MWDM半有源的损耗测试系统、方法、校准方法、设备及介质与流程

本申请涉及信息，尤其涉及一种基于mwdm半有源的损耗测试系统、方法、校准方法、设备及介质。

背景技术：

1、随着国家光通信网络的逐步部署，光纤网络在我国的规模不断扩大。5g作为国家战略，成为通信行业的重要建设任务。其中，5g前传承载方案主要分为光纤直驱方案和波分设备承载方案。

2、可以理解，5g前传承载方案如果采用传统的光纤直连方案，很多情况下，不但需要消耗大量纤芯，还需要更换光模块。这样，光纤直连前传方案的成本将明显高于无源波分方案，而且光纤直连方案还常常受到纤芯资源的限制，所以，无源波分在5g前传中得到了更广泛的应用。但若采用无源波分方案，当链路故障时没有保护手段，为解决光纤链路的管理和保护问题，出现了半有源波分前传方案。

3、其中，半有源波分前传方案包括基于mwdm的半有源波分前传方案，对应基于mwdm的半有源系统，基于mwdm的半有源系统需要串接到线路中，并且主要集成了光功率检测功能，在该功能下，基于mwdm的半有源系统可以具体监测2个方向的光功率变化，此功能包括两个关键点：一是对于在线路中的半有源设备的损耗有严格要求；二是对于在线路中的半有源设备的监测性能有严格要求，必须精确监测。所以，必须严格控制半有源系列的产品在差损和光精度这两个指标。

4、发明人至少发现：在相关技术中，针对mwdm半有源系列的产品的功率损耗测试为人工手动操作，测试效率和准确性均较低。

技术实现思路

1、本申请的一个目的是提供一种基于mwdm半有源的损耗测试系统、方法、校准方法、设备及介质，至少用以解决相关技术中，针对mwdm半有源系列的产品的功率损耗测试效率和准确性均较低的技术问题。

2、为实现上述目的，本申请的一些实施例提供了一种基于mwdm半有源的损耗测试系统，所述系统包括第一测试单元和/或第二测试单元，所述第一测试单元、所述第二测试单元用于分别对被测mwdm设备进行损耗测试；

3、所述第一测试单元包括第一光发射单元和第一光功率检测单元；所述第一光发射单元的输出端和所述被测mwdm设备的输入端连接，所述被测mwdm设备的输出端和所述第一光功率检测单元的输入端连接；

4、所述第二测试单元包括第二光发射单元、光复用单元、光选路单元和第二光功率检测单元；所述第二光发射单元的输出端和所述光复用单元的输入端连接，所述光复用单元的输出端和所述被测mwdm设备的输入端连接，所述被测mwdm设备的输出端和所述光选路单元的输入端连接，所述光选路单元的输出端和所述第二光功率检测单元的输入端连接。

5、本申请的一些实施例还提供了一种基于mwdm半有源的损耗测试方法，应用于如上任意一项所述的系统，所述方法包括：

6、所述被测mwdm设备于所述第一测试单元进行测试时，所述第一光发射单元发射与目标波道对应的第一发射功率的光波；获取所述第一光功率检测单元测得的第一检测功率；根据所述第一发射功率和所述第一检测功率，确定所述被测mwdm设备于第一方向下基于所述目标波道的功率损耗；

7、所述被测mwdm设备于所述第二测试单元测试时，所述第二光发射单元发射与所述目标波道对应的第二发射功率的光波，在所述光复用单元对接收到的光波合波后，通过所述光选路单元进行选路，以使与所述目标波道对应的通道连通至第二光功率检测单元；获取所述第二光功率检测单元测得的第二检测功率、所述光复用单元的第一功率损耗和所述光选路单元的第二功率损耗；根据所述第二发射功率、所述第二检测功率、所述第一功率损耗和所述第二功率损耗确定所述被测mwdm设备于第二方向下基于所述目标波道的功率损耗。

8、本申请的一些实施例还提供了一种基于mwdm半有源的损耗校准方法，应用于如上任意一项所述的系统，所述方法包括：

9、所述被测mwdm设备于所述第一测试单元进行测试时，获取所述被测mwdm设备于目标波道的第一采样值；获取所述第一光功率检测单元的第一光功率值；其中，所述第一光功率值为去除所述被测mwdm设备的功率损耗的影响后得到的值；结合线性回归算法、所述第一采样值和所述第一光功率值，确定所述被测mwdm设备的第一参数值；根据所述第一参数值，对所述被测mwdm设备于第一方向下基于所述目标波道的功率损耗进行校准；

10、所述被测mwdm设备于所述第二测试单元进行测试时，获取所述被测mwdm设备于所述目标波道的第二采样值；获取所述第二光功率检测单元的第二光功率值；其中，所述第二光功率值为去除所述光选路单元的功率损耗的影响后得到的值；结合所述线性回归算法、所述第二采样值和所述第二光功率值，确定所述被测mwdm设备的第二参数值；根据所述第二参数值，对所述被测mwdm设备于第二方向下基于所述目标波道的功率损耗进行校准。

11、本申请的一些实施例还提供了一种电子设备，所述设备包括：一个或多个处理器；以及存储有计算机程序指令的存储器，所述计算机程序指令在被执行时使所述处理器执行如上任意一项所述的方法。

12、本申请的一些实施例还提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令可被处理器执行以实现如上任意一项所述的方法。

13、相较于现有技术，本申请实施例提供的方案中，可以分别通过所述第一测试单元和/或第二测试单元对所述被测mwdm设备完成两个方向的光功率的损耗测试；由于可以通过系统硬件结构的相关参数值自动计算出所述被测mwdm设备于各波道的功率损耗，并且自动切换不同的波道直至完成所需波道的损耗检测，整个过程中，相关工作人员只需启动程序即可，无需人工进行相关端口的插拔切换以及人工计算的操作，因而不仅可以避免因人工失误造成的计算差错，而且可以提升功率损耗的检测效率。进一步地，所述系统还可以结合线性回归算法，根据所述第一测试单元和/或第二测试单元自动对所述被测mwdm设备进行功率校准，该过程中也可以避免因人工失误造成的计算差错，而且可以提升功率损耗的校准效率。

技术特征：

1.一种基于mwdm半有源的损耗测试系统，其特征在于，所述系统包括第一测试单元和/或第二测试单元，所述第一测试单元、所述第二测试单元用于分别对被测mwdm设备进行损耗测试；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一光发射单元、所述被测mwdm设备和所述第一光功率检测单元之间均为光纤连接；

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一测试单元还包括第一系统控制单元；

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的系统，其特征在于，所述被测mwdm设备为被测波长在1267.5nm～1374.5nm之间的被测mwdm设备。

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的系统，其特征在于，所述被测mwdm设备的被测波长的数量为12波。

6.一种基于mwdm半有源的损耗测试方法，应用于如权利要求1至5中任意一项所述的系统，其特征在于，所述方法包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.一种基于mwdm半有源的损耗校准方法，应用于如权利要求1至5中任意一项所述的系统，其特征在于，所述方法包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令可被处理器执行以实现如权利要求6至8中任意一项所述的方法。

技术总结
本申请提供了一种基于MWDM半有源的损耗测试系统、方法、校准方法、设备及介质，其中，系统包括第一测试单元和/或第二测试单元，第一测试单元、第二测试单元用于分别对被测MWDM设备进行损耗测试；第一测试单元包括第一光发射单元和第一光功率检测单元；第一光发射单元的输出端和被测MWDM设备的输入端连接，被测MWDM设备的输出端和第一光功率检测单元的输入端连接；第二测试单元包括第二光发射单元、光复用单元、光选路单元和第二光功率检测单元；第二光发射单元的输出端和光复用单元的输入端连接，光复用单元的输出端和被测MWDM设备的输入端连接，测MWDM设备的输出端和光选路单元的输入端连接，光选路单元的输出端和第二光功率检测单元的输入端连接。

技术研发人员：揭德锋,吴志远,谢虎,李琳,霍正鸣
受保护的技术使用者：上海欣诺通信技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13