用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路的制作方法
【专利摘要】本发明公开了用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，包括第一比较器、第二比较器、第一电阻、第一三极管及发光二极管组，发光二极管组中包括多个并联的发光二极管，第一电阻一端连接在第一比较器的反相输入端上，其另一端与第一比较器输出端和第二比较器同相输入端之间的线路连接。第二比较器的输出端与第一三极管的基极连接，第二比较器的反相输入端与第一三极管发射极连接，第一比较器上连接直流电压输入线和触发电压输入线，发光二极管组的输出端与第一三极管的集电极连接，发光二极管组输入端连接在直流电压输入线上。采用上述结构，整体结构简单，使用元器件少，体积小，成本低，且可靠性高。
【专利说明】用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种驱动电路，具体是用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路。【背景技术】
[0002]LED具有体积小、成本低等优点，因此人们常常将LED用于一些系统的信号检测，并在系统测试时通过LED灯是否点亮来判断系统内信号是否接通。作为一款工作在低电压、直流的半导体器件，LED需在恒定的电流环境下工作。一般的系统供电时常用市电供电，若在系统检测时需LED发光，则需通过驱动电路对交流电压进行整流控制后供LED使用。由LED的电学特性可知，LED的平均正向电流随着正向电压的增大呈现大幅度的线性增长，LED在正向导通后其正向电压的变动将引起LED上电流产生很大的变化，且电流对LED结温影响很大，过大的电流很容易导致LED因结温升高而损坏。为了避免LED损坏而影响测试的准确性，现有LED恒流驱动电路存在结构复杂、元器件多、成本高且可靠性低等缺陷。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、成本低，且可靠性高的用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路。
[0004]本发明的目的主要通过以下技术方案实现:用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，包括第一比较器、第二比较器、第一电阻、第一三极管及发光二极管组，所述发光二极管组中包括多个并联的发光二极管，所述第一比较器的输出端与第二比较器的同相输入端连接，所述第一电阻一端连接在第一比较器的反相输入端上，其另一端与第一比较器输出端和第二比较器同相输入端之间的线路连接，所述第二比较器的输出端与第一三极管的基极连接，第二比较器的反相输入端与第一三极管发射极连接，第一比较器上连接直流电压输入线，第一比较器同相输入端上连接有触发电压输入线，所述发光二极管组的输出端与第一三极管的集电极连接，发光二极管组的输入端连接在直流电压输入线上。直流电压输入线具体连接在第一比较器的正向电压输入端上，本发明在应用时，直流电压输入线外接直流电源，触发电压输入线外接整流转换后的系统供电电压。
[0005]用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，还包括第二电阻和第三电阻，所述第二电阻一端连接在第一比较器反相输入端与第一电阻之间的线路上，其另一端接地；所述第二电阻一端连接第二比较器反相输入端与第一三极管发射极之间的线路上，其另一端接地。
[0006]所述第一电阻为可调电阻。
[0007]所述第一三极管为NPN型三极管。
[0008]作为优选，所述发光二极管组包括三个并联的发光二极管。
[0009]与现有技术相比，本发明具有以下有益效果:(I)本发明包括第一比较器、第二比较器、第一电阻、第一三极管及发光二极管组，整体结构简单，便于实现，所用元器件少，成本低，其中，第一比较器上连接直流电压输入线，第一比较器同相输入端上连接有触发电压输入线，本发明用于系统测试时，通过待测系统的电压作为本发明的触发电压，直流电压输入线上输入的直流电压才作为发光二极管的供电电压，使发光二极管发光的供电电压稳定，从而不会因发光二极管上电压变动而导致发光二极管损坏，提高了本发明应用时的可靠性。
[0010](2)本发明的发光二极管组包括多个并联的发光二极管，如此，本发明在应用时能避免单个发光二极管损坏而造成的误判，进一步提高了本发明应用时的可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为本发明实施例的结构示意图。
[0012]附图中附图标记所对应的名称为:A1—第一比较器，A2—第二比较器，Rl—第一电阻，R2—第二电阻，R3—第三电阻，Ql—第一三极管，LEDl—第一发光二极管，LED2—第二发光二极管，LED3—第三发光二极管，I一触发电压输入线，2—直流电压输入线。
【具体实施方式】
[0013]下面结合实施例及附图对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不限于此。
[0014]实施例:
如图1所示，用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，包括第一比较器Al、第二比较器A2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一三极管Ql及发光二极管组，第一电阻Rl为可调电阻，第一三极管Ql为NPN型三极管，发光二极管组包括三个并联的发光二极管，三个二极管分别为第一发光二极管LED1、第二发光二极管LED2及第三发光二极管LED3。第一比较器Al的输出端与第二比较器A2的同相输入端连接,第一电阻Rl —端连接在第一比较器Al的反相输入端上,其另一端与第一比较器Al输出端和第二比较器A2同相输入端之间的线路连接。第二比较器A2的输出端与第一三极管Ql的基极连接，第二比较器A2的反相输入端与第一三极管Ql发射极连接，第一比较器Al上连接用于外接直流电源的直流电压输入线2，第一比较器Al同相输入端上连接有触发电压输入线I，触发电压输入线I用于接收待测试系统整流后的电压输入。发光二极管组的输出端与第一三极管Ql的集电极连接，发光二极管组输入端连接在直流电压输入线2上。作为优选，本实施例中第一比较器Al和第二比较器A2均采用LM358。
[0015]第二电阻R2—端连接在第一比较器Al反相输入端与第一电阻Rl之间的线路上，其相对连接第一比较器Al反相输入端和第一电阻Rl之间的线路端的另一端接地。第二电阻R2 —端连接第二比较器A2反相输入端与第一三极管Ql发射极之间的线路上，其相对连接第二比较器A2反相输入端和第一三极管Ql发射极之间的线路端的另一端接地。
[0016]如上所述，则能很好的实现本发明。
【权利要求】
1.用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，其特征在于:包括第一比较器(Al)、第二比较器(A2)、第一电阻(R1)、第一三极管(Ql)及发光二极管组，所述发光二极管组中包括多个并联的发光二极管，所述第一比较器(Al)的输出端与第二比较器(A2)的同相输入端连接，所述第一电阻(Rl) —端连接在第一比较器(Al)的反相输入端上，其另一端与第一比较器(Al)输出端和第二比较器(A2)同相输入端之间的线路连接，所述第二比较器(A2)的输出端与第一三极管(Ql)的基极连接，第二比较器(A2)的反相输入端与第一三极管(Ql)发射极连接，第一比较器(Al)上连接直流电压输入线(2)，第一比较器(Al)同相输入端上连接有触发电压输入线(1)，所述发光二极管组的输出端与第一三极管(Ql)的集电极连接，发光二极管组的输入端连接在直流电压输入线(2 )上。
2.根据权利要求1所述的用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，其特征在于:还包括第二电阻(R2 )和第三电阻(R3 )，所述第二电阻(R2 ) —端连接在第一比较器(AI)反相输入端与第一电阻(Rl)之间的线路上，其另一端接地；所述第二电阻(R2)—端连接第二比较器(A2)反相输入端与第一三极管(Ql)发射极之间的线路上，其另一端接地。
3.根据权利要求1所述的用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，其特征在于:所述第一电阻(Rl)为可调电阻。
4.根据权利要求1所述的用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，其特征在于:所述第一三极管(Ql)为NPN型三极管。
5.根据权利要求1?4所述的任一种用于系统测试中发光二极管的恒流驱动电路，其特征在于:所述发光二极管组包括三个并联的发光二极管。
【文档编号】H05B37/02GK103533699SQ201210225641
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2012年7月3日 优先权日:2012年7月3日
【发明者】曾维亮 申请人:成都市宏山科技有限公司