技术编号：11861489
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光电耦合器性能测试技术，尤其涉及一种能对光电耦合器进行电老炼试验和参数测试的测试系统。背景技术光电耦合器是一种应用十分广泛的器件，光电耦合器制作完成后，需要对光电耦合器的性能参数进行量化评价，以筛选出不合格产品，保证产品质量；筛选过程一般通过电老炼试验和参数测试两个项目来完成。现有技术中，通常采用两套独立的装置来分别进行电老炼试验和参数测试，具体操作时，一般先将光电耦合器安装在电老炼平台上进行电老炼试验，电老炼试验完成后，再将光电耦合器取下并安装在参数检测装置上进行参数测试；由于同...
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