射频测试机用通讯模块和射频测试机的制作方法

本发明涉及射频测试，尤其涉及一种射频测试机用通讯模块和射频测试机。

背景技术：

1、在半导体芯片的生产过程中，对于芯片的功能性能测试是一道必不可少的工艺。传统的手动测试方法效率低下，容易出错，难以满足大规模生产与复杂测试任务的需求；要实现半导体芯片的自动测试，需要测试机与分选机/探针台的紧密合作，而现今测试机与分选机、探针台等设备间通讯方式多种多样，但整体趋势表现为更高的数据传输速度、结果互认、自动识别等。

2、现实中，同一芯片生产企业可能会在不同厂家分别采购测试机、分选机与探针台，各厂家采用的通讯接口不尽相同，这导致在半导体自动测试设备开发生产时需要根据客户分选机/探针台设备定制通讯接口，并且在生产导入过程中，需要与不同厂家的分选机/探针台进行实机联调，联调过程中需要实际操作一台测试机、一台分选机/探针台，需要耗费较多人力、物力，对于测试机、分选机/探针台出厂前检验或测试机与分选机/探针台互联状况检验较为不利。

3、测试机（ate）与分选机（handler）之间的通讯，测试机接收到分选机的测试开始信号（start of test，sot信号）后，开始对芯片进行测试，结束后测试机按实际情况返回不同的测试分类结果给分选机，然后测试机发送测试结束信号（end of test，eot信号）给分选机，即完成一颗芯片的测试。测试站点（test site，或者简称site）是指能够独立执行射频性能测试的一个物理位置或逻辑单元，测试程序可以控制测试机对多个测试站点并行或串行测试，一般情况下，分选机最多可支持8个测试站点同时工作，对应的测试机也设置有8个测试站点。测试机根据被测产品测试结果对其进行分类（即分bin），并将分类信号（即bin信号）发送至分选机，分选机根据分类信号将产品搬送至对应物理位置，一般每个测试站点最多对应8种分类信号。

4、分选机发出的一组芯片开始测试信号是一次性的，一旦测试机未成功捕获，测试机就不会开始测试，也就不会发结束测试信号给分选机，从而导致整个测试系统宕机，严重影响测试生产效率。传统的测试机需要根据分选机通讯接口需求设计通讯协议，且需要与分选机实体进行联调，耗费大量人力、物力资源，影响测试机研究开发进度。

5、公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的总体背景技术的理解，而不应当被视为承认，或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的问题，本发明提供一种射频测试机用通讯模块和射频测试机。

2、本发明的技术方案提供的一种射频测试机用通讯模块，通讯模块包括：主控芯片，主控芯片能够与测试机中的上位机通讯连接；若干第一ttl（transistor-transistorlogic，晶体管-晶体管逻辑）通讯接口，第一ttl通讯接口与主控芯片连接，第一ttl通讯接口能够与分选机/探针台通讯连接，第一ttl通讯接口能够接收分选机/探针台发送的测试开始信号，并且能够向分选机/探针台返回测试结束信号和分类信号。

3、可选地，若干第一ttl通讯接口包括具有不同数量引脚的多种类型的接口，每个接口与主控芯片的不同管脚连接。

4、可选地，通讯模块还包括：与上位机通讯连接的gpib（general-purposeinterface bus，通用接口总线）通讯接口和以太网通讯接口。

5、可选地，通讯模块包括前面板，前面板集成gpib通讯接口、以太网通讯接口和若干第一ttl通讯接口。

6、可选地，通讯模块以抽屉式的方式安装在测试机箱体内。

7、本发明的技术方案还提供的一种射频测试机，测试机包括通讯模块。

8、可选地，测试机中的上位机内设置有测试软件，测试软件支持gpib、ttl、以太网三种通讯协议，测试软件调用通讯模块的通讯接口以实现上位机与分选机/探针台的数据交互。

9、可选地，测试机中的上位机内设置有调试软件，调试软件包括：显示模块，当接收到测试开始信号，显示模块通过显示预设信息，使得调试者获知与测试开始信号对应的测试站点；返回模块，返回模块形成分类信号和测试结束信号，并调用通讯模块传递给分选机/探针台。

10、可选地，测试机中的上位机内设置有模拟软件，模拟软件包括：第一信号发送模块，第一信号发送模块能够向通讯模块发送测试开始信号；第一信号接收模块，第一信号接收模块能够自通讯模块接收上位机返回的分类信号。

11、可选地，测试机还包括调试工具，调试工具包括：若干第二ttl通讯接口，第二ttl通讯接口用来与第一ttl通讯接口通讯连接；第二信号发送模块，第二信号发送模块能够向通讯模块发送测试开始信号；第二信号接收模块，第二信号接收模块能够自通讯模块接收上位机返回的分类信号和测试结束信号；若干电压比较器，所述电压比较器与所述第二信号接收模块连接，所述电压比较器中预设有参考电平，将所述第二信号接收模块接收到的所述分类信号或者所述测试结束信号作为对比电平，所述电压比较器对所述参考电平和所述对比电平进行比较；led模块，所述led模块与所述电压比较器连接，在所述电压比较器接收到所述分类信号或者所述测试结束信号时，所述led模块中相应的led单元闪烁。

12、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

13、本发明的有益效果：增加射频测试机的通讯的便利性。

技术特征：

1.一种射频测试机用通讯模块，其特征在于，所述通讯模块包括：

2.根据权利要求1所述的射频测试机用通讯模块，其特征在于，所述若干第一ttl通讯接口包括具有不同数量引脚的多种类型的接口，每个接口与所述主控芯片的不同管脚连接。

3.根据权利要求1所述的射频测试机用通讯模块，其特征在于，所述通讯模块还包括：

4.根据权利要求3所述的射频测试机用通讯模块，其特征在于，所述通讯模块包括前面板，所述前面板集成所述gpib通讯接口、所述以太网通讯接口和所述若干第一ttl通讯接口。

5.根据权利要求1所述的射频测试机用通讯模块，其特征在于，所述通讯模块以抽屉式的方式安装在所述测试机箱体内。

6.一种射频测试机，其特征在于，所述测试机包括权利要求1-5中任一所述通讯模块。

7.根据权利要求6所述的测试机，其特征在于，所述测试机中的上位机内设置有测试软件，所述测试软件支持gpib、ttl、以太网三种通讯协议，所述测试软件调用所述通讯模块的通讯接口以实现所述上位机与所述分选机/探针台的数据交互。

8.根据权利要求7所述的测试机，其特征在于，所述测试机中的上位机内设置有调试软件，所述调试软件包括：

9.根据权利要求8所述的测试机，其特征在于，所述测试机中的上位机内设置有模拟软件，所述模拟软件包括：

10.根据权利要求9所述的测试机，其特征在于，所述测试机还包括调试工具，所述调试工具包括：

技术总结
本发明提供一种射频测试机用通讯模块和射频测试机，所述通讯模块包括：主控芯片，所述主控芯片能够与所述测试机中的上位机通讯连接；若干第一TTL通讯接口，所述第一TTL通讯接口与所述主控芯片连接，所述第一TTL通讯接口能够与分选机/探针台通讯连接，所述第一TTL通讯接口能够接收所述分选机/探针台发送的测试开始信号，并且能够向所述分选机/探针台返回测试结束信号和分类信号。本发明能够增加射频测试机的通讯的便利性。

技术研发人员：张宇,陈夏凯,倪超,曹蒙,刘松磊,吴文超
受保护的技术使用者：南京派格测控科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2025/3/27