技术编号：12451837
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于材料结构与性能的中子衍射原位测量技术领域，具体涉及一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置。背景技术内应力起源于材料内部不同区域或相的错配性/非相容性。从材料合成到工程装备的每一个环节都可能引入内应力。由于是外加负荷撤销后的残留作用，也被称为残余应力。理解和控制残余应力是工程材料研发及应用的先决条件。中子衍射应力分析技术同时面向工程应用和基础研究。该技术同X射线分析方法类似，均是根据衍射峰的位移计算应变，然后转化为应力结果。对比后者，中子在穿透深度以及区分相邻元素等方面具有明显优势，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。