技术编号：10441389
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着光学技术的发展，红外成像光学系统在航天、军事、医学等方面获得了越来越多的应用。在红外制冷探测器中，杂散辐射会导致系统的像对比度降低、丢失目标高频信号以及色彩失真等，从而影响探测器的空间探测距离及分辨能力。因此，对于高精度红外制冷探测器而言，杂散辐射的抑制就显得尤为关键。在红外制冷探测器中，由于探测的是红外辐射，探测器在接收辐射时，目标以外的区域都会辐射能量，尤其是冷光阑外部未被制冷的金属件，因而会对探测器造成干扰。为了避免这类问题，通常会在探测器芯片前...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。