技术编号：10693880
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于检测样品中的分析物的设备，包括包含多个像素的阵列，各像素包括纳米链，该纳米链包含第一纳米结构、第二纳米结构和第三纳米结构，其中第一纳米结构的尺寸大于第二纳米结构的尺寸，且第二纳米结构的尺寸大于第三纳米结构的尺寸，且其中该第一纳米结构、第二纳米结构和第三纳米结构被置于基底上使得当该纳米链被能量激发时，第二纳米结构和第三纳米结构之间的光场强于第一纳米结构和第二纳米结构之间的光场，其中该阵列可被配置为接收样品；和设置为从该阵列的多个像素收集光谱数据的检测器。...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。