技术编号：12401090
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种CM/EPDM共混胶单相刻蚀的方法及提高表征橡胶共混物微观结构时分辨率的方法。背景技术表征两种橡胶共混物微观结构的方法通常有扫描电镜、透射电镜、原子力显微镜和相差显微镜等方式，应用最多的是扫描电镜和透射电镜。相比于扫描电镜，透射电镜要求共混物中的两相有足够大的衬度差以便观察，而且对于固体样品需要采用超薄切片，制样水平直接影响测试结果。采用透射电镜对微观相结构进行观察时通常采用染色法对共混物中的一相进行染色，从而提高称度来提高分辨率，常用的染色剂有四氧化锇和四氧化钌。由于这两种染色剂...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。