技术编号：11382568
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子器件测试技术领域，尤其涉及一种电子器件恒温测试装置。背景技术为了确保电子器件的抗老化性能，在出厂前均需要进行恒温测试，现有的恒温测试大都采用简单的恒温箱进行，而现有的恒温箱虽然可以在一定范围内实现恒温控制，但是，由于其加热源较为集中，只能用于小批量电子器件的恒温测试，对于大批量电子器件的测试则容易出现局部高温或者局部低温的情况，影响测试精度，因此，开发设计一种能够适用于大批量电子器件恒温测试的装置是本领域急需解决的问题。实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电子器件...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。