技术编号:1294785
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于自动确定计算机断层成像系统(10)的多个X射线源(100a,100b)的X射线辐射(R1,R2)的谱分布的方法。在此首先确定X射线源(100a,100b)的起始控制参数(ANORM,UNORM),其确定X射线辐射的剂量和谱分布。然后基于X射线辐射(R1,R2)通过检查对象(O)的预计衰减,从起始控制参数(ANORM,UNORM)出发,确定特定于检查对象的基本控制参数(APAT)。然后基于X射线辐射(R1,R2)通过检查对象(O)的预计衰减...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。