技术编号:12828602
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种流水线ADC的第一级电容校准方法。背景技术目前,高速高精度流水线ADC是模拟集成电路的重要组成部分。由于制造工艺的原因,ADC中的采样电容总是存在不匹配的问题,采样电容的不匹配会造成ADC的线性度变差,在频谱上表现为无杂散动态范围(SFDR,SpuriousFreeDynamicrange)变差。虽然国内外有提出前台校准电容的算法,比如通过force比较器的输出获得积分非线性(INL)的跳变,但是这些方法需要增加额外的硬件电路,增加电路复杂度和芯片面积。提高SFDR的校准算法有动态...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。