技术编号:1265731
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明描述了一种用于选择辐射形状滤波器的方法,所述辐射形状滤波器改变成像系统(10)的X射线源(100,100a,100b)的X射线辐射(R,R')的强度的空间分布和/或光谱,其中采集检查对象(O)的解剖测量数据(T,B),从所述解剖测量数据应当在下一个步骤中借助成像系统(10)进行成像,并且基于采集的检查对象(O)的解剖测量数据(T,B)自动地进行辐射形状滤波器的选择。此外本发明涉及一种成像系统(10),在所述成像系统中在使用按照本发明的方法的条件下进行...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。