通道耦合，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述反馈通道包括模拟增益调整模块和模数转换器，所述通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号，包括：

3.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述待测射频性能指标包括邻信道功率比，所述信号处理策略包括第一信号处理策略，所述按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值，包括：

4.根据权利要求3所述的性能测试方法，其特征在于，所述至少两个功率谱曲线包括第一功率谱曲线和第二功率谱曲线，所述根据所述中心频率、所述主信道带宽和至少两个所述功率谱曲线，计算所述射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率，包括：

5.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述待测射频性能指标包括误差矢量幅度，所述信号处理策略包括第二信号处理策略，所述按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值，包括：

6.根据权利要求5所述的射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算所述误差矢量幅度的测试值，包括：

7.根据权利要求1-6中任一项所述的射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值之后，还包括：

8.一种射频发射通道的性能测试装置，其特征在于，所述性能测试装置包括反馈通道和芯片，所述反馈通道与所述射频发射通道耦合，所述反馈通道与所述芯片连接；

9.一种基站，其特征在于，所述基站包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的射频发射通道的性能测试方法的步骤。

10.一种存储介质，用于计算机可读存储，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现权利要求1至7中任一项所述的射频发射通道的性能测试的方法的步骤。

技术总结
本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，属于通信领域。该方法包括：在获取到射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过反馈通道对射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算待测射频性能指标的测试值。本发明实施例的技术方案极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。

技术研发人员：黎辉勇,邵晓亮,石一逴,黄睿
受保护的技术使用者：中兴通讯股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8