一种工业相机曝光测试设备及测试方法与流程

本申请涉及测试设备的，尤其是涉及一种工业相机曝光测试设备及测试方法。

背景技术：

1、工业相机是一种用于自动化流水线上，对成品、半成品进行拍照检测的设备。随着工业相机的分辨率越来越高、生产效率提高和流水线速度的加快，工业相机为了获得清晰的图像，需要更短的曝光时间。

2、工业相机在收到触发信号（启动工业相机拍照的信号）后，并不能立即进行曝光，因为感光芯片内部会有一定的固定延时（从几us到上百us），在实际应用中，闪光灯可能是由外部设备控制，不由工业相机控制（参照附图2），那么此延时会造成工业相机曝光与闪光灯不同步，所以需要测量此延时并告之用户，以使用户能调整闪光灯的延时来与工业相机的曝光延时匹配。因此，需要研究一种测试设备自动测试曝光延时和曝光时间两项参数。

技术实现思路

1、为了至少部分解决上述技术问题，本申请提供了一种工业相机曝光测试设备及测试方法。

2、第一方面，本申请提供的一种工业相机曝光测试设备采用如下的技术方案。

3、一种工业相机曝光测试设备，包括：

4、led阵列；所述led阵列包括若干个等距排布的led灯；每个所述led灯依次发光且发光时长相等；

5、时序电路；所述时序电路用于与工业相机相电连接；所述时序电路与所述led阵列相电连接；所述时序电路用于产生发送给所述工业相机的触发信号以及产生驱动所述led阵列工作的脉冲；

6、背光调节电路；所述背光调节电路用于为所述led阵列提供背景光；所述背景光的亮度小于所述led灯发光时的亮度；

7、mcu；所述mcu与所述时序电路相电连接；所述mcu用于设置所述时序电路的参数以使所述时序电路输出不同间隔的脉冲以及实现所述led阵列的翻页。

8、可选的，所述测试设备还包括：

9、显示模块；所述显示模块与所述mcu相电连接；所述显示模块用于显示当前的脉冲间隔及翻页数量；

10、输入模块；所述输入模块与所述mcu相连接；所述输入模块用于设置脉冲间隔以及翻页数量；所述输入模块还用于向所述mcu发送启动指令；所述启动指令用于触发所述mcu启动测试步骤。

11、可选的，所述时序电路包括：晶体振荡器、fpga及驱动电路；

12、所述晶体振荡器用于产生时钟脉冲至所述fpga；

13、所述fpga与所述mcu相电连接，所述fpga接收所述mcu发出的指令并基于所述指令对时钟脉冲进行处理，将处理后得到的脉冲发送至所述驱动电路；对时钟脉冲的处理包括：分频、占空比改变及延时处理中的至少一个；

14、所述驱动电路与所述led阵列相电连接，所述驱动电路将所述fpga发送的所述脉冲进行升压并将升压后的脉冲发送至所述led阵列。

15、可选的，所述背光调节电路包括：可调电阻vr1、运算放大器及开关电源；

16、所述可调电阻vr1的其中一固定脚接vcc，另一固定脚接gnd，可调端连接于所述运算放大器的正相输入端；

17、所述运算放大器的反相输入端连接于所述运算放大器的输出端；

18、所述开关电源的输入端连接于所述运算放大器的输出端；所述开关电源的输出端与所述led阵列相连接；所述开关电源的输出的电压与运算放大器输出的电压成反比例变化。

19、可选的，所述输入模块包括按键模块；所述显示模块包括数码管；所述按键模块包括设置按键及启动按键。

20、第二方面，本申请提供的一种工业相机曝光测试方法采用如下的技术方案。

21、一种工业相机曝光测试方法，包括：

22、通过设置按键设置led阵列中led灯发光间隔时长ti；所述；所述t为理论曝光延时；所述n为led灯总数；

23、在启动按键被按下后，相机进入曝光延时且led阵列中的led灯开始轮流发光；

24、在相机曝光延时结束后，读取所述相机输出的图像；

25、基于所述图像得到处于发光状态的led灯的最小编号n1；

26、得到第一曝光延时。

27、可选的，所述方法还包括：

28、基于所述第一曝光延时设置翻页数p1；翻页数；

29、在启动按键被按下后，相机进入曝光延时且led阵列中的led灯开始轮流发光；

30、在相机曝光延时结束后，读取所述相机输出的图像；

31、基于所述图像得到处于发光状态的led灯的最小编号n2；

32、得到第二曝光延时。

33、可选的，判断是否满足，若是，则得到；其中，tl为相机设置的曝光时间，td1为第一曝光延时，tl1为第一实际曝光时间，n3为发光led灯的数量。

34、可选的，若不满足；则设置翻页数；

35、得到，tl2为第二实际曝光时间，n4为发光led灯的最大编号。

技术特征：

1.一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：

3.根据权利要求2所述的一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，所述时序电路包括：晶体振荡器、fpga及驱动电路；

4.根据权利要求3所述的一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，所述背光调节电路包括：可调电阻vr1、运算放大器及开关电源；

5.根据权利要求4所述的一种工业相机曝光测试设备，其特征在于，所述输入模块包括按键模块；所述显示模块包括数码管；所述按键模块包括设置按键及启动按键。

6.一种工业相机曝光测试方法，基于权利要求5所述的测试设备，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的一种工业相机曝光测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

8.根据权利要求7所述的一种工业相机曝光测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

9.根据权利要求8所述的一种工业相机曝光测试方法，其特征在于，若不满足；则设置翻页数；

技术总结
本申请涉及一种工业相机曝光测试设备及测试方法，涉及测试设备的技术领域，测试设备包括：LED阵列；所述LED阵列包括若干个等距排布的LED灯；每个所述LED灯依次发光且发光时长相等；时序电路；所述时序电路用于与工业相机相电连接；所述时序电路与所述LED阵列相电连接；所述时序电路用于产生发送给所述工业相机的触发信号以及产生驱动所述LED阵列工作的脉冲；背光调节电路；所述背光调节电路用于为所述LED阵列提供背景光；所述背景光的亮度小于所述LED灯发光时的亮度；MCU；所述MCU与所述时序电路相电连接；所述MCU用于设置所述时序电路的参数以使所述时序电路输出不同间隔的脉冲以及实现所述LED阵列的翻页。

技术研发人员：聂忠强
受保护的技术使用者：深圳市度申科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8