技术编号：12446810
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种低温温区高精度恒温试验腔。背景技术在航空航天、化工冶金、电子电工、质检计量等行业，需在低温恒温环境下贮存和使用各种电子元件。然而在超低温环境下，测量设备零部件及材料特性会发生改变，因此有必要研究不同低温环境温度对测量元件的影响。但由于低温测量温度受热易波动，会影响测量元件的测量精度，因此需要设计一种高精度的低温温区恒温试验腔解决上述问题。发明内容本发明的目的是提供一种高精度的低温温区恒温试验腔，解决低温恒温试验腔温度波动，导致测量元件测量误差大的技术问题。本发明采用的技术方案是：一...
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