技术编号:10658365
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 对于高速电子装置而言,已经使电子装置中的半导体器件小型化。提出FinFET作 为半导体小型化技术的一个示例。在FinFET中,栅极可形成在从衬底突出的鳍上,以使得鳍 用作三维沟道。发明内容 本公开涉及一种具有提高的集成密度和性能的集成电路器件。 本公开涉及一种制造集成电路器件的方法。 根据示例实施例,一种集成电路器件包括衬底、在衬底上彼此间隔开的第一鳍式 有源区域和第二鳍式有源区域、衬底上的第一栅线和第二栅线、第一鳍式有源区域上的第 一接触结构以及第二鳍...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。