技术编号：11620726
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例总体涉及半导体领域，更具体地，涉及用于布局相关变动分析的系统。背景技术被归类为数字、模拟、或混合信号的现代集成电路(IntegratedCircuit，IC)提供复杂的功能。单个集成电路包括数百万个或数十亿个晶体管，所述晶体管中的每一个晶体管接通及断开以使微量电流传播通过集成电路中的各种路径。在集成电路制造之前的设计阶段，设计者会针对集成电路中的每一晶体管指定一组目标工艺参数，所述目标工艺参数例如包括栅极长度、电子迁移率及电压阈值。发明内容本发明提供了一种用于布局相关变动分析的系统，...
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请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。