基于终端的探测器坏点确认方法、装置、终端及存储介质与流程

文档序号:36936739发布日期:2024-02-02 22:04阅读:25来源:国知局
基于终端的探测器坏点确认方法、装置、终端及存储介质与流程

本申请涉及图像处理,特别涉及一种基于终端的探测器坏点确认方法、装置、终端及存储介质。


背景技术:

1、在相关技术中,当探测器中存在坏点时,会使采集到的图像数据发生异常,进而使重建图像中出现噪声以及伪影,降低了图像质量。现有的确认方法只能通过探测器上自带的屏幕进行坏点确认,其确认难度较大,且准确性低,严重影响探测器成像质量。

2、需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

3、申请内容

4、鉴于以上技术问题中的至少一项,本申请提供一种基于终端的探测器坏点确认方法、装置、终端及存储介质,解决了现有的确认方法只能通过探测器上自带的屏幕进行坏点确认,其确认难度较大,且准确性低,严重影响探测器成像质量的问题。

5、本实施例实施例的第一方面,提供一种基于终端的探测器坏点确认方法,应用于终端中,方法包括:

6、获取测试图像,并于显示界面中显示测试图像,测试图像为探测器的镜头正对温度均匀的黑色泡棉所采集;

7、判断测试图像中是否存在坏点;当测试图像中存在坏点时,响应于操作指令,获取并储存坏点的坐标,并根据坏点坐标,在显示界面中标记出标记区域;

8、获取高温实时图像,并于显示界面中显示高温实时图像,高温实时图像为探测器被放置于高低温箱中并以设定高温所采集;

9、判断高温实时图像中是否存在坏点,当高温实时图像中存在坏点,则坏点显示于标记区域中;

10、获取低温实时图像,并于显示界面中显示低温实时图像,低温实时图像为探测器被放置在高低温箱中并以设定低温所采集;

11、判断低温实时图像是否存在坏点,当低温实时图像中存在坏点,则坏点显示于标记区域中。

12、本申请具有如下技术效果,本方法通过借助终端,方便实时监控探测器的出图情况,并且能够及时发现探测器上的坏点,还能准确无误定位到坏点坐标,使用方便,操作简便。

13、在一些可能的实现方式中,获取测试图像之前,还包括:

14、获取初始图像,并于显示界面中显示初始图像,初始图像为探测器的镜头正对温度均匀的黑色泡棉所采集;

15、获取低增益采集图像,并于显示界面中显示低增益采集图像,低增益采集图像为探测器的镜头正对低温黑体所采集,低增益采集图像为完全处于黑体辐射面中;

16、获取高增益采集图像,并于显示界面中显示高增益采集图像,高增益采集图像为探测器的镜头正对高温黑体所采集,高增益采集图像为完全处于黑体辐射面中。

17、在一些可能的实现方式中,低温黑体的参考温度为30℃。

18、在一些可能的实现方式中,高温黑体的参考温度为60℃。

19、在一些可能的实现方式中,设定高温为50℃。

20、在一些可能的实现方式中,设定低温为-10℃。

21、在一些可能的实现方式中,操作指令包括点击或框选。

22、本申请实施例的第二方面,提供一种基于终端的探测器坏点确认装置,包括:

23、第一获取模块,用于获取测试图像,并于显示界面中显示测试图像,测试图像为探测器的镜头正对温度均匀的黑色泡棉所采集;

24、第一判断模块,用于判断测试图像中是否存在坏点;当测试图像中存在坏点时,响应于操作指令,获取并储存坏点的坐标,并根据坏点坐标,在显示界面中标记出标记区域;

25、第二获取模块,用于获取高温实时图像,并于显示界面中显示高温实时图像,高温实时图像为探测器被放置于高低温箱中并以设定高温所采集;

26、第二判断模块,用于判断高温实时图像中是否存在坏点,当高温实时图像中存在坏点,则坏点显示于标记区域中;

27、第三获取模块,用于获取低温实时图像,并于显示界面中显示低温实时图像,低温实时图像为探测器被放置在高低温箱中并以设定低温所采集;

28、第三判断模块,用于判断低温实时图像是否存在坏点,当低温实时图像中存在坏点,则坏点显示于标记区域中。

29、本申请实施例的第三方面,提供一种用户终端,包括处理器及存储器,存储器储存有计算机程序,处理器执行计算机程序时实现本申请实施例的第一方面的基于终端的探测器坏点确认方法的步骤。

30、本申请实施例的第四方面,提供一种存储介质,其储存有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例的第一方面的基于终端的探测器坏点确认方法的步骤。

31、下面结合附图与实施例,对本申请进一步说明。


技术实现思路



技术特征:

1.一种基于终端的探测器坏点确认方法,应用于终端中,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述获取测试图像之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述低温黑体的参考温度为30℃。

4.根据权利要求2所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述高温黑体的参考温度为60℃。

5.根据权利要求1所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述设定高温为50℃。

6.根据权利要求1所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述设定低温为-10℃。

7.根据权利要求1所述的基于终端的探测器坏点确认方法,其特征在于,所述操作指令包括点击或框选。

8.一种基于终端的探测器坏点确认装置,其特征在于,包括:

9.一种用户终端,包括处理器及存储器,所述存储器储存有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权1至权7任一所述基于终端的探测器坏点确认方法的步骤。

10.一种存储介质,其储存有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权1至权7任一所述基于终端的探测器坏点确认方法的步骤。


技术总结
本申请属于坏点确认技术领域,尤其涉及一种基于终端的探测器坏点确认方法、装置、终端及存储介质,应用于终端中,方法包括:获取测试图像,并于显示界面中显示测试图像;判断测试图像中是否存在坏点;当测试图像中存在坏点时,响应于操作指令,获取并储存坏点的坐标,并根据坏点坐标,在显示界面中标记出标记区域;获取高温实时图像,并于显示界面中显示高温实时图像;判断高温实时图像中是否存在坏点;获取低温实时图像,并于显示界面中显示低温实时图像;判断低温实时图像是否存在坏点。本方法通过借助终端,方便实时监控探测器的出图情况,并且能够及时发现探测器上的坏点,还能准确无误定位到坏点坐标,使用方便,操作简便。

技术研发人员:蔡伟明,韩贝,陈闰,胡明,杨倩
受保护的技术使用者:优利德科技(中国)股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/1
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