一种流水线3合1耳机测试结构的制作方法

本申请涉及耳机测试设备，具体为一种流水线3合1耳机测试结构。

背景技术：

1、耳机是一对转换单元，它接受来自媒体播放器或接收器所发出的电讯号，利用贴近耳朵的扬声器将其转化成可以听到的音波。具有真无线连接、无线连接和有线连接的耳机为三合一耳机，三合一耳机在生产出来后需要进行测试，来确定耳机的质量。

2、三合一耳机测试时通过耳机老化架对耳机进行测试，老化架主要由充电箱体、支撑板和万向轮组成，老化架在使用时不能很好地对耳机在不同温度下进行老化测试，测试效果单一。

3、因此，亟需一种流水线3合1耳机测试结构，来解决老化架不能很好地在不同温度下对耳机进行老化测试的问题。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本申请提供了一种流水线3合1耳机测试结构，具备调节测试温度的优点，解决了老化架不能很好地对耳机在不同温度下进行老化测试的问题。

2、为实现上述目的，本申请提供如下技术方案：一种流水线3合1耳机测试结构，包括耳机老化架本体、万向轮和支撑板，四组所述万向轮设置于耳机老化架本体底部四角，若干组所述支撑板焊接于耳机老化架本体两侧对称位置，所述支撑板顶部设置有防护机构，所述耳机老化架本体一侧设置有加热机构；

3、所述加热机构包括耳机老化架本体一侧焊接的底座，所述底座顶部焊接有加热箱，所述加热箱内侧设置有三组加热管，所述加热箱顶部连通有第一连接管，所述第一连接管远离加热箱的一端连通有风机，所述风机设置于耳机老化架本体靠近底座的一侧，所述风机出气口连通有第二连接管。

4、风机通过第二连接管将热空气通入到防护板内部，从而让耳机老化架本体可以在不同温度下对耳机的老化进行测试。

5、优选的，所述加热箱正面焊接有支撑环，所述支撑环内侧设置有过滤网。

6、优选的，若干组所述加热管位于加热箱内部呈线性分布。

7、优选的，所述防护机构包括支撑板顶部焊接的防护板，所述防护板内侧设置有挡板，所述挡板远离耳机老化架本体的一侧焊接有拉架，底部所述防护板一侧设置有温度记录仪本体。

8、优选的，所述挡板通过铰链与防护板连接。

9、优选的，所述拉架为u形板体。

10、优选的，若干组所述防护板与第二连接管连通。

11、综上所述，本申请包括以下至少一种有益效果：

12、1、该流水线3合1耳机测试结构，风机启动时，风机通过第一连接管抽取加热箱内部的热空气，风机通过第二连接管将热空气通入到防护板内部，从而让耳机老化架本体可以在不同温度下对耳机的老化进行测试，从而提高耳机老化架本体的使用效果。

13、2、该流水线3合1耳机测试结构，通过防护板和挡板的防护，使得耳机在支撑板上测试时，使得耳机不会从支撑板上掉落，从而保护了三合一耳机的安全，让耳机老化架本体更好的使用。

技术特征：

1.一种流水线3合1耳机测试结构，包括耳机老化架本体(1)、万向轮(2)和支撑板(3)，其特征在于：四组所述万向轮(2)设置于耳机老化架本体(1)底部四角，若干组所述支撑板(3)焊接于耳机老化架本体(1)两侧对称位置，所述支撑板(3)顶部设置有防护机构，所述耳机老化架本体(1)一侧设置有加热机构；

2.根据权利要求1所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：所述加热箱(112)正面焊接有支撑环(117)，所述支撑环(117)内侧设置有过滤网(118)。

3.根据权利要求1所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：若干组所述加热管(113)位于加热箱(112)内部呈线性分布。

4.根据权利要求1所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：所述防护机构包括支撑板(3)顶部焊接的防护板(211)，所述防护板(211)内侧设置有挡板(212)，所述挡板(212)远离耳机老化架本体(1)的一侧焊接有拉架(213)，底部所述防护板(211)一侧设置有温度记录仪本体(214)。

5.根据权利要求4所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：所述挡板(212)通过铰链与防护板(211)连接。

6.根据权利要求4所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：所述拉架(213)为u形板体。

7.根据权利要求4所述的一种流水线3合1耳机测试结构，其特征在于：若干组所述防护板(211)与第二连接管(116)连通。

技术总结
本申请涉及耳机测试设备技术领域，且公开了一种流水线3合1耳机测试结构，包括耳机老化架本体、万向轮和支撑板，四组万向轮设置于耳机老化架本体底部四角，若干组支撑板焊接于耳机老化架本体两侧对称位置，支撑板顶部设置，加热机构包括耳机老化架本体一侧焊接的底座，底座顶部焊接有加热箱，加热箱内侧设置有三组加热管，加热箱顶部连通有第一连接管，第一连接管远离加热箱的一端连通有风机，风机设置于耳机老化架本体靠近底座的一侧，风机出气口连通有第二连接管。该流水线3合1耳机测试结构，风机通过第二连接管将热空气通入到防护板内部，从而让耳机老化架本体可以在不同温度下对耳机的老化进行测试。

技术研发人员：周旭东
受保护的技术使用者：深圳市首创微电子科技有限公司
技术研发日：20230301
技术公布日：2024/1/15