技术编号：11232533
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及位置测量系统，尤其涉及一种磁栅尺数显系统。背景技术随着数控技术的发展，对位置测量系统的精度和实时性要求越来越高。在数控系统的位移测量中，使用较为广泛的位移传感器是光栅尺和磁栅尺，都可用作直线位移或角位移检测。目前，相较于光栅尺，磁栅尺读数头是全密封设计，具有测量范围长、分辨率范围大、响应快等特点，同时具有较强的抗振动和抗冲击能力，可用在较恶劣的环境下使用，而受其分辨率和位移的极限速度的影响，数显表的刷新频率和测量的精度以及系统的实时性都有较大的限制，对测量工作人员造成不便。发明内容本发...
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