技术编号:13370159
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及揭膜技术领域,更为具体地,涉及一种揭膜工装。背景技术为方便对产品的性能检测,分析影响产品性能的不良因素,需要对产品进行拆分,以便检测人员对产品内部的各组件进行分析。例如,在分析MEMS麦克风的振膜时,需要把振膜一侧的背极揭下来,从而分析振膜和背极之间的污染物,根据不良因素对产品结构及性能进行优化、改进。目前,背极的去除方法,主要是人工使用双面胶,直接揭掉MEMS麦克风的背极,因为振膜和背极之间的距离很小,在无法掌握力度的情况下,很容易造成振膜破损,撕膜的成功率低。可知,针对揭膜精度...
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