技术编号:11725074
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及到电子技术领域,特别是涉及到半导体器件故障检测的装置。背景技术半导体器件对导通时的电流上升率敏感,尤其是GTO、GCT、IGCT等器件对导通时的电流上升率更加敏感。为了限制半导体器件导通时的电流上升率,公知的做法是在半导体回路中串联电流上升率限制电抗器。当半导体器件过流、短路、直通情况发生时,需要迅速将过流、短路、直通情况进行检测和判断,进而控制能量有序泄放,有效防止故障扩大。快速、准确的检测和判断半导体过流、短路、直通情况是进行产品整体保护的关键点。现在通用的检测方法具有很大局限...
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