技术编号：11118243
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片加工设备，尤其是SOT外形集成电路芯片测试分选装置。背景技术随着微型集成电路芯片应用领域的扩大，芯片种类的增多，对芯片的检测也成为一项重要工作，由于微型芯片（SOT外形集成电路芯片）的体积很小，给自动化测试工作时的传送、定位造成一定困难，直接影响了芯片检测效率，如何设计良好的自动化检测设备以解决这些问题，是一个研究方向。发明内容本发明提出SOT外形集成电路芯片测试分选装置，针对微小型芯片进行优化，能高效地对微型芯片进行检测。本发明采用以下技术方案。SOT外形集成电路芯片测试分选装置...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。