技术编号：12116696
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测量技术领域，具体涉及一种利用涡流相位法的非铁磁性金属上非铁磁性金属涂镀层厚度的测量方法。背景技术基体金属涂镀有薄涂层时，测量涂镀层的厚度是非常重要的。涂镀层的电导率与基体金属明显不同时，比如基体金属和涂镀层金属两者中，其中一种金属的电导率至少是另外一种金属的电导率的1.5倍时，涂镀层厚度的测量是用一般方法进行的，例如相敏涡流方法。但在涂镀某些基体金属时，基体与涂镀层金属电导率只有轻微的差别，例如基体金属和涂镀层金属两者中，其中一种金属的电导率小于或等于另外一种金属电导率的1.5倍时，...
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