技术编号:13422362
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明的实施方式和实施例涉及集成电路,并且更具体地涉及保护集成电路免受故障注入攻击(根据本领域技术人员所熟知的术语DFA,“差分故障分析”),并且最具体地免受借助于外部电磁辐射进行的故障注入攻击。背景技术在本领域技术人员已知的攻击类型中,可以列举通过探测进行的攻击,这要求将探针插入电路的互连部分以便读取由各个部件发射的电信号,并且然后对它们进行分析以便获得关于操作电路的信息。为了保护自身免受这种类型的攻击,常规地可能将保护屏蔽层放置在电路的互连部分的上部区域中。所述屏蔽层常规地包括金属迹线,使电...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。