技术编号：10623937
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在现有的集成电路功耗测试技术中，一种功耗测试方法包括采用毫欧级电阻串联到电源通路上，随后使用万用表测试两端电压以进行电流及功耗计算；这种方法的缺陷在于使用手动测量的方法导致的工作繁杂，同时容易引入人为误差。另一种功耗测试方法为采用数字电压源和电流表配合搭建自动测试系统；这种方法多用于整机测试，该方法的问题在于由于集成电路的供电电压种类较多，所以需要使用很多电压表、电流表以及纷繁杂乱的接线，从而导致测试成本的提高。此外，还有一种功耗测试方法为使用现有中唯一一...
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