技术编号：11929109
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微电子技术领域，具体而言，涉及一种集成式半导体功率开关器件。背景技术半导体功率器件构成的开关管是现代功率变换器的核心，半导体功率器件的稳定性和可靠性对整个功率变换器系统的可靠性有至关重要的影响，因此提高半导体器件的稳定性和可靠性有重要意义。过流损坏是半导体功率开关的一种常见失效模式，通常发生在短路、过载或者其它一些异常情况下。例如，BOOST变换器中，负载加重导致电感饱和，电感电流急剧增加，会导致半导体功率开关过流损坏。半导体功率开关的过流损坏常常会引起功率变换器系统中其它器件的损坏，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。