技术编号：12620835
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体涉及集成电路，更具体地，涉及多路复用锁存电路。背景技术在集成电路中，具有许多独立的器件，诸如，一个或多个存储器、模数转换器、处理器和其他类似器件。各个器件不能在制造期间或制造之后被测试。在小工艺节点(例如，22nm)中，各个器件有时不经过晶圆探针进行测试，因为在一些应用中在这些小工艺节点处可用的这种探针太过脆弱。如此，在一些应用中，各个器件的晶圆级测试是不太经济的，而是优选芯片上测试。为了执行芯片上测试，集成电路的各个器件可以包括多路复用器和锁存器来选择数据源以执行不同的操作。发明内容...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。