技术编号：11552758
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及半导体器件，具体的说是一种服务器内存高温测试系统。背景技术机器在使用过程中容易产生大量的热量，并在机箱内部形成一个高温环境，内存在特殊环境中使用，会出现很多常温下不易发现的故障，这些故障都会暴露出整台机器的质量问题；针对内存的测试，往往是在常温下进行的，测试温度无法与机器运转时产生的温度对比，所以隐患很难被发现。实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种服务器内存高温测试系统。本实用新型是通过下述技术方案解决上述技术问题的：一种服务器内存高温测试系统，包括：操作...
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