技术编号：1203270
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线成像装置和X射线成像方法。背景技术使用放射线的非破坏性测试方法已经并且正被广泛用于从工业到医疗应用的各种领域中。X射线例如是具有约Ipm到10nm(10_12 10_8m)的波长的电磁波。具有短波长(约2keV )的X射线被称为硬X射线，而具有长波长(约0. IkeV 约2keV)的X射线被称为软X射线。被设计为通过使用X射线的高透射率利用相对于X射线的吸收功率的差异的吸收衬度技术可获得诸如钢材中的内部裂纹的检测和包括手提行李安全检查的安全...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。