电路板及其多功能射频测试座的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及射频通信领域，尤其涉及一种电路板及其多功能射频测试座。
【背景技术】
[0002] 随着移动通信终端产品的超薄化和大屏化发展，在产品有限的内部空间中需要容 置电池、电路板、显示屏、天线等众多功能性模块，要保证尽量大的电池容量，就意味着在现 有的设计空间中，留给电路板的空间越来越小，如何在有限的电路板空间上集成更多的功 能是目前移动通信终端产品设计中需要考虑的问题。为方便调试，在电路板电路布局时，一 般会预留较多数量的调试点，用于产线调试，所述调试点的存在无疑会占用一部分的电路 板面积，不利于有限空间下的电路布局。此外，为方便进行射频性能测试，电路板上还预留 有射频测试座。所述调试点和射频测试座的设置均是为了方便产线调试，因此不能去除，为 了节省电路板布局空间，需要对所述调试点和射频测试座的布局进行优化。
【发明内容】
[0003] 鉴于W上情况，有必要提供一种多功能射频测试座。
[0004] 另，还有必要提供一种应用该多功能射频测试座的电路板。
[0005] -种多功能射频测试座，用于无线终端产品射频性能测试或基带调试时的测试信 号输出，该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中也导体，该基座为一由 导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘 层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后 水平伸出，构成一息臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的息臂下端设有一 凸点，该中也导体为一与该基座同圆也的圆形金属片，其一端与该输入端的息臂连接，另一 端在该输入端的息臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。
[0006] 一种电路板，包括射频功率放大器和基带芯片，该电路板还包括多功能射频测试 座，该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中也导体，该基座为一由导电 金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层， 该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平 伸出，构成一息臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的息臂下端设有一凸 点，该中也导体为一与该基座同圆也的圆形金属片，其一端与该输入端的息臂连接，另一端 在该输入端的息臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。
[0007] 所述多功能射频测试座通过将所述基座作为基带调试信号的输出点，有效减少了 单独基带调试点的存在，提升了该电路板的空间利用率。
【附图说明】
[0008] 图1为本发明较佳实施例的多功能射频巧IJ试座的俯视图。
[0009] 图2为图1所示多功能射频测试座的II-II剖面图。
[0010] 图3为本发明较佳实施例的电路板的原理框图。
[0011] 主要元件符号说明
如下【具体实施方式】将结合上述附图进一步说明本发明。
【具体实施方式】
[0012] 请参阅图1，本发明较佳实施例提供一种多功能射频测试座100,该射频测试座 100设置于无线终端产品的电路板上，可兼容射频性能测试W及基带调试功能，用于无线终 端产品射频性能测试或基带调试时的测试信号输出。
[0013] 请结合参阅图2,该射频测试座100包括基座10、绝缘层20、输入端30、输出端40 和中也导体50。该基座10为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构， 其顶端直径小于底端直径，从而在该基座10底端内部形成一较大的容置空间11。该基座 10内壁及底端上设置有绝缘层20。该输入端30为一金属导电片，该输入端30从该基座10 底端引入该容置空间11，并沿该基座10内壁上的绝缘层20垂直向上延伸一段距离后水平 伸出，构成一息臂。该输出端40与该输入端30相互对称地设置于该容置空间11内，并从 该基座10底端引出，该输出端40的息臂下端设有一凸点41。该中也导体50为一圆形金属 片，其一端与该输入端30的息臂连接，另一端在该输入端30的息臂的弹力作用下与该输出 端40上的凸点41弹性接触，该中也导体50与该基座10同圆也设置。可W理解，对于高频 信号而言，该基座10和该中也导体50之间等效为一电容；而对于低频信号，该基座10和该 中也导体50之间等效为开路。
[0014] 请结合参阅图3,本发明还提供一种应用该多功能射频测试座的电路板200,该电 路板200包括多功能射频测试座100、射频功率放大器60和基带芯片70。在对该电路板200 进行射频性能测试时，该多功能射频测试座100的中也导体50与该射频功率放大器60的 射频输出端PA_0UT连接，用于输出射频测试信号，该基座10通过一电容C接地，根据电容 通交流阻直流、通高频阻低频的特性，在射频性能测试时，该基座10即为射频信号的参考 地。当射频测试插头插入该多功能射频测试座100时，射频测试插头的探针顶开该中也导 体50与该多功能射频测试座100的输出端40的连接，从而使射频测试信号从该中也导体 50输出。在对该电路板200进行基带调试时，该基座10与该基带芯片70的调试接口Debug 连接，对于低频的调试信号，该基座10与地之间的电容C相当于开路，因此，该基座10即为 基带信号的调试点，用于输出基带调试信号。
[0015] 所述多功能射频测试座100通过合理利用该基座10,实现基带芯片调试的功能， 有效减少了单独调试点的存在，提升了电路板200的空间利用率。
[0016] W上所述，仅为本发明的较佳实施例，并非是对本发明作任何形式上的限定。另 夕F，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，该些依据本发明精神所做的变 化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
【主权项】
1. 一种多功能射频测试座，用于无线终端产品射频性能测试或基带调试时的测试信号 输出，其特征在于：该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该 基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上 设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸 一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂 下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬 臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。2. 如权利要求1所述的多功能射频测试座，其特征在于：所述基座通过一电容接地。3. 如权利要求2所述的多功能射频测试座，其特征在于：当所述多功能射频测试座用 于射频性能测试时，该中心导体为射频性能测试点，用于输出射频测试信号，该基座为射频 测试信号的参考地。4. 如权利要求2所述的多功能射频测试座，其特征在于：当所述多功能射频测试座用 于基带调试时，该基座为基带调试点，用于输出基带调试信号。5. -种电路板，包括射频功率放大器和基带芯片，其特征在于：该电路板还包括如权 利要求1-4任意一项所述的多功能射频测试座。6. 如权利要求5所述的电路板，其特征在于：所述射频功率放大器包括射频输出端，该 射频输出端与所述多功能射频测试座的输入端连接。7. 如权利要求5所述的电路板，其特征在于：所述基带芯片包括调试接口，该调试接口 与所述多功能射频测试座的基座连接。
【专利摘要】一种多功能射频测试座，用于射频性能测试或基带调试时的测试信号输出，包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。另，本发明还提供一种应用该多功能射频测试座的电路板。该多功能射频测试座提升了该电路板的空间利用率。
【IPC分类】H04B17/20, H04B17/10
【公开号】CN104901750
【申请号】CN201410083063
【发明人】王晓冬, 沙波
【申请人】深圳富泰宏精密工业有限公司, 群迈通讯股份有限公司
【公开日】2015年9月9日
【申请日】2014年3月7日